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電工電子產(chǎn)品及軍用設(shè)備(環(huán)境試驗(yàn))檢測項(xiàng)目與標(biāo)準(zhǔn)解析

檢測報告圖片

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檢測項(xiàng)目:

交變濕熱試驗(yàn)、低溫試驗(yàn)、沖擊試驗(yàn)、恒定濕熱試驗(yàn)、振動試驗(yàn)、模擬地面上的太陽輻射、淋雨試驗(yàn)、溫度沖擊試驗(yàn)、溫度/濕度組合循環(huán)試驗(yàn)、鹽霧試驗(yàn)、霉菌試驗(yàn)、高溫試驗(yàn)、霉菌實(shí)驗(yàn)

檢測標(biāo)準(zhǔn):

1、GB/T2423.38-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)R:水試驗(yàn)方法和導(dǎo)則

2、GB/T1865-2009色漆和清漆人工氣候老化和人工輻射曝露濾過的氙弧輻射

3、GB/T2423.22-2012環(huán)境試驗(yàn)第2部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)N:溫度變化

4、GJB150.11A-2009鹽霧試驗(yàn)

5、GJB1032-19905.2、5.3振動試驗(yàn)

6、GB/T2423.2-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)B:高溫

7、GB/T2423.16-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)J及導(dǎo)則:長霉

8、GJB1032-19905.1、5.3溫度/濕度組合循環(huán)試驗(yàn)

9、GJB150.10A-2009*用裝備實(shí)驗(yàn)室環(huán)境試驗(yàn)方法第10部分:霉菌試驗(yàn)

10、GJB150.18A-2009*用裝備實(shí)驗(yàn)室環(huán)境試驗(yàn)方法第18部分:沖擊試驗(yàn)

11、GJB150.16A-2009*用裝備實(shí)驗(yàn)室環(huán)境試驗(yàn)方法第16部分:振動試驗(yàn)

12、GJB150.3A-2009高溫試驗(yàn)

13、GB/T2423.34-2012環(huán)境試驗(yàn)第2部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)Z/AD:溫度/濕度組合循環(huán)試驗(yàn)

14、GJB150.8A-2009*用裝備實(shí)驗(yàn)室環(huán)境試驗(yàn)方法第8部分:淋雨試驗(yàn)

15、GB/T16422.2-2014塑料實(shí)驗(yàn)室光源暴露試驗(yàn)方法第2部分:氙弧燈

16、GJB150.16A-2009*用裝備實(shí)驗(yàn)室環(huán)境試驗(yàn)方法第16部分:振動試驗(yàn)

17、GB/T2423.6-1995沖擊試驗(yàn)

18、GJB150.3A-2009*用裝備實(shí)驗(yàn)室環(huán)境試驗(yàn)方法第3部分:高溫試驗(yàn)

19、GJB150.8A-2009淋雨試驗(yàn)

20、GB/T2423.17-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)Ka:鹽霧

展現(xiàn)樣式:

電子版

檢測周期:

3-15個工作日(可加急)

報告資質(zhì):

CNAS、CMA、CAL等

檢測費(fèi)用:

根據(jù)客戶需求及實(shí)驗(yàn)復(fù)雜程度報價

檢測流程步驟

檢測流程步驟

溫馨提示:《電工電子產(chǎn)品及軍用設(shè)備(環(huán)境試驗(yàn))檢測項(xiàng)目與標(biāo)準(zhǔn)解析》內(nèi)容僅為部分列舉供參考使用,百檢網(wǎng)匯集眾多CNAS、CMA、CAL等資質(zhì)的檢測機(jī)構(gòu)遍布全國,更多檢測需求請咨詢客服。

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