檢測報告圖片
半導(dǎo)體集成電路TTL電路檢測需要根據(jù)標(biāo)準(zhǔn)內(nèi)指定項目、方法進行,GB國標(biāo)、行標(biāo)、外標(biāo)、企標(biāo)、地方標(biāo)準(zhǔn)。半導(dǎo)體集成電路TTL電路檢測樣品檢測報告結(jié)果會與標(biāo)準(zhǔn)中要求對比,在報告中體現(xiàn)產(chǎn)品質(zhì)量。第三方檢測機構(gòu)可提供半導(dǎo)體集成電路TTL電路檢測一站式服務(wù),工程師一對一服務(wù),確認(rèn)需求、推薦方案、寄樣送檢、出具報告、售后服務(wù),3-15工作日出具報告,歡迎咨詢半導(dǎo)體集成電路TTL電路檢測服務(wù)
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半導(dǎo)體集成電路TTL電路檢測項目:
檢測項目:
輸入低電平電流IIL、輸入鉗位電壓VIK、輸入高電平電流IIH、輸出低電平電壓VOL、輸出短路電流IOS、輸出高電平電壓VOH、輸出高阻態(tài)電流IOZ、靜態(tài)條件下的電源電流、電源電流ICC、輸入電流II、輸出低電平電源電流ICCL、輸出高電平電源電流ICCH、功能檢測(靜態(tài)檢測、動態(tài)檢測)、延遲時間、輸入鉗位電壓、輸出低電平電壓、輸出短路電流、輸出高電平電壓、輸出高阻態(tài)電流、功能檢測、電源電流、輸入低電平電流、輸入高電平電流、輸出高阻態(tài)時低電平電流IOZL、輸出高阻態(tài)時高電平電流IOZH、正向閾值電壓下的輸入電流IT+、負(fù)向閾值電壓下的輸入電流IT-、輸出低電平時電源電流ICCL、輸出高電平時電源電流ICCH、輸入低電平電壓、輸入高電平電壓、輸出高阻態(tài)時低電平電流、輸出高阻態(tài)時高電平電流、穩(wěn)定性烘焙、輸入電流、輸出低電平時電源電流、輸出高電平時電源電流、傳輸時間、功能檢測:(靜態(tài)檢測、動態(tài)檢測)、延遲時間tpd、電源電流ICC、電源電流IDD、結(jié)電容Cj、輸入低電平電壓VIL、輸入低電平電流IIL、輸入鉗位電壓VIK、輸入高電平電壓VIH、輸入高電平電流IIH、輸出低電平電壓VOL、輸出由低電平到高電平傳輸延遲時間tPLH、輸出由低電平到高阻態(tài)傳輸延遲時間tPLZ、輸出由高電平到低電平傳輸延遲時間tPHL、輸出由高電平到高阻態(tài)傳輸延遲時間tPHZ、輸出由高阻態(tài)到低電平傳輸延遲時間tPZL、輸出由高阻態(tài)到高電平傳輸延遲時間tPZH、輸出短路電流IOS、輸出高電平電壓VOH、輸出高阻態(tài)時低電平電流IOZL、輸出高阻態(tài)時高電平電流IOZH、電源電壓、輸出低電平電流、輸出高電平電流、電源電流 ICC、輸入低電平電流 IIL、輸入電流 II、輸入鉗位電壓 VIK、輸入高電平電流 IIH、輸出低電平時電源電流 ICCL、輸出低電平電壓 VOL、輸出短路電流 IOS、輸出高電平時電源電流 ICCH、輸出高電平電壓 VOH、輸出高阻態(tài)時低電平電流 IOZL、輸出高阻態(tài)時高電平電流 IOZH、工作狀態(tài)時電源電流、建立時間、輸入高電平電流/輸入低電平電流、電源電流 ICC、輸入低電平電流 IIL、輸入電流 II、輸入高電平電流 IIH、輸出低電平時電源電流 ICCL、輸出截止電流 IO(OFF)、輸出高電平時電源電流 ICCH、輸入簎位電壓、輸出低電平電壓V、輸出高阻態(tài)時高電平電流I、電源電流I、輸出高阻態(tài)時低電平電流I、輸出高電平電壓V、正向閾值電壓下的輸入電流I、輸入電流I、輸出高電平時電源電流I、輸出低電平時電源電流I、負(fù)向閾值電壓下的輸入電流I
半導(dǎo)體集成電路TTL電路檢測標(biāo)準(zhǔn):
檢測標(biāo)準(zhǔn):
1、SJ/T10735-1996 半導(dǎo)體集成電路 TTL電路檢測方法的基本原理 2.25
2、GB/T 17574-1998 半導(dǎo)體器件 集成電路 第2部分:數(shù)字集成電路 GB/T 17574-1998
3、GB/T 17574-1998 半導(dǎo)體器件集成電路第2部分:數(shù)字集成電路 第IV 篇 第3 節(jié)6
4、GB/T 17574-1998 半導(dǎo)體器件集成電路 第2部分:數(shù)字集成電路第IV篇 GB/T17574-1998
5、GB /T 17574-1998 《半導(dǎo)體集成電路第2部分:數(shù)字集成電路》 第IV篇第3節(jié)第4.3條
6、GB/T17574-1998 半導(dǎo)體器件集成電路 第2部分:數(shù)字集成電路第IV篇 方法38
7、SJ/T 10735-1996 半導(dǎo)體集成電路TTL電路檢測方法的基本原理 2.25
8、GJB548B-2005 微電子器件試驗方法和程序 方法1008.1
9、SJ/T10735-1996/ 半導(dǎo)體集成電路TTL電路檢測方法的基本原理 2.25
10、GB/T17574-1998 半導(dǎo)體集成電路第2部分:數(shù)字集成電路 IV.2.4
百檢檢測流程
1、咨詢工程師,提交檢測需求。
2、送樣/郵遞樣品。
3、免費初檢,進行報價。
4、簽訂合同和保密協(xié)議。
5、進行方案定制、實驗。
6、出具實驗結(jié)果和檢測報告。
檢測報告用途:
商超入駐、電商上架、內(nèi)部品控、招投標(biāo)、高??蒲械?。
關(guān)于檢測詳細(xì)信息可先與百檢客服聯(lián)系,后續(xù)會安排對應(yīng)工程師對接。百檢第三方檢測機構(gòu)歡迎您的咨詢,期待與您合作。
檢測流程步驟
溫馨提示:《半導(dǎo)體集成電路TTL電路檢測報告有什么用 怎么做》內(nèi)容僅為部分列舉供參考使用,百檢網(wǎng)匯集眾多CNAS、CMA、CAL等資質(zhì)的檢測機構(gòu)遍布全國,更多檢測需求請咨詢客服。