檢測報(bào)告圖片

CMOS集成電路檢測報(bào)告如何辦理?CMOS集成電路檢測樣品檢測報(bào)告結(jié)果會與標(biāo)準(zhǔn)中要求對比，在報(bào)告中體現(xiàn)產(chǎn)品質(zhì)量。第三方檢測機(jī)構(gòu)可提供CMOS集成電路檢測報(bào)告辦理，工程師一對一服務(wù)，根據(jù)需求選擇對應(yīng)檢測標(biāo)準(zhǔn)及項(xiàng)目，制定檢測方案后安排實(shí)驗(yàn)室寄樣檢測。CMOS集成電路檢測服務(wù)

檢測周期：常規(guī)3-15個(gè)工作日，可加急（特殊樣品除外）

報(bào)告樣式：電子版、紙質(zhì)，中、英文均可。

報(bào)告資質(zhì)：CMA、CNAS

CMOS集成電路檢測項(xiàng)目：

檢測項(xiàng)目：

A/D互調(diào)失真、A/D信噪失真比、A/D信噪比、A/D功耗、A/D增益誤差、A/D增益誤差溫度系數(shù)、A/D失碼、A/D微分線性誤差、A/D微分線性誤差溫度系數(shù)、A/D總諧波失真、A/D數(shù)字輸入低電平電壓、A/D數(shù)字輸入低電平電流、A/D數(shù)字輸入高電平電壓、A/D數(shù)字輸入高電平電流、A/D數(shù)字輸出低電平電壓、A/D數(shù)字輸出高電平電壓、A/D無失真動態(tài)范圍、A/D*低工作頻率、A/D*高工作頻率、A/D有效位數(shù)、A/D線性誤差、A/D線性誤差溫度系數(shù)、A/D轉(zhuǎn)換時(shí)間、A/D零點(diǎn)誤差、A/D零點(diǎn)誤差溫度系數(shù)、D/A互調(diào)失真、D/A信噪失真比、D/A信噪比、D/A功耗、D/A基準(zhǔn)電壓、D/A增益誤差、D/A增益誤差溫度系數(shù)、D/A失調(diào)誤差、D/A失調(diào)誤差溫度系數(shù)、D/A建立時(shí)間、D/A微分線性誤差、D/A微分線性誤差溫度系數(shù)、D/A總諧波失真、D/A數(shù)字輸入低電平電壓、D/A數(shù)字輸入低電平電流、D/A數(shù)字輸入高電平電壓、D/A數(shù)字輸入高電平電流、D/A無失真動態(tài)范圍、D/A有效位數(shù)、D/A電源電壓靈敏度、D/A線性誤差、D/A線性誤差溫度系數(shù)、信號增益、噪聲系數(shù)、共模抑制比、共模輸入電壓范圍、動態(tài)條件下的總電源電流、基準(zhǔn)電壓、導(dǎo)通時(shí)間和截止時(shí)間、差分放大器的輸出電壓范圍（僅直流檢測）、差分輸入線性放大器的輸入失調(diào)電壓和單端輸入放大器的偏置電壓、開環(huán)性能（增益，帶寬，失真，動態(tài)范圍）、開環(huán)電壓放大倍數(shù)、截止態(tài)和導(dǎo)通態(tài)電流（對模擬信號開關(guān)電路）、截止頻率、數(shù)字集成電路的功能檢驗(yàn)方法、電源電壓抑制比、電源電流、短路電流、自動增益控制范圍、表征電路的時(shí)間、調(diào)整輸出電壓的溫度系數(shù)、輸入低電平電流、輸入偏置電流溫度系數(shù)、輸入失調(diào)電壓溫度系數(shù)、輸入失調(diào)電流溫度系數(shù)、輸入箝位電壓、輸入高電平電流、輸出低電平電壓、輸出性能（功耗）、輸出電壓*大變化率、輸出短路電流、輸出高電平電壓、輸出高阻態(tài)電流、靜態(tài)導(dǎo)通電阻、靜態(tài)條件下的電源電流、（運(yùn)算放大器）短路輸出電流、輸入鉗位電壓、輸出高阻態(tài)時(shí)低電平電流、輸出高阻態(tài)時(shí)高電平電流、輸入低電平 電流、輸入高電平 電流、輸出低電平 電壓、輸出高電平 電壓、功能檢測、傳輸時(shí)間tPHL、傳輸時(shí)間tPLH、保持時(shí)間th、動態(tài)條件下的總電源電流ICC、建立時(shí)間tsu、輸入低電平電壓VIL、輸入低電平電流IIL、輸入箝位電壓VIK、輸入閾值電壓VIT+、輸入閾值電壓VIT-、輸入高電平電壓VIH、輸入高電平電流IIH、輸出低電平電壓VOL、輸出低電平電流IOL、輸出允許時(shí)間tPZH、輸出允許時(shí)間tPZL、輸出短路電流IOS、輸出禁止時(shí)間tPHZ、輸出禁止時(shí)間tPLZ、輸出高電平電壓VOH、輸出高電平電流IOH、輸出高阻態(tài)電流IOZH、輸出高阻態(tài)電流IOZL、靜態(tài)條件下的電源電流IDD、輸入低電平電流IIL、輸入高電平電流IIH、輸出低電平電壓VOL、輸出高電平電壓VOH、輸出高阻態(tài)電流IOZ、靜態(tài)條件下的電源電流IQ、輸出短路電流IOS、輸入箝位電壓VIK、輸入閾值電壓VIT+、建立時(shí)間tsu、動態(tài)條件下的總電源電流ICC、保持時(shí)間th、輸出高阻態(tài)電流IOZL、輸出高阻態(tài)電流IOZH、輸入低電平電壓VIL、輸出低電平電流IOL、靜態(tài)條件下的電源電流IDD、輸入閾值電壓VIT-、輸出高電平電流IOH、輸入高電平電壓VIH、輸入失調(diào)電流、輸入偏置電流、輸出高電平電流、輸出低電平電流、輸入低電平電壓、輸入高電平電壓、輸出低阻態(tài)時(shí)低電平電流、輸出允許時(shí)間

CMOS集成電路檢測標(biāo)準(zhǔn)：

檢測標(biāo)準(zhǔn)：

1、SJ20961-2006 集成電路A/D和D/A轉(zhuǎn)換器檢測方法的基本原理 5.2.11

2、GB/T 17574-1998 半導(dǎo)體器件 集成電路 第2部分：數(shù)字集成電路 GB/T 17574-1998

3、GB/T 17574-1998 半導(dǎo)體器件 集成電路 第2部分：數(shù)字集成電路 第Ⅳ篇第3節(jié)第1條

4、SJ/T10741-2000 半導(dǎo)體集成電路CMOS電路檢測方法的基本原理SJ/T 10741-2000第5.1、5.2、5.3、5.7、5.8、5.9、5.10、5.11、5.12、5.13、5.14、5.15、5.16條

5、GB/T 17940-2000 半導(dǎo)體器件 集成電路 第3部分：模擬集成電路 GB/T 17940-2000

6、GB/T 17940-2000 半導(dǎo)體器件 集成電路 第3部分：模擬集成電路 第Ⅳ篇第2節(jié)第12條

7、MIL-STD- 883L:2019 微電路檢測方法 MIL-STD-883L:2019

8、MIL-STD-883L:2019 微電路檢測方法 4006.1

9、GB/T17574-1998 半導(dǎo)體器件集成電路 第2部分：數(shù)字集成電路 第IV篇第2節(jié) 4

百檢檢測流程

1、咨詢工程師，提交檢測需求。

2、送樣/郵遞樣品。

3、免費(fèi)初檢，進(jìn)行報(bào)價(jià)。

4、簽訂合同和保密協(xié)議。

5、進(jìn)行方案定制、實(shí)驗(yàn)。

6、出具實(shí)驗(yàn)結(jié)果和檢測報(bào)告。

一份檢測報(bào)告有什么用?

產(chǎn)品檢測報(bào)告主要反映了產(chǎn)品各項(xiàng)指標(biāo)是否達(dá)到標(biāo)準(zhǔn)中的合格要求，能夠?yàn)槠髽I(yè)產(chǎn)品研發(fā)、投標(biāo)、電商平臺上架、商超入駐、學(xué)?？蒲刑峁┛陀^的參考。

關(guān)于檢測詳細(xì)信息可先與百檢客服聯(lián)系，后續(xù)會安排對應(yīng)工程師對接。百檢第三方檢測機(jī)構(gòu)歡迎您的咨詢，期待與您合作。

檢測流程步驟

溫馨提示：《CMOS集成電路檢測項(xiàng)目有哪些 標(biāo)準(zhǔn)是什么》內(nèi)容僅為部分列舉供參考使用，百檢網(wǎng)匯集眾多CNAS、CMA、CAL等資質(zhì)的檢測機(jī)構(gòu)遍布全國，更多檢測需求請咨詢客服。