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金屬材料及制品(微觀結(jié)構(gòu))檢測(cè)流程步驟

檢測(cè)報(bào)告圖片

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金屬材料及制品(微觀結(jié)構(gòu))檢測(cè)測(cè)試哪些指標(biāo)?檢測(cè)報(bào)告如何辦理?檢測(cè)費(fèi)用多少?檢測(cè)周期多久呢?百檢也可依據(jù)相應(yīng)檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)或者根據(jù)您的需求設(shè)計(jì)檢測(cè)方案。

檢測(cè)項(xiàng)目:

微觀結(jié)構(gòu)、鋼鐵材料缺陷顯微分析、滲層深度及組織、滲碳層及組織、硬化層深度及組織、鑄鐵顯微組織、低倍組織、平均晶粒度、晶間腐蝕、非金屬夾雜物、高碳鉻軸承鋼、兩相鈦合金高低倍組織、晶粒度、滲碳層深度、非金屬夾雜物、脫碳層深度、珠光體面積百分含量、平均晶粒度級(jí)別數(shù)、灰鑄鐵珠光體數(shù)量、灰鑄鐵石墨分布形狀、灰鑄鐵石墨長(zhǎng)度、灰鑄鐵碳化物數(shù)量、鋼的脫碳層深度、非金屬夾雜物級(jí)別、微觀形貌觀察、成分面分布、球化級(jí)別、形貌觀察、顯微組織、顯微組織評(píng)定、晶粒取向性、能譜定性分析、能譜定量分析、低倍檢驗(yàn)、顯微組織檢驗(yàn)與評(píng)級(jí)、晶粒尺寸、脫碳層深度測(cè)定、非金屬夾雜物含量測(cè)定、夾雜物、掃描電鏡X-射線能譜法分析奧氏體不銹鋼中Cr和Ni的含量/Cr、Ni、球化、石墨化、表面層深度/厚度測(cè)定、金屬材料二次電子像形貌觀察、鋁合金掃描電鏡分析—背散射電子像形貌觀察/形貌觀察、低倍、塔形、深度測(cè)定、組織分析、脫碳層、奧氏體不銹鋼的耐蝕性、滲氮層深度、滲碳淬火硬化層深度、脫碳深度、鋼的低倍檢查、滲氮層測(cè)定、滲碳金相檢驗(yàn)、灰鐵金相檢驗(yàn)、球鐵金相檢驗(yàn)、鋼質(zhì)模鍛件金相組織、非金屬夾雜物顯微評(píng)定、低倍組織(鋼材)、低倍組織(鋁材)、相結(jié)構(gòu)分析、晶粒度測(cè)定、表面脫碳層深度測(cè)定、非金屬夾雜物含量、α-β鈦合金高低倍組織、夾雜物含量、微束分析、微米級(jí)長(zhǎng)度、微觀形貌、晶體結(jié)構(gòu)分析、殘余應(yīng)力、點(diǎn)陣常數(shù)、能譜分析、表面化學(xué)分析深度剖析、表面層深度、表面成分分析、表面元素化學(xué)態(tài)分析、表面成分分析、金相檢驗(yàn)、鋼中殘余奧氏體、鍍層厚度、雙相鈦合金組織檢驗(yàn)、橫向低倍、有效硬化層深度、灰鑄鐵金相檢驗(yàn)、球墨鑄鐵金相檢驗(yàn)、顯微組織評(píng)級(jí)、表面層深度厚度的測(cè)定、X射線定量相分析、工具鋼顯微組織檢驗(yàn)、能譜法定量分析、金屬和氧化物覆蓋層橫斷面厚度測(cè)量、金屬晶粒度檢驗(yàn)、鋼中殘余奧氏體定量測(cè)定、鋼中非金屬夾雜物檢驗(yàn)、鋼的低倍檢驗(yàn)、鋼的顯微組織檢驗(yàn)、鋼的脫碳層檢驗(yàn)、不銹鋼晶間腐蝕試驗(yàn)、金屬平均晶粒度測(cè)定

檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn):

1、ASTMA923-2014奧氏體-鐵素體型雙相不銹鋼金屬間不良化合相的標(biāo)準(zhǔn)檢測(cè)方法

2、GB/T5617-2005鋼的感應(yīng)淬火或火焰淬火后有效硬化層深度的測(cè)定

3、GB/T31563-2015金屬覆蓋層厚度測(cè)量掃描電鏡法

4、YB/T4003-2016連鑄鋼板坯低倍組織缺陷評(píng)級(jí)圖

5、GB/T6394-2017金屬平均晶粒度測(cè)定法

6、GB/T9450-2005鋼件滲碳淬火硬化層深度的測(cè)定和校核

7、JY/T010-1996分析型掃描電子顯微鏡方法通則

8、DL/T674-1999火電廠用20號(hào)鋼珠光體化評(píng)級(jí)標(biāo)準(zhǔn)

9、ASTME1077-14測(cè)定鋼樣品脫碳深度的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法 ASTME1077-14

10、GB/T1979-2001鋼的低倍組織缺陷評(píng)級(jí)圖

11、YB/T169-2014高碳鋼盤(pán)條索氏體含量金相檢測(cè)方法

12、GB/T4334-2008金屬和合金的腐蝕不銹鋼晶間腐蝕試驗(yàn)方法

13、GB/T30704-2014表面化學(xué)成分X射線光電子能譜分析指南

14、GB/T3246.2-2012變形鋁及鋁合金制品低倍組織檢驗(yàn)方法

15、JY/T010-1996分析型掃描電子顯微鏡方法通則

16、GB/T224-2019鋼的脫碳層深度測(cè)定法

17、ASTME112-13測(cè)定平均晶粒度的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法ASTME112-13

18、JY/T009-1996轉(zhuǎn)靶多晶體X射線衍射方法通則

19、YB/T4002-2013連鑄鋼方坯低倍組織缺陷評(píng)級(jí)圖

20、GB/T5168-2020鈦及鈦合金高低倍組織檢驗(yàn)方法

檢測(cè)報(bào)告用途

商超入駐、電商上架、內(nèi)部品控、招投標(biāo)、高校科研等。

檢測(cè)報(bào)告有效期

一般檢測(cè)報(bào)告上會(huì)標(biāo)注實(shí)驗(yàn)室收到樣品的時(shí)間、出具報(bào)告的時(shí)間。檢測(cè)報(bào)告上不會(huì)標(biāo)注有效期。常規(guī)來(lái)說(shuō)只要測(cè)試沒(méi)更新,測(cè)試不變檢測(cè)報(bào)告一直有效。

檢測(cè)費(fèi)用價(jià)格

因測(cè)試項(xiàng)目及實(shí)驗(yàn)復(fù)雜程度不同,具體請(qǐng)聯(lián)系客服確定后進(jìn)行報(bào)價(jià)。

檢測(cè)時(shí)間周期

一般3-10個(gè)工作日(特殊樣品除外),具體請(qǐng)咨詢(xún)客服。

檢測(cè)流程步驟

檢測(cè)流程步驟

溫馨提示:《金屬材料及制品(微觀結(jié)構(gòu))檢測(cè)流程步驟》內(nèi)容僅為部分列舉供參考使用,百檢網(wǎng)匯集眾多CNAS、CMA、CAL等資質(zhì)的檢測(cè)機(jī)構(gòu)遍布全國(guó),更多檢測(cè)需求請(qǐng)咨詢(xún)客服。

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