檢測報告圖片

半導體元件檢測報告如何辦理？檢測項目及標準有哪些？百檢第三方檢測機構(gòu)，嚴格按照半導體元件檢測相關標準進行測試和評估。做檢測，找百檢。我們只做真實檢測。

涉及半導體 元件的標準有61條。

國際標準分類中，半導體 元件涉及到電子元器件綜合、半導體分立器件、光電子學、激光設備、光纖通信、公司(企業(yè))的組織和管理、航空航天用電氣設備和系統(tǒng)、電工器件、電子設備用機械構(gòu)件、造船和海上構(gòu)筑物綜合、半導體材料、集成電路、微電子學、機器、裝置、設備的特性和設計、詞匯。

在中國標準分類中，半導體 元件涉及到敏感元器件及傳感器、、半導體分立器件綜合、光電子器件綜合、光通信設備、連接器、可靠性和可維護性、電力半導體器件、部件、微電路綜合、低壓電器綜合、半導體集成電路、半導體整流器件。

國家質(zhì)檢總局，關于半導體 元件的標準

GB/T 15652-1995金屬氧化物半導體氣敏元件總規(guī)范

GB/T 15653-1995金屬氧化物半導體氣敏元件測試方法

中國團體標準，關于半導體 元件的標準

T/ZGM 003-2022質(zhì)量分級及“領跑者”評價要求 半導體行業(yè)終端過濾用膜元件

國際電工委員會，關于半導體 元件的標準

IEC 60749-39:2021半導體器件.機械和氣候試驗方法.第39部分:半導體元件用有機材料中水分擴散率和水溶性的測量

IEC 60749-39:2021 RLV半導體器件.機械和氣候試驗方法.第39部分:半導體元件用有機材料中水分擴散率和水溶性的測量

IEC 60749-39-2021半導體器件.機械和氣候試驗方法.第39部分:半導體元件用有機材料中水分擴散率和水溶性的測量

IEC 60749-39-2021 RLV半導體器件.機械和氣候試驗方法.第39部分:半導體元件用有機材料中水分擴散率和水溶性的測量

IEC 62149-8-2014光纖有源元件和器件 - 性能標準 - 第8部分:種子反射半導體光放大器器件

IEC 62149-9-2014光纖有源元件和器件性能標準第9部分:種子反射半導體光放大器收發(fā)器

IEC 62149-9:2014纖維光學有源元件和器件. 性能標準. 第9部分: 晶種反射半導體光放大器收發(fā)器

IEC 62149-8:2014纖維光學有源元件和器件. 性能標準. 第8部分: 晶種反射半導體光放大器設備

IEC 107/126/PAS-2010IEC/PAS 62686-1,Ed. 1:高可靠性元件一般要求.第1部分:集成電路和分立半導體元件

IEC 60747-5-2 Edition 1.1:2009分立半導體器件及集成電路.第5-2部分:光電元件.基本額定值及特性

IEC 60747-5-3 Edition 1.1:2009分立半導體器件及集成電路.第5-3部分:光電元件.測量方法

IEC 60749-39-2006半導體器件 - 機械和氣候試驗方法 - 第39部分:用于半導體元件的有機材料中水分擴散率和水溶解度的測量

IEC 60747-14-2-2000半導體器件 - 第14-2部分:半導體傳感器 - 霍爾元件

IEC 60747-14-2:2000半導體器件 第14-2部分:半導體元件 霍爾元件

IEC 60747-14-1:2000半導體器件 第14-1部分:半導體元件 總則和分類

英國標準學會，關于半導體 元件的標準

BS EN IEC 60747-17:2020半導體元件. 基本和增強隔離用磁性和電容耦合器

BS EN 62149-8-2014纖維光學有源元件和器件. 性能標準. 晶種反射半導體光學放大器設備

BS EN 62149-9-2014纖維光學有源元件和器件. 性能標準. 晶種反射半導體光學放大器收發(fā)器

BS DD IEC/PAS 60747-17:2011半導體元件.分立元件.基本和增強隔離用磁性和電容耦合器

BS IEC 60747-14-2:2001分立半導體器件和集成電路.半導體器件.半導體傳感器.霍爾元件

BS IEC 60747-14-2:2000分立半導體器件和集成電路.半導體器件.半導體傳感器.霍爾元件

BS IEC 60747-10:1991半導體裝置.分離元件和集成電路通用規(guī)范

德國標準化學會，關于半導體 元件的標準

DIN EN 60747-5-5-2015半導體設備.分離式元件.第5-5部分:光電元件.光融合元件(IEC 60747-5-5-2007+A1-2013);德文版本EN 60747-5-5-2011+A1-2015

DIN EN 62149-9-2015纖維光學有源元件和器件. 性能標準. 第9部分: 晶種反射半導體光放大器收發(fā)器 (IEC 62149-9-2014); 德文版本EN 62149-9-2014

DIN EN 62149-8-2014纖維光學有源元件和器件. 性能標準. 第8部分: 晶種反射半導體光放大器設備 (IEC 62149-8-2014); 德文版本EN 62149-8-2014

DIN EN 60747-5-5-2011半導體設備.分離式元件.第5-5部分:光電元件.光融合元件(IEC 60747-5-5-2007);德文版本EN 60747-5-5-2011

DIN EN 60749-39-2007半導體器件.機械和氣候試驗方法.第39部分:測量用于半導體元件的有機材料的濕氣擴散性和水溶解性

DIN 4000-20-1988第20部分:光電子半導體元件用物品特性表格設計

行業(yè)標準-機械，關于半導體 元件的標準

JB/T 11623-2013平面厚膜半導體氣敏元件

法國標準化協(xié)會，關于半導體 元件的標準

NF C96-005-5-2012半導體器件.分立元件.第5-5部分:光電器件.光電耦合器

NF C96-022-39-2006半導體裝置.機械和氣候試驗方法.第39部分:測量用于半導體元件的有機材料的濕氣擴散性和水溶解性

NF C96-001-1984電子元件.半導體器件.分立元件和集成電路.第1部分:總則

NF C96-002-1984電子元件.半導體器件.分立元件和集成電路.第2部分:整流二極管

美國國家標準學會，關于半導體 元件的標準

ANSI/IEEE C62.35:2010雪崩接合半導體電涌保護裝置元件標準試驗方法

，關于半導體 元件的標準

PN T01503 ArkusZ50-1973半導體元件尺寸C9箱

PN T01503 ArkusZ01-1972半導體元件尺寸A1元件

韓國科技標準局，關于半導體 元件的標準

KS C IEC 60747-6-2:2006半導體器件.分立器件.第6部分:晶體閘流管.第2節(jié):雙向三極晶體閘流(三極雙向可控硅開關元件)、電流*多為100A空白詳細規(guī)范

美國材料與試驗協(xié)會，關于半導體 元件的標準

ASTM F615M-95測定在半導體元件上噴鍍金屬的安全電流脈沖操作區(qū)域的標準實施規(guī)范(米制)

ASTM F615M-95(2008)在半導體元件上噴鍍金屬的安全電流脈沖操作區(qū)域的標準作法(米制)

ASTM F615M-95(2013)測定在半導體元件上噴鍍金屬的安全電流脈沖操作區(qū)域的標準實施規(guī)范 (米制)

ASTM F615M-95(2002)測定在半導體元件上噴鍍金屬的安全電流脈沖操作區(qū)域的標準實施規(guī)范(米制)

(美國)固態(tài)技術協(xié)會,隸屬EIA，關于半導體 元件的標準

JEDEC JESD51-1995元件套件的熱測方法(單半導體器件)

行業(yè)標準-電子，關于半導體 元件的標準

SJ 20079-1992金屬氧化物半導體氣敏元件.試驗方法

SJ 20025-1992金屬氧化物半導體氣敏元件總規(guī)范

SJ 20026-1992金屬氧化物半導體氣敏元件測試方法

檢測報告有效期

一般半導體元件檢測報告上會標注實驗室收到樣品的時間、出具報告的時間，不會標注有效期。

檢測費用價格

需要根據(jù)檢測項目、樣品數(shù)量及檢測標準而定，請聯(lián)系我們確定后報價。

檢測流程步驟

溫馨提示：以上內(nèi)容為部分列舉，僅供參考使用。更多檢測問題請咨詢客服。