檢測報告圖片

半導體發(fā)光二*管芯片檢測需要根據(jù)標準內(nèi)指定項目、方法進行，GB國標、行標、外標、企標、地方標準。半導體發(fā)光二*管芯片檢測樣品檢測報告結(jié)果會與標準中要求對比，在報告中體現(xiàn)產(chǎn)品質(zhì)量。第三方檢測機構(gòu)可提供半導體發(fā)光二*管芯片檢測一站式服務，工程師一對一服務，確認需求、推薦方案、寄樣送檢、出具報告、售后服務，3-15工作日出具報告，歡迎咨詢半導體發(fā)光二*管芯片檢測服務

第三方檢測機構(gòu)支持寄樣、上門檢測，主要為公司、企業(yè)、事業(yè)單位、個體商戶、高校科研提供樣品檢測服務，報告CMA/CNAS/CAL資質(zhì)，真實有效。

檢測費用：根據(jù)樣品實際檢測項目決定，詳情歡迎來電咨詢。

半導體發(fā)光二*管芯片檢測項目：

檢測項目：

主波長和刺激純度、人體模式的經(jīng)放電敏感性、光通量和光通量效率、反向電壓、峰值發(fā)射波長、光譜寬帶、相對光譜功率分布和重心波長、機器模式的靜放電敏感性、結(jié)溫、色差、輻射通量和輻射效率、色品坐標、反向電流、正向電壓、開關時間、人體模式的靜電放電敏感性檢測、機器模式的靜電放電敏感性檢測、發(fā)光強度、峰值發(fā)射波長、光譜帶寬、相對光譜功率分布和重心波長、芯片電氣連接〔顏色特性測定方法〕、總電容、人體模式的靜放電敏感性、主波長、光通量或光功率、電耐久性、靜電敏感電壓、標志、材料、結(jié)構(gòu)和工藝、光、電、色度及熱特性、靜電放電敏感度試驗、環(huán)境適應性、外觀質(zhì)量、靜電放電敏感度、光通量、外形尺寸

半導體發(fā)光二*管芯片檢測標準：

檢測標準：

1、SJ/T 11398-2009 功率半導體發(fā)光二*管芯片技術規(guī)范

2、SJ/T11399-2009 半導體發(fā)光二*管芯片檢測方法 6.4

3、SJ/T11398-2009 功率半導體發(fā)光二*管芯片技術規(guī)范 B組B4分組

4、SJ/T 11399-2009 半導體發(fā)光二*管芯片檢測方法 SJ/T 11399-2009

5、GB/T 4937-1995

6、SJ/T 11399-2009 半導體發(fā)光二*管芯片檢測方法 8.3

百檢檢測流程：

1、電話溝通、確認需求;

2、推薦方案、確認報價;

3、郵寄樣品、安排檢測;

4、進度跟蹤、結(jié)果反饋;

5、出具報告、售后服務;

6、如需加急、優(yōu)先處理;

百檢檢測報告用途

銷售：出具檢測報告，提成產(chǎn)品競爭力。

研發(fā)：縮短研發(fā)周期，降低研發(fā)成本。

質(zhì)量：判定原料質(zhì)量，減少生產(chǎn)風險。

診斷：找出問題根源，改善產(chǎn)品質(zhì)量。

科研：定制完整方案，提供原始數(shù)據(jù)。

競標：報告認可度高，提高競標成功率。

檢測流程步驟

溫馨提示：《半導體發(fā)光二極管芯片檢測項目有哪些 標準是什么》內(nèi)容僅為部分列舉供參考使用，百檢網(wǎng)匯集眾多CNAS、CMA、CAL等資質(zhì)的檢測機構(gòu)遍布全國，更多檢測需求請咨詢客服。