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地球化學(xué)樣品檢測(cè)項(xiàng)目標(biāo)準(zhǔn)及流程是什么？實(shí)驗(yàn)室可依據(jù)巖石礦物分析《巖石礦物分析》（第四版）第四分冊(cè) 第84章 地球化學(xué)調(diào)查樣品分析.84.2.5電感耦合等離子體發(fā)射光譜法測(cè)定27種主、次、痕量元素檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)規(guī)范中的試驗(yàn)方法，對(duì)地球化學(xué)樣品*氧化鉀檢測(cè)等項(xiàng)目進(jìn)行準(zhǔn)確測(cè)試。

檢測(cè)對(duì)象

地球化學(xué)樣品

檢測(cè)項(xiàng)目

*氧化鉀檢測(cè)

檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)

巖石礦物分析《巖石礦物分析》（第四版）第四分冊(cè) 第84章 地球化學(xué)調(diào)查樣品分析.84.2.5電感耦合等離子體發(fā)射光譜法測(cè)定27種主、次、痕量元素檢測(cè)

相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)

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《GB/T 19466.1-2004》塑料差示掃描量熱法（DSC） 第1部分:通則 GB/T 19466.1-2004

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《IEC 62321-5:2013》電子電氣產(chǎn)品中特定物質(zhì)的測(cè)定--第5部分:原子吸收光譜法、原子熒光法、電感耦合等離子體光譜法和電感耦合等離子體質(zhì)譜法測(cè)定聚合物和電子產(chǎn)品中鎘、鉛和鉻，金屬中鎘和鉛的含量 IEC 62321-5:2013

《IEC 62321-5:2013》電子產(chǎn)品中某些物質(zhì)的測(cè)定-第五部分：使用AAS、AFS、 ICP-OES、 ICP-MS測(cè)定聚合物和電子部件中的鎘 鉛和鉻，以及金屬中的鎘和鉛 IEC 62321-5:2013

《GB/T 19466.1-2004》塑料 差示掃描量熱法（DSC）第1部分：通則 GB/T 19466.1-2004

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檢測(cè)報(bào)告有效期

一般地球化學(xué)樣品*氧化鉀檢測(cè)報(bào)告上會(huì)標(biāo)注實(shí)驗(yàn)室收到樣品的時(shí)間、出具報(bào)告的時(shí)間，不會(huì)標(biāo)注有效期。

檢測(cè)費(fèi)用價(jià)格

需要根據(jù)檢測(cè)項(xiàng)目、樣品數(shù)量及檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)而定，請(qǐng)聯(lián)系我們確定后報(bào)價(jià)。

檢測(cè)流程步驟

檢測(cè)機(jī)構(gòu)平臺(tái)

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