檢測(cè)報(bào)告圖片

x射線能譜法檢測(cè)報(bào)告如何辦理？檢測(cè)項(xiàng)目及標(biāo)準(zhǔn)有哪些？百檢第三方檢測(cè)機(jī)構(gòu)，嚴(yán)格按照x射線能譜法檢測(cè)相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行測(cè)試和評(píng)估。做檢測(cè)，找百檢。我們只做真實(shí)檢測(cè)。

涉及x 射線能譜法的標(biāo)準(zhǔn)有31條。

國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)分類中，x 射線能譜法涉及到分析化學(xué)、犯罪行為防范、紙和紙板、藝術(shù)和手工藝品、計(jì)量學(xué)和測(cè)量綜合、有色金屬。

在中國(guó)標(biāo)準(zhǔn)分類中，x 射線能譜法涉及到基礎(chǔ)標(biāo)準(zhǔn)與通用方法、造紙綜合、犯罪鑒定技術(shù)、紙、工藝美術(shù)品、化學(xué)助劑基礎(chǔ)標(biāo)準(zhǔn)與通用方法、、貴金屬及其合金。

國(guó)家質(zhì)檢總局，關(guān)于x 射線能譜法的標(biāo)準(zhǔn)

GB/T 25188-2010硅晶片表面超薄氧化硅層厚度的測(cè)量 X射線光電子能譜法

GB/T 2679.11-2008紙和紙板 無機(jī)填料和無機(jī)涂料的定性分析.電子顯微鏡/X射線能譜法

GB/T 19267.6-2008刑事技術(shù)微量物證的理化檢驗(yàn) 第6部分:掃描電子顯微鏡/X射線能譜法

GB/T 2679.11-1993紙和紙板中無機(jī)填料和無機(jī)涂料的定性分析電子顯微鏡/X射線能譜法

公安部，關(guān)于x 射線能譜法的標(biāo)準(zhǔn)

GA/T 1939-2021法庭科學(xué) 電流斑檢驗(yàn) 掃描電子顯微鏡/X射線能譜法

GA/T 1938-2021法庭科學(xué) 金屬檢驗(yàn) 掃描電子顯微鏡/X射線能譜法

GA/T 1937-2021法庭科學(xué) 橡膠檢驗(yàn) 掃描電子顯微鏡/X射線能譜法

GA/T 1519-2018法庭科學(xué) 墨粉元素成分檢驗(yàn) 掃描電子顯微鏡/X射線能譜法

GA/T 1520-2018法庭科學(xué) 黑**、煙**元素成分檢驗(yàn) 掃描電子顯微鏡/X射線能譜法

GA/T 1522-2018法庭科學(xué) 射擊殘留物檢驗(yàn) 掃描電子顯微鏡/X射線能譜法

GA/T 1521-2018法庭科學(xué) 塑料元素成分檢驗(yàn) 掃描電子顯微鏡/X射線能譜法

GA/T 823.3-2018法庭科學(xué)油漆物證的檢驗(yàn)方法第3部分:掃描電子顯微鏡/X射線能譜法

青海省質(zhì)量技術(shù)監(jiān)督局，關(guān)于x 射線能譜法的標(biāo)準(zhǔn)

DB63/T 1678-2018唐卡中礦物顏料的測(cè)定 X射線熒光光譜法（能譜法）

國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)化組織，關(guān)于x 射線能譜法的標(biāo)準(zhǔn)

ISO 18554:2016表面化學(xué)分析.電子光譜法.用X射線光電子能譜法分析的材料中X射線非預(yù)期降解的評(píng)定和校正程序

ISO 17109-2015表面化學(xué)分析. 深度剖析. 使用單層和多層薄膜測(cè)定X射線光電子能譜, 俄歇電子能譜以及二次離子質(zhì)譜法濺射深度剖析中濺射率的方法

ISO 17109:2015表面化學(xué)分析 - 深度分析 - X射線光電子能譜法中的濺射速率測(cè)定方法 俄歇電子能譜和二次離子質(zhì)譜法使用單層和多層薄膜的濺射深度分析

英國(guó)標(biāo)準(zhǔn)學(xué)會(huì)，關(guān)于x 射線能譜法的標(biāo)準(zhǔn)

BS ISO 17109-2015表面化學(xué)分析. 深度剖析. 使用單層和多層薄膜測(cè)定X射線光電子能譜, 俄歇電子能譜以及二次離子質(zhì)譜法濺射深度剖析中濺射率的方法

BS ISO 17109-2015表面化學(xué)分析. 深度剖析. 使用單層和多層薄膜測(cè)定X射線光電子能譜, 俄歇電子能譜以及二次離子質(zhì)譜法濺射深度剖析中濺射率的方法

BS ISO 10810-2010表面化學(xué)分析.X射線光電子能譜法.分析指南

BS ISO 10810-2010表面化學(xué)分析.X射線光電子能譜法.分析指南

美國(guó)材料與試驗(yàn)協(xié)會(huì)，關(guān)于x 射線能譜法的標(biāo)準(zhǔn)

ASTM E1523-15X射線光電子能譜法中電荷控制和電荷參考技術(shù)的標(biāo)準(zhǔn)指南

ASTM E1523-09X射線光電子能譜法中電荷控制和電荷參考技術(shù)的標(biāo)準(zhǔn)指南

ASTM E1523-03X射線光電子能譜法中電荷控制和電荷參考技術(shù)的標(biāo)準(zhǔn)指南

ASTM E1523-97X射線光電子能譜法中電荷控制和電荷參考技術(shù)的標(biāo)準(zhǔn)指南

廣東省質(zhì)量技術(shù)監(jiān)督局，關(guān)于x 射線能譜法的標(biāo)準(zhǔn)

DB44/T 1216-2013利用掃描電子顯微術(shù)和X射線能譜法表征石墨烯的特性

DB44/T 1215-2013利用掃描電子顯微術(shù)和X射線能譜法表征單壁碳納米管的特性

法國(guó)標(biāo)準(zhǔn)化協(xié)會(huì)，關(guān)于x 射線能譜法的標(biāo)準(zhǔn)

NF X21-071-2011表面化學(xué)分析.X射線光電子能譜法.分析用導(dǎo)則

NF X21-058-2006表面化學(xué)分析.俄歇電子能譜學(xué)和X射線光電子光譜法.測(cè)定峰強(qiáng)度使用的方法和報(bào)告結(jié)果時(shí)需要的信息

行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)-有色金屬，關(guān)于x 射線能譜法的標(biāo)準(zhǔn)

YS/T 644-2007鉑釕合金薄膜測(cè)試方法 X射線光電子能譜法 測(cè)定合金態(tài)鉑及合金態(tài)釕含量

澳大利亞標(biāo)準(zhǔn)協(xié)會(huì)，關(guān)于x 射線能譜法的標(biāo)準(zhǔn)

AS ISO 19319-2006表面化學(xué)分析．Augur電子能譜法和X射線光電子光譜法．分析員對(duì)橫向分辨率；分析區(qū)域和樣品區(qū)域的目視檢測(cè)

AS ISO 18118-2006表面化學(xué)分析．俄歇電子能譜法和X射線光電子光譜法．均質(zhì)材料定量分析中實(shí)驗(yàn)測(cè)定的相對(duì)靈敏系數(shù)使用指南

檢測(cè)報(bào)告有效期

一般x射線能譜法檢測(cè)報(bào)告上會(huì)標(biāo)注實(shí)驗(yàn)室收到樣品的時(shí)間、出具報(bào)告的時(shí)間，不會(huì)標(biāo)注有效期。

檢測(cè)費(fèi)用價(jià)格

需要根據(jù)檢測(cè)項(xiàng)目、樣品數(shù)量及檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)而定，請(qǐng)聯(lián)系我們確定后報(bào)價(jià)。

檢測(cè)流程步驟

溫馨提示：以上內(nèi)容為部分列舉，僅供參考使用。更多檢測(cè)問題請(qǐng)咨詢客服。