檢測報告圖片

珠寶檢測儀檢測報告如何辦理？測試哪些項目呢？檢測費用價格是多少呢？下面小編為您解答。百檢也可依據(jù)相應珠寶檢測儀檢測標準或者根據(jù)您的需求設計檢測方案?！驹斍樽稍儯?32-6275-2056】。做檢測，上百檢！我們只做真實檢測。

檢測周期

一般3-15個工作日，可加急。

檢測方式

可寄樣檢測、目測檢測、見證試驗、現(xiàn)場檢測等。

檢測費用

具體根據(jù)珠寶檢測儀檢測檢測數(shù)量和項目而定。詳情請咨詢在線客服。

檢測產(chǎn)品

0珠寶檢測儀簡介

珠寶檢測儀是待測樣品的一個穩(wěn)定的原子結構由原子核及核外電子組成。利用能譜儀分析探測器輸出信號的能量大小及強度，對樣品進行定量，定性分析。

1珠寶檢測儀影響因素

影響XRF測金儀的檢測結果的因素有很多。由于*飾產(chǎn)品的特殊情況，受方法原理的限制，在使用本方法時檢測人員應了解和熟悉以下影響結果的因素（這些影響因素在不同情況下將對特征譜線強度的采集產(chǎn)生很大的影響，甚至造成誤判）：

a)被測樣品與標準物質所含元素組成和含量有較大的差異；

b)被測樣品的表面有鍍層或經(jīng)化學處理；

c)測量時間；

d)樣品的形狀；

e)樣品測量的面積；

f)貴金屬的含量多少；

XRF測金儀檢測出來的結果通常需要全面理解，由于被測的*飾產(chǎn)品不同，使用的儀器不同，檢測人員的素質水平不同，對檢測結果的接收范圍建議在以下范圍內(nèi)選取。隨貴金屬含量的減少，可接收的范圍將增大。測量結果的誤差范圍為0.1%—3%，也可以根據(jù)委托方的協(xié)議確定，對結果如有爭議，應以GB/T 9288、GB/T 11886和QB/T 1656的分析結果為準。

X熒光光譜儀，具有重現(xiàn)性好，測量速度快，靈敏度高的特點。能分析F(9)～U(92)之間所有元素。樣品可以是固體、粉末、熔融片，液體等，分析對象適用于煉鋼、有色金屬、水泥、陶瓷、石油、玻璃等行業(yè)樣品。無標半定量方法可以對各種形狀樣品定性分析，并能給出半定量結果，結果準確度對某些樣品可以接近定量水平，分析時間短。薄膜分析軟件FP-MULT1能作鍍層分析，薄膜分析。 測量樣品的尺寸要求為直徑51mm,高40mm.

儀器類別： 0303040903 /儀器儀表 /成份分析儀器 /熒光光度計

指標信息： 1.發(fā)射源是Rh靶X光管，電流125mA，電壓60kV，功率3kW 2.儀器在真空條件下工作，真空度<13pascals 3.5塊分析晶體，可以分析元素周期表F～U之間所有元素，含量范圍是ppm～100% 4.分析軟件是Philips公司（現(xiàn)為PANalytical）版軟件，既可作半定量，也可定量分析。精密度：在計算率N=1483870時，RSD=0.08% 穩(wěn)定性計算率Nmax=6134524,Nmin=6115920,N平均=6125704,相對誤差為0.03%

分析對象主要有各種磁性材料（NdFeB、SmCo合金、FeTbDy）、鈦鎳記憶合金、混合稀土分量、貴金屬飾品和合金等，以及各種形態(tài)樣品的無標半定量分析，對于均勻的顆粒度較小的粉末或合金，結果接近于定量分析的準確度。X熒光分析快速，某些樣品當天就可以得到分析結果。適合課題研究和生產(chǎn)監(jiān)控。

2珠寶檢測儀主要優(yōu)勢

1 ) 3秒鐘內(nèi)可對金銀飾品進行定性識別,30秒～60秒自動計算出*飾的精確含量

2 ) 對樣品無需任何物理和化學處理，即無損檢測金銀飾品

3 ) 分析范圍：能夠分析金，鉑，銀，鈀等含量0.3%～99.99%

4) 安全性能指針符合國家標準要求(光線激發(fā)源為MO靶X光管)

5) 具有溫濕度自動補償功能

6) 符合較嚴格的輻射防護標準的同時更具備簡易的樣品放置和耗材更換模式（采用滑蓋設計）

7) 探頭指針高，性能好，壽命長；

8) 全新32位軟硬件系統(tǒng)，工作可靠，效率高

9) 全球率先將先進的攝像定位技術引入珠寶檢測領域。該攝像定位系統(tǒng)除讓*飾檢測更加直觀、X熒光更集中于目標位置外，還可以將*飾被檢測到的精確位置的照片對應于檢測結果，連同計算報告一起打印出來。

10）集成工業(yè)計算機在設備機箱內(nèi)，無需外接計算機；帶門鎖電鎖，使日常管理更便捷

3珠寶檢測儀主要用途

X熒光光譜測金儀亦稱XRF,設備其分析方法，是具有一定能量分辨率的X射線探測器同時探測樣品所發(fā)出的各種能量特征X射線，探測器輸出信號幅度與接收到的X射線能量成正比，利用能譜儀分析探測器輸出信號的能量大小及強度，對樣品進行定量，定性分析。

4珠寶檢測儀原理

待測樣品的一個穩(wěn)定的原子結構由原子核及核外電子組成。這些核外電子圍繞著原子核按不同軌道運轉，它們按不同的能量分布在不同的電子殼層，分布在同一殼層的電子具有相同的能量。

當具有高能量的入射（一次）X射線與原子發(fā)生碰撞時，會打破（待測樣品的）原子結構的穩(wěn)定性。處于低能量電子殼層（如：K層）的電子更容易被激發(fā)而從原子中逐放出來，電子的逐放會導致該電子殼層出現(xiàn)相應的電子空位，這時處于高能量電子殼層的電子（如：L層）會躍遷到該低能量電子殼層來補充相應的電子空位。由于不用電子殼層之間存在著能量差距，這些能量上的差以二次X射線的形式釋放出來，不同的元素所釋放出來的二次X射線具有特定的能量，這一個過程就是我們所說的X射線熒光（XRF）。探測系統(tǒng)測量這些放射出來的二次X射線的能量及數(shù)量。然后儀器軟件將探測系統(tǒng)所收集到的信息轉換成樣品中各種元素的種類及含量——每種元素的發(fā)射強度與樣品中的元素含量成正比，通過預先設置好的校正曲線計算出來，可顯示其含量。

以上珠寶檢測儀檢測相關信息，僅供參考，百檢為您提供一站式的檢測服務，包括：食品、環(huán)境、醫(yī)療、建材、電子、化工、汽車、家居、母嬰、玩具、箱包、水質、化妝品、紡織品、日化品、農(nóng)產(chǎn)品等。更多檢測問題請咨詢在線客服。

檢測流程步驟

溫馨提示：《珠寶檢測儀檢測》內(nèi)容僅為部分列舉供參考使用，百檢網(wǎng)匯集眾多CNAS、CMA、CAL等資質的檢測機構遍布全國，更多檢測需求請咨詢客服。