檢測報告圖片
半導體集成電路模擬開關檢測需要根據標準內指定項目、方法進行，GB國標、行標、外標、企標、地方標準。半導體集成電路模擬開關檢測項目和標準是什么?第三方檢測機構提供半導體集成電路模擬開關檢測報告辦理，工程師一對一服務，根據需求選擇對應檢測標準及項目，制定檢測方案后安排實驗室寄樣檢測。半導體集成電路模擬開關檢測服務
百檢在紡織品、絕緣工具、化妝品、食品等領域已有多年經驗，全國有多家合作實驗室。百檢始終以科學研究為主，以客戶為中心，在嚴格的程序下開展檢測分析工作，為客戶提供檢測、分析、還原等一站式服務。
半導體集成電路模擬開關檢測項目：
檢測項目：
模擬電壓工作范圍、導通態(tài)漏電流IDS（on）、導通電阻Ron、導通電阻路差△Ron、截止態(tài)漏電流ID（off）、電源電流、導通電阻、導通電阻路差、截止態(tài)源*漏電流、截止態(tài)漏*漏電流、導通態(tài)漏電流、開啟時間/關斷時間、截止態(tài)漏*漏電流/截止態(tài)源*漏電流、導通態(tài)漏電流IDS(on)、導通電阻路差ΔRon、截止態(tài)源級漏電流IS（off）、截止態(tài)漏*漏電流ID（off）、輸入低電平電流IIL、輸入高電平電流IIH、靜態(tài)工作電源電流IDD、功能檢測、導通態(tài)漏電流IDS(on)、導通電阻Ron、導通電阻路差△Ron、截止態(tài)源*漏電流IS(off)、截止態(tài)漏*漏電流ID(off)、輸入低電平電流IIL、輸入高電平電流IIH、靜態(tài)工作電源電流、雙向開關截止電流、關斷時間、導通電阻溫度漂移率、導通電阻路差率、開啟時間、通道轉換時間、導通態(tài)漏電流 IDS(on)、導通電阻 RON、導通電阻路差 △RON、截止態(tài)源*漏電流IS(off)、截止態(tài)漏*漏電流ID(off)、輸出低電平電壓 VOL、輸出高電平電壓 VOH、靜態(tài)條件下的電源電流 IDD、導通電阻RON、截止態(tài)源*漏電流IS（OFF）、截止態(tài)漏*漏電流ID（OFF）、邏輯端輸入電流、導通態(tài)漏電流 IDS(on)、導通電阻 RON、截止態(tài)源*漏電流 IS(off)、截止態(tài)漏*漏電流 ID(off)、靜態(tài)條件下的電源電流、導通態(tài)漏電流IDS(on)、導通電阻Ron、導通電阻路差△Ron、截止態(tài)源*漏電流IS(off)、截止態(tài)漏*漏電流ID(off)、截止態(tài)源*漏電、導通態(tài)漏*漏電流、輸出高電平電壓VOH、輸出低電平電壓VOL、電源電流IDD、開啟時間ton、關斷時間toff、輸出高電平電壓、輸出低電平電壓
半導體集成電路模擬開關檢測標準：
檢測標準：
1、SJ/T 10741-2000 半導體集成電路CMOS電路檢測方法的基本原理 SJ/T 10741-2000
2、GB/T 14028-2018 半導體集成電路模擬開關檢測方法的基本原理 5.2
3、GB/T 17574-1998 半導體集成電路 第2部分：數字集成電路 GB/T 17574-1998
4、GB/T 17940-2000 半導體器件 集成電路 第3部分：模擬集成電路 第III篇第6節(jié) 5.1.1
5、GB/T 14028-1992 半導體集成電路模擬開關檢測方法的基本原理 條款2.6
6、GB/T14028-2018 半導體集成電路 模擬開關檢測方法 5.1
7、GB/T14028-2018/ 半導體集成電路模擬開關檢測方法的基本原理 5.4
8、GB/T 14028-2018 《半導體集成電路 模擬開關檢測方法》 GB/T 14028-2018
9、GB/T 17574-1998 半導體集成電路 第2部分：數字集成電路 第Ⅳ篇 第2節(jié) 2
10、GB/T 17940-2000 半導體器件 集成電路 第3部分：模擬集成電路 GB/T 17940-2000
11、SJ/T 10741-2000（CMOS） 半導體集成電路CMOS電路檢測方法的基本原理 條款5.15
12、GB/T 14028-1992 半導體集成電路模擬開關檢測方法的基本原理 GB/T 14028-1992
13、SJ/T10741-2000 5.9 半導體集成電路CMOS電路檢測方法的基本原理
14、SJ/T10741-2000 5.10 半導體集成電路CMOS電路檢測方法的基本原理
15、SJ/T 10741-2000 半導體集成電路CMOS電路檢測方法的基本原理 SJ/T10741-2000
16、GB/T17574-1998 《半導體器件集成電路 第2部分：數字集成電路》 第Ⅳ篇 第2節(jié) 1
百檢檢測流程：
1、百檢客服確認檢測需求（樣品、項目、報告用途等）
2、安排對應工程師對接服務。
3、確認報價，簽訂合同，安排寄樣檢測。
4、實驗室接收樣品，根據需求開始檢測。
5、完成檢測，出具檢測報告。
6、售后服務。
檢測報告用途
1、公司內部產品研發(fā)使用。
2、改善產品質量。
3、工業(yè)問題診斷。
4、銷售使用（商超、電商、投標等）。
5、高校科研論文數據使用。
檢測流程步驟
溫馨提示：《半導體集成電路模擬開關檢測周期費用及流程詳解》內容僅為部分列舉供參考使用，百檢網匯集眾多CNAS、CMA、CAL等資質的檢測機構遍布全國，更多檢測需求請咨詢客服。
