檢測報告圖片

半導(dǎo)體集成電路模擬開關(guān)檢測需要根據(jù)標(biāo)準(zhǔn)內(nèi)指定項目、方法進(jìn)行，GB國標(biāo)、行標(biāo)、外標(biāo)、企標(biāo)、地方標(biāo)準(zhǔn)。半導(dǎo)體集成電路模擬開關(guān)檢測項目和標(biāo)準(zhǔn)是什么?第三方檢測機構(gòu)提供半導(dǎo)體集成電路模擬開關(guān)檢測報告辦理，工程師一對一服務(wù)，根據(jù)需求選擇對應(yīng)檢測標(biāo)準(zhǔn)及項目，制定檢測方案后安排實驗室寄樣檢測。半導(dǎo)體集成電路模擬開關(guān)檢測服務(wù)

百檢在紡織品、絕緣工具、化妝品、食品等領(lǐng)域已有多年經(jīng)驗，全國有多家合作實驗室。百檢始終以科學(xué)研究為主，以客戶為中心，在嚴(yán)格的程序下開展檢測分析工作，為客戶提供檢測、分析、還原等一站式服務(wù)。

半導(dǎo)體集成電路模擬開關(guān)檢測項目：

檢測項目：

模擬電壓工作范圍、導(dǎo)通態(tài)漏電流IDS（on）、導(dǎo)通電阻Ron、導(dǎo)通電阻路差△Ron、截止態(tài)漏電流ID（off）、電源電流、導(dǎo)通電阻、導(dǎo)通電阻路差、截止態(tài)源*漏電流、截止態(tài)漏*漏電流、導(dǎo)通態(tài)漏電流、開啟時間/關(guān)斷時間、截止態(tài)漏*漏電流/截止態(tài)源*漏電流、導(dǎo)通態(tài)漏電流IDS(on)、導(dǎo)通電阻路差ΔRon、截止態(tài)源級漏電流IS（off）、截止態(tài)漏*漏電流ID（off）、輸入低電平電流IIL、輸入高電平電流IIH、靜態(tài)工作電源電流IDD、功能檢測、導(dǎo)通態(tài)漏電流IDS(on)、導(dǎo)通電阻Ron、導(dǎo)通電阻路差△Ron、截止態(tài)源*漏電流IS(off)、截止態(tài)漏*漏電流ID(off)、輸入低電平電流IIL、輸入高電平電流IIH、靜態(tài)工作電源電流、雙向開關(guān)截止電流、關(guān)斷時間、導(dǎo)通電阻溫度漂移率、導(dǎo)通電阻路差率、開啟時間、通道轉(zhuǎn)換時間、導(dǎo)通態(tài)漏電流 IDS(on)、導(dǎo)通電阻 RON、導(dǎo)通電阻路差 △RON、截止態(tài)源*漏電流IS(off)、截止態(tài)漏*漏電流ID(off)、輸出低電平電壓 VOL、輸出高電平電壓 VOH、靜態(tài)條件下的電源電流 IDD、導(dǎo)通電阻RON、截止態(tài)源*漏電流IS（OFF）、截止態(tài)漏*漏電流ID（OFF）、邏輯端輸入電流、導(dǎo)通態(tài)漏電流 IDS(on)、導(dǎo)通電阻 RON、截止態(tài)源*漏電流 IS(off)、截止態(tài)漏*漏電流 ID(off)、靜態(tài)條件下的電源電流、導(dǎo)通態(tài)漏電流IDS(on)、導(dǎo)通電阻Ron、導(dǎo)通電阻路差△Ron、截止態(tài)源*漏電流IS(off)、截止態(tài)漏*漏電流ID(off)、截止態(tài)源*漏電、導(dǎo)通態(tài)漏*漏電流、輸出高電平電壓VOH、輸出低電平電壓VOL、電源電流IDD、開啟時間ton、關(guān)斷時間toff、輸出高電平電壓、輸出低電平電壓

半導(dǎo)體集成電路模擬開關(guān)檢測標(biāo)準(zhǔn)：

檢測標(biāo)準(zhǔn)：

1、SJ/T 10741-2000 半導(dǎo)體集成電路CMOS電路檢測方法的基本原理 SJ/T 10741-2000

2、GB/T 14028-2018 半導(dǎo)體集成電路模擬開關(guān)檢測方法的基本原理 5.2

3、GB/T 17574-1998 半導(dǎo)體集成電路 第2部分：數(shù)字集成電路 GB/T 17574-1998

4、GB/T 17940-2000 半導(dǎo)體器件 集成電路 第3部分：模擬集成電路 第III篇第6節(jié) 5.1.1

5、GB/T 14028-1992 半導(dǎo)體集成電路模擬開關(guān)檢測方法的基本原理 條款2.6

6、GB/T14028-2018 半導(dǎo)體集成電路 模擬開關(guān)檢測方法 5.1

7、GB/T14028-2018/ 半導(dǎo)體集成電路模擬開關(guān)檢測方法的基本原理 5.4

8、GB/T 14028-2018 《半導(dǎo)體集成電路 模擬開關(guān)檢測方法》 GB/T 14028-2018

9、GB/T 17574-1998 半導(dǎo)體集成電路 第2部分：數(shù)字集成電路 第Ⅳ篇 第2節(jié) 2

10、GB/T 17940-2000 半導(dǎo)體器件 集成電路 第3部分：模擬集成電路 GB/T 17940-2000

11、SJ/T 10741-2000（CMOS） 半導(dǎo)體集成電路CMOS電路檢測方法的基本原理 條款5.15

12、GB/T 14028-1992 半導(dǎo)體集成電路模擬開關(guān)檢測方法的基本原理 GB/T 14028-1992

13、SJ/T10741-2000 5.9 半導(dǎo)體集成電路CMOS電路檢測方法的基本原理

14、SJ/T10741-2000 5.10 半導(dǎo)體集成電路CMOS電路檢測方法的基本原理

15、SJ/T 10741-2000 半導(dǎo)體集成電路CMOS電路檢測方法的基本原理 SJ/T10741-2000

16、GB/T17574-1998 《半導(dǎo)體器件集成電路 第2部分：數(shù)字集成電路》 第Ⅳ篇 第2節(jié) 1

百檢檢測流程：

1、百檢客服確認(rèn)檢測需求（樣品、項目、報告用途等）

2、安排對應(yīng)工程師對接服務(wù)。

3、確認(rèn)報價，簽訂合同，安排寄樣檢測。

4、實驗室接收樣品，根據(jù)需求開始檢測。

5、完成檢測，出具檢測報告。

6、售后服務(wù)。

檢測報告用途

1、公司內(nèi)部產(chǎn)品研發(fā)使用。

2、改善產(chǎn)品質(zhì)量。

3、工業(yè)問題診斷。

4、銷售使用（商超、電商、投標(biāo)等）。

5、高校科研論文數(shù)據(jù)使用。

檢測流程步驟

溫馨提示：《半導(dǎo)體集成電路模擬開關(guān)檢測周期費用及流程詳解》內(nèi)容僅為部分列舉供參考使用，百檢網(wǎng)匯集眾多CNAS、CMA、CAL等資質(zhì)的檢測機構(gòu)遍布全國，更多檢測需求請咨詢客服。