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背散射電子衍射檢測

檢測報告圖片

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背散射電子衍射檢測報告如何辦理?檢測項目及標(biāo)準(zhǔn)有哪些?百檢第三方檢測機構(gòu),嚴(yán)格按照背散射電子衍射檢測相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)進行測試和評估。做檢測,找百檢。我們只做真實檢測。

涉及背散射電子衍射的標(biāo)準(zhǔn)有25條。

國際標(biāo)準(zhǔn)分類中,背散射電子衍射涉及到分析化學(xué)、金屬材料試驗、消防。

在中國標(biāo)準(zhǔn)分類中,背散射電子衍射涉及到基礎(chǔ)標(biāo)準(zhǔn)與通用方法、金相檢驗方法、消防綜合、電化學(xué)、熱化學(xué)、光學(xué)式分析儀器、電子光學(xué)與其他物理光學(xué)儀器。

國家市場監(jiān)督管理總局、中國國家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會,關(guān)于背散射電子衍射的標(biāo)準(zhǔn)

GB/T 41076-2021微束分析 電子背散射衍射 鋼中奧氏體的定量分析

GB/T 36165-2018金屬平均晶粒度的測定 電子背散射衍射(EBSD)法

未注明發(fā)布機構(gòu),關(guān)于背散射電子衍射的標(biāo)準(zhǔn)

GB/T 38532-2020微束分析 電子背散射衍射 平均晶粒尺寸的測定

國家質(zhì)檢總局,關(guān)于背散射電子衍射的標(biāo)準(zhǔn)

GB/T 36165-2018金屬平均晶粒度的測定電子背散射衍射(EBSD)法

GB/T 30703-2014微束分析 電子背散射衍射取向分析方法導(dǎo)則

GB/T 19501-2013微束分析 電子背散射衍射分析方法通則

GB/T 19501-2004電子背散射衍射分析方法通則

中華人民共和國國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗檢疫總局、中國國家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會,關(guān)于背散射電子衍射的標(biāo)準(zhǔn)

GB/T 34172-2017微束分析 電子背散射衍射 金屬及合金的相分析方法

國際標(biāo)準(zhǔn)化組織,關(guān)于背散射電子衍射的標(biāo)準(zhǔn)

ISO 23749-2022微束分析.電子背散射衍射.鋼中奧氏體的定量測定

ISO 23703-2022微束分析.用電子背散射衍射(EBSD)評估奧氏體不銹鋼機械損傷的取向分析指南

ISO 13067:2011微束分析——電子背散射衍射——平均粒度的測量

ISO 24173:2009微束分析——電子背散射衍射取向測量指南

ISO 24173-2009微光束分析.用電子背散射衍射進行定向測量的指南

美國材料與試驗協(xié)會,關(guān)于背散射電子衍射的標(biāo)準(zhǔn)

ASTM E2627-13(2019)用電子背散射衍射(EBSD)測定完全再結(jié)晶多晶材料中平均晶粒尺寸的標(biāo)準(zhǔn)實施規(guī)程

ASTM E2627-13用電子背散射衍射(EBSD)測定完全再結(jié)晶多晶材料中平均晶粒尺寸的標(biāo)準(zhǔn)實施規(guī)程

ASTM E2627-2013使用完全再結(jié)晶多晶材料中的電子背散射衍射 (EBSD) 測定平均粒徑的標(biāo)準(zhǔn)實施規(guī)程

ASTM E2627-10用電子背散射衍射(EBSD)測定完全再結(jié)晶多晶材料中平均晶粒尺寸的標(biāo)準(zhǔn)實施規(guī)程

上海市市場監(jiān)督管理局,關(guān)于背散射電子衍射的標(biāo)準(zhǔn)

DB31/T 1156-2019電氣火災(zāi)熔痕技術(shù)鑒定 電子背散射衍射法

工業(yè)和信息化部,關(guān)于背散射電子衍射的標(biāo)準(zhǔn)

YB/T 4677-2018鋼中織構(gòu)的測定電子背散射衍射(EBSD)法

,關(guān)于背散射電子衍射的標(biāo)準(zhǔn)

GOST R ISO 13067-2016確保測量一致性的國家系統(tǒng). 微束分析. 電子背散射衍射. 平均粒度的測量

GOST R ISO 13067-2016確保測量一致性的國家系統(tǒng). 微束分析. 電子背散射衍射. 平均粒度的測量

德國標(biāo)準(zhǔn)化學(xué)會,關(guān)于背散射電子衍射的標(biāo)準(zhǔn)

DIN ISO 24173-2013微光束分析.使用電子背散射衍射進行定向測量的指南(ISO 24713-2009)

法國標(biāo)準(zhǔn)化協(xié)會,關(guān)于背散射電子衍射的標(biāo)準(zhǔn)

NF X21-014-2012微束分析.電子背散射衍射.平均粒度的測量

英國標(biāo)準(zhǔn)學(xué)會,關(guān)于背散射電子衍射的標(biāo)準(zhǔn)

BS ISO 13067-2011微光束分析.背散射電子衍射.平均顆粒粒度測量

BS ISO 13067-2011微光束分析.背散射電子衍射.平均顆粒粒度測量

檢測報告有效期

一般背散射電子衍射檢測報告上會標(biāo)注實驗室收到樣品的時間、出具報告的時間,不會標(biāo)注有效期。

檢測費用價格

需要根據(jù)檢測項目、樣品數(shù)量及檢測標(biāo)準(zhǔn)而定,請聯(lián)系我們確定后報價。

檢測流程步驟

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溫馨提示:以上內(nèi)容為部分列舉,僅供參考使用。更多檢測問題請咨詢客服。

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