檢測(cè)報(bào)告圖片

電子器件檢測(cè)報(bào)告如何辦理?電子器件檢測(cè)樣品檢測(cè)報(bào)告結(jié)果會(huì)與標(biāo)準(zhǔn)中要求對(duì)比，在報(bào)告中體現(xiàn)產(chǎn)品質(zhì)量。第三方檢測(cè)機(jī)構(gòu)可提供電子器件檢測(cè)報(bào)告辦理，工程師一對(duì)一服務(wù)，根據(jù)需求選擇對(duì)應(yīng)檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)及項(xiàng)目，制定檢測(cè)方案后安排實(shí)驗(yàn)室寄樣檢測(cè)。電子器件檢測(cè)服務(wù)

第三方檢測(cè)機(jī)構(gòu)支持寄樣、上門檢測(cè)，主要為公司、企業(yè)、事業(yè)單位、個(gè)體商戶、高?？蒲刑峁悠窓z測(cè)服務(wù)，報(bào)告CMA/CNAS/CAL資質(zhì)，真實(shí)有效。

檢測(cè)費(fèi)用：根據(jù)樣品實(shí)際檢測(cè)項(xiàng)目決定，詳情歡迎來電咨詢。

電子器件檢測(cè)項(xiàng)目：

檢測(cè)項(xiàng)目：

SEM檢查、X射線檢查、X射線照相、內(nèi)部檢查、內(nèi)部目檢、剪切強(qiáng)度、可焊性試驗(yàn)、聲學(xué)掃描顯微鏡檢查、聲學(xué)檢查、外部檢查、外部目檢、導(dǎo)電陽*絲試驗(yàn)、封裝外部清洗、開封、彎曲試驗(yàn)、掃描電子顯微技術(shù)和電子束顯微分析、扭力檢測(cè)、整個(gè)器件的剖面、斷裂強(qiáng)度、樣品剖面制備、溶劑抵抗、潮濕敏感度檢測(cè)、玻璃鈍化層完整性檢查、電分配、電子探針和X射線能譜定量分析、電子顯微技術(shù)、電遷移檢測(cè)、端子強(qiáng)度、絕緣電阻檢測(cè)、耐壓檢測(cè)、耐焊接熱、錫須生長(zhǎng)、鍵合強(qiáng)度、阻燃試驗(yàn)、附加電氣試驗(yàn)、靜電放電、預(yù)處理、芯片粘接的超聲檢測(cè)、加電溫度循環(huán)試驗(yàn)、振動(dòng)和掃頻試驗(yàn)、溫度偏置工作壽命試驗(yàn)、溫度沖擊試驗(yàn)、溫度循環(huán)試驗(yàn)、溫度濕度偏置循環(huán)壽命檢測(cè)、鹽霧試驗(yàn)、穩(wěn)態(tài)濕熱偏置壽命試驗(yàn)、高加速壽命試驗(yàn)、高加速無偏置壽命試驗(yàn)、高加速蒸煮試驗(yàn)、高溫存儲(chǔ)壽命試驗(yàn)、元素含量(鉛、鎘、鉻、鋇、硒、銻、汞、砷、鎳、鈹、鉍、銅、鐵、鎂、錳、磷、錫、鈦、鋅、鈣、銀、鋁、鈷、 鉬、 硅、鈉、鉀、硼、鎵、鈀、鋰、鉻、鍶、銫、釷、鈾)、溫度濕度偏置與表面凝露循環(huán)壽命檢測(cè)、密封、溫度循環(huán)、穩(wěn)定性烘焙、粒子碰撞噪聲檢檢測(cè)驗(yàn)、老煉試驗(yàn)、鹽霧、耐濕、內(nèi)部目檢（單片）、內(nèi)部目檢（混合電路）、恒定加速度、無源元件的目檢、破壞性物理分析（DPA）的內(nèi)部目檢、芯片剪切強(qiáng)度、鍵合強(qiáng)度（破壞性鍵合拉力試驗(yàn)）、高溫電老煉、低氣壓（高空工作）、溫度循環(huán)（空氣介質(zhì)）、熱沖擊（液體介質(zhì)）、穩(wěn)態(tài)壽命、絕緣電阻、耐濕試驗(yàn)、振動(dòng)、間歇壽命、檢漏、電功率老化、X射線無損檢測(cè)、塑封器件的超聲掃描檢測(cè)、引線牢固性、機(jī)械沖擊、熱沖擊、密封-粗檢漏、密封-細(xì)檢漏、掃頻振動(dòng)、低氣壓試驗(yàn)、振動(dòng)噪聲、振動(dòng)疲勞、穩(wěn)定性烘焙試驗(yàn)

電子器件檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)：

檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)：

1、IPC TM-650 2.6.3.1E：2007 阻焊層防潮性絕緣電阻檢測(cè)試驗(yàn)方法手冊(cè)

2、JESD22-A102E:2015 高加速蒸煮試驗(yàn)

3、GJB548B-2005 微電子器件試驗(yàn)方法和程序 方法1014.2

4、MIL-STD- 202H-2015 電子電器部件檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn) MIL-STD-202H-2015

5、AEC-Q200-006A-2010 端子強(qiáng)度（SMD）-剪切應(yīng)力檢測(cè)

6、GJB128A-97 半導(dǎo)體分立器件試驗(yàn)方法

7、GJB 1187A-2001 射線檢驗(yàn)

8、JESD 22-A101D.01:2021 穩(wěn)態(tài)濕熱偏置壽命試驗(yàn) JESD22-A101D.01:2021

9、JEDEC JESD 22-A121A-2008 錫及錫合金表面錫須生長(zhǎng)測(cè)量 JEDEC JESD22-A121A-2008(R2014)

10、GJB548B-2005 微電子器件試驗(yàn)方法和程序 方法 2019.2

11、JESD22-A113h-2016 可靠性試驗(yàn)之前不密閉表面安裝設(shè)備的預(yù)處理

12、MIL-STD-883K-2018 微電路試驗(yàn)方法標(biāo)準(zhǔn) 方法3015.9

13、ISO/DIS 10605 道路車輛 靜電放電引起的電干擾的試驗(yàn)方法

14、IPC/JEDEC J-STD-020E:2015 非密封固態(tài)表面安裝器件的濕度/回流敏感度分類

15、JESD22-A108F:2017 溫度偏置工作壽命試驗(yàn)

16、AEC Q200-001B-2010 阻燃檢測(cè)

17、JESD22-A107C:2013 鹽霧試驗(yàn)

18、EIA 469E-2017 高可靠性陶瓷整體電容器破壞性物理分析的試驗(yàn)方法 EIA 469E-2017

19、JESD 22-A100E:2020 溫度濕度偏置與表面凝露循環(huán)壽命檢測(cè) JESD22-A100E:2020

20、IPC TM-650 2.6.3.4A：2003 絕緣保護(hù)膜防潮性與絕緣電阻檢測(cè)試驗(yàn)方法手冊(cè)

百檢檢測(cè)報(bào)告辦理流程：

1、通過網(wǎng)站聯(lián)系方式與客服進(jìn)行溝通

2、確認(rèn)需求后，推薦并制訂方案，隨后進(jìn)行報(bào)價(jià)

3、確認(rèn)方案及報(bào)價(jià)后，安排樣品郵寄至指定實(shí)驗(yàn)室進(jìn)行檢測(cè)

4、樣品寄送到實(shí)驗(yàn)室后，等待實(shí)驗(yàn)室檢測(cè)結(jié)果

5、實(shí)驗(yàn)室檢測(cè)完畢后出具相應(yīng)報(bào)告，如需紙質(zhì)報(bào)告則安排郵寄

在辦理期間如需加急，需要及時(shí)溝通并安排加急服務(wù)

檢測(cè)報(bào)告有什么用?

1、 入駐天貓、京東等電商平臺(tái)。

2、 進(jìn)入大型超市或賣場(chǎng)。

3、 招投標(biāo)。

4、 工程驗(yàn)收。

5、 宣傳用報(bào)告。

6、 供應(yīng)商要求。

檢測(cè)項(xiàng)目及檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)相關(guān)信息就介紹到這里。第三方檢測(cè)機(jī)構(gòu)期待與您的合作，詳情請(qǐng)聯(lián)系百檢客服。

檢測(cè)流程步驟

溫馨提示：《電子器件檢測(cè)項(xiàng)目及標(biāo)準(zhǔn)列舉》內(nèi)容僅為部分列舉供參考使用，百檢網(wǎng)匯集眾多CNAS、CMA、CAL等資質(zhì)的檢測(cè)機(jī)構(gòu)遍布全國(guó)，更多檢測(cè)需求請(qǐng)咨詢客服。