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微電子及半導體器件檢測項目及標準列舉

檢測報告圖片

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微電子及半導體器件檢測需要根據(jù)標準內(nèi)指定項目、方法進行,GB國標、行標、外標、企標、地方標準。微電子及半導體器件檢測項目和標準是什么?第三方檢測機構(gòu)提供微電子及半導體器件檢測一站式服務,工程師一對一服務,確認需求、推薦方案、寄樣送檢、出具報告、售后服務,3-15工作日出具報告,歡迎咨詢微電子及半導體器件檢測周期3-15個工作日,可加急(特殊項目除外),歡迎咨詢。

檢測周期:常規(guī)樣品、項目3-15個工作日,可加急。特殊樣品、項目除外,如功效類檢測等。

寄樣方式:快遞或上門檢測

檢測費用:依據(jù)項目、標準決定。

服務對象:企業(yè)、公司、單位、個體商戶、高校,非維權糾紛類檢測

微電子及半導體器件檢測項目:

檢測項目:

PIND、X射線照相、低氣壓試驗、內(nèi)部目檢和結(jié)構(gòu)檢查、剪切強度、可焊性、外部目檢、密封、恒定加速度、掃頻振動、機械沖擊、溫度循環(huán)、熱沖擊、物理尺寸、穩(wěn)定性烘焙、穩(wěn)態(tài)壽命、老煉、耐濕、耐溶劑性、鍵合強度、隨機振動

微電子及半導體器件檢測標準:

檢測標準:

1、GJB 360B-2009 電子及電氣元件試驗方法 GJB 360B-2009

2、GJB 128A-1997 半導體分立器件試驗方法 2052

3、GJB 128A-1997 半導體分立器件試驗方法 GJB 128A-1997

4、GJB 360B-2009 電子及電氣元件試驗方法 208

5、GJB 548B-2005 微電子器件試驗方法和程序 GJB548B-2005

6、GJB360B-2009 電子及電氣元件試驗方法 209

7、GJB548B-2005 微電子器件試驗方法和程序 2020.1

百檢檢測流程:

1、電話溝通、確認需求;

2、推薦方案、確認報價;

3、郵寄樣品、安排檢測;

4、進度跟蹤、結(jié)果反饋;

5、出具報告、售后服務;

6、如需加急、優(yōu)先處理;

檢測報告用途:

商超入駐、電商上架、內(nèi)部品控、招投標、高??蒲械?。

檢測流程步驟

檢測流程步驟

溫馨提示:《微電子及半導體器件檢測項目及標準列舉》內(nèi)容僅為部分列舉供參考使用,百檢網(wǎng)匯集眾多CNAS、CMA、CAL等資質(zhì)的檢測機構(gòu)遍布全國,更多檢測需求請咨詢客服。

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