檢測報告圖片

薄膜質量檢測報告如何辦理？檢測項目及標準有哪些？百檢第三方檢測機構，嚴格按照薄膜質量檢測相關標準進行測試和評估。做檢測，找百檢。我們只做真實檢測。

涉及薄膜質量的標準有78條。

國際標準分類中，薄膜質量涉及到印制技術、太陽能工程、陶瓷、半導體分立器件、橡膠和塑料制品、長度和角度測量、電阻器、紡織纖維、復合增強材料、集成電路、微電子學、電容器。

在中國標準分類中，薄膜質量涉及到印刷技術、太陽能、合成樹脂、塑料基礎標準與通用方法、基礎標準和通用方法、金屬理化性能試驗方法綜合、長度計量、膜集成電路、混合集成電路、半導體集成電路、電容器、電阻器、標準化、質量管理、基礎標準與通用方法。

國家新聞出版署，關于薄膜質量的標準

CY/T 248-2021印刷類柔性透明薄膜電子器件質量要求

英國標準學會，關于薄膜質量的標準

BS EN IEC 61215-1-4:2021地面光伏(PV)模組. 設計質量和型式批準. 第1-4部分: 檢測薄膜Cu(In,Ga)(S,Se)2基電池光伏(PV)模組的特殊要求

BS EN IEC 61215-1-3:2021地面光伏(PV)模組. 設計質量和型式批準. 第1-3部分: 檢測薄膜非晶硅基電池光伏(PV)模組的特殊要求

BS QC 760101-1997電子元器件質量評定協(xié)調體系.半導體器件.集成電路.空白詳細規(guī)范.薄膜和混合集成電路:質量認可規(guī)程

BS QC 760201-1997電子元器件質量評定協(xié)調體系.半導體裝置.集成電路.空白詳細規(guī)范.薄膜和混合集成電路:性能認可

BS QC 760100-1997電子元器件質量評定協(xié)調體系.半導體器件.集成電路.薄膜和混合集成電路分規(guī)范:合格批準程序

BS QC 760200-1997電子元件質量評定協(xié)調體系.半導體裝置.集成電路.薄膜集成電路和混合薄膜集成電路分規(guī)范:性能認可

BS QC 390000-1992電子元器件質量評估協(xié)調體系.電子設備用固定薄膜電阻器網絡.一般規(guī)范

BS QC 390100-1992電子元件質量評估協(xié)調體系.電子設備用固定薄膜電阻網絡.根據性能鑒定程序評估的質量薄膜電阻網絡分規(guī)范

BS QC 301700-1992電子元器件質量評定協(xié)調體系.電子設備用固定電容器.聚碳酸酯薄膜介質金屬箔直流固定電容器分規(guī)范

BS QC 300100-1991電子元器件質量評定協(xié)調體系.電子設備用固定電容器.分規(guī)范:固定聚乙烯--對苯二酸酯薄膜介質金屬箔直流電容器

BS QC 300900-1991電子元器件質量評估協(xié)調體系.電子設備用固定電容器.分規(guī)范:聚苯乙烯薄膜介質金屬箔直流固定電容器

BS QC 301800-1991電子元器件質量評估協(xié)調體系.電子設備用固定電容器.聚丙烯薄膜介質金屬箔直流固定電容器分規(guī)范

BS CECC 63000-1990電子元器件用質量評估協(xié)調體系.一般規(guī)范:薄膜和混合式集成電路

BS QC 301301-1990電子元器件質量評估協(xié)調體系.電子設備用固定電容器.空白詳細規(guī)范:金屬化聚丙烯薄膜介質交流和脈沖固定式電容器.評估等級E

BS QC 300501-1990電子元器件質量評估的協(xié)調體系.電子設備用固定電容器.空白詳細規(guī)范:金屬化聚碳酸酯薄膜介質直流固定電容器.評估等級E

BS QC 760000-1990電子元器件質量評估協(xié)調體系.薄膜和混合薄膜集成電路.一般規(guī)范

BS QC 300500-1989電子元器件質量評估協(xié)調體系.電子設備用固定電容器.分規(guī)范:金屬化聚碳酸酯薄膜介質直流固定電容器

BS QC 301300-1989電子元器件質量評估協(xié)調體系.電子設備用固定電容器.分規(guī)范:金屬化聚丙烯薄膜介質交流和脈沖固定電容器

BS CECC 30500-1989電子元器件質量評定協(xié)調體系.分規(guī)范:固定式金屬化聚碳酸酯薄膜介質直流電容器

BS CECC 30401-1985電子元器件用質量評估協(xié)調體系規(guī)范.空白詳細規(guī)范:固定式金屬化聚乙烯-對苯二酸鹽薄膜介質直流電容器

BS CECC 63200-1985電子元件質量評定協(xié)調體系.分規(guī)范.薄膜和混合集成電路(性能鑒定)

BS CECC 63201-1985電子元器件用質量評估協(xié)調體系.空白詳細規(guī)范.薄膜混合集成電路(性能認可)

BS CECC 63100-1985電子元件質量評定協(xié)調體系.分規(guī)范.薄膜和混合集成電路

BS CECC 63101-1985電子元器件用質量評估協(xié)調體系規(guī)范.空白詳細規(guī)范:薄膜和混合集成電路

BS CECC 30400-1984電子元器件用質量評估協(xié)調體系.分規(guī)范:固定式金屬化聚乙烯-對苯二酸鹽薄膜介質直流電容器

，關于薄膜質量的標準

STAS 9067-1979聚苯乙烯薄膜介質電容器（STIROGEN）一般質量技術要求

STAS 10452/4-1975帶鋁質薄膜的瀝青水絕緣材料．玻璃纖維制縮絨的鋁質薄膜．質量特殊技術條件

國際標準化組織，關于薄膜質量的標準

ISO 22278:2020精細陶瓷（高級陶瓷 高級工業(yè)陶瓷）.用平行X射線束X射線衍射法測定單晶薄膜（晶片）結晶質量的試驗方法

國際電工委員會，關于薄膜質量的標準

IEC 62899-503-1:2020印刷電子.第503-1部分:質量評定.印刷薄膜晶體管位移電流測量的試驗方法

IEC 61215-1-2:2016地面光伏(PV)模組. 設計質量和型式批準. 第1-2部分: 檢測薄膜碲化鎘(CdTe)基光伏(PV)模組的特殊要求

法國標準化協(xié)會，關于薄膜質量的標準

NF T54-197-2014塑料. 工業(yè)聚合物基薄板和薄膜. 采用高頻焊接工藝裝配的熱塑薄板或薄膜焊接性的常規(guī)評估方法. 質量和焊接評估

NF C86-432-1988半導體器件.電子元件統(tǒng)一質量評審體系.帶薄膜電阻器的電路.空白詳細規(guī)范.規(guī)范 CECC 64 100

NF C86-433-1988半導體器件.電子元件統(tǒng)一質量評審體系.薄膜電阻器電路(批準程序).分規(guī)范

NF C86-430-1988半導體器件.電子元件統(tǒng)一質量評審系統(tǒng).帶固定薄膜電阻器的電路.總規(guī)范

NF C86-434-1988半導體器件.電子元件統(tǒng)一質量評審體系.薄膜電阻器電路(批準程序).規(guī)范CECC 64 201

NF C86-431-1988半導體器件.電子元件統(tǒng)一質量評審體系.帶固定薄膜電阻器的電路.分規(guī)范.規(guī)范 CECC 64 100

NF C83-151-1988電子元器件質量評估協(xié)調體系.分規(guī)范.空白詳細規(guī)范.直流金屬化聚乙烯酞酸鹽薄膜固定電容器.(規(guī)范 CECC 30 400 和 CECC 30 401)

NF C86-412-1987半導體器件.電子元件統(tǒng)一質量評定體系.薄膜混合集成電路.空白詳細規(guī)范

NF C86-411-1987半導體器件.電子元件統(tǒng)一質量評定體系.薄膜混合集成電路.分規(guī)范

NF C86-414-1987半導體器件.電子元件統(tǒng)一質量評定體系.薄膜混合集成電路路.功能認可..空白詳細規(guī)范

NF C86-413-1987半導體器件.電子元件統(tǒng)一質量評定體系.薄膜混合集成電路.功能認可.分規(guī)范

NF C83-155-1983電子元器件質量評估協(xié)調體系.分規(guī)范.空白詳細規(guī)范.直流聚苯乙烯薄膜固定電容器

NF C83-153-1981電子元器件質量評估協(xié)調體系.分規(guī)范.直流金屬化聚碳酸酯薄膜固定電介質電容器

美國通用公司（全球），關于薄膜質量的標準

GMW GMW16170-2011薄膜.納米厚度(NT)的預處理一般質量要求.第2次出版(英文版本)

韓國標準，關于薄膜質量的標準

KS C IEC 61646:2010薄膜地面光電(PV)模數.設計質量和型號核準

美國通用公司（北美），關于薄膜質量的標準

GM 9986321-2008薄膜.納米厚度(NT)預處理通用質量標準

美國材料與試驗協(xié)會，關于薄膜質量的標準

ASTM E252-06(2013)采用質量測量的箔片, 薄板和薄膜厚度的標準試驗方法

ASTM E252-06質量測量法測定箔片、薄板和薄膜厚度的標準試驗方法

ASTM E252-05質量測量法測定薄箔、薄板和薄膜厚度的標準試驗方法

ASTM E252-04用質量測量法測定薄箔和薄膜厚度的標準試驗方法

(美國)福特汽車標準，關于薄膜質量的標準

FORD WSB-M3G148-B-2005壓敏乙烯薄膜標簽內部質量(和FORD WSS-M99P1111-A一起使用)

歐洲航空航天和國防工業(yè)標準化協(xié)會，關于薄膜質量的標準

ASD-STAN PREN 3003-2002航空航天系列．非金屬材料結構粘合劑．薄膜粘合劑的單位面積質量的測定．試驗方法;第P1版

行業(yè)標準-電子，關于薄膜質量的標準

SJ/T 9551.4-1993薄膜介質C類預調可變電容器質量分等標準

SJ/T 9551.2-1993薄膜介質裝有整體C類預調電容器的A類調諧可變電容器質量分等標準

SJ/T 9551.1-1993薄膜介質A類調諧可變電容器質量分等標準

SJ/T 10219-1991薄膜電阻器制造質量控制要點

德國標準化學會，關于薄膜質量的標準

DIN 45910-132-1992電子元器件質量評定協(xié)調體系.詳細規(guī)范:長壽命等級、圓柱形、絕緣、徑向連接包括印制電路(CECC3 501-034)用 、DC63至630V額定直流電壓、金屬化的聚碳酸酯薄膜介質的固定電容器.

DIN 45910-133-1992電子元器件質量評定協(xié)調體系.詳細規(guī)范:長壽命等級、長方形、絕緣、徑向連接包括印制電路(CECC0501-035)用 、DC63至630V額定直流電壓、金屬化的聚碳酸酯薄膜介質的固定電容器.

DIN 45910-272-1992電子元器件質量評定協(xié)調體系.詳細規(guī)范:環(huán)境類型55/085/56、長壽命等級、穩(wěn)定等級1、長方形、絕緣、印制電路用徑向連接、DC63至630V直流電壓、聚丙烯薄膜介質的金屬箔電容器

DIN 45910-274-1992電子元器件質量評定協(xié)調體系.詳細規(guī)范:環(huán)境類型40/085/21、通用、圓柱形、絕緣、印制電路的徑向連接、穩(wěn)定等級1級、DC63至630V直流電壓、聚丙烯薄膜介質金屬箔電容器.

DIN 45910-114-1991電子元器件質量評定協(xié)調體系.詳細規(guī)范：環(huán)境類型 55/100/56 (CECC-30401-053) 、長壽命等級、圓柱形、絕緣、軸向端接、包括印制電路用直流63至630V、金屬化聚對苯二甲酸乙二醇酯薄膜電容器.

DIN 45941-11-1987電子元件質量評定協(xié)調體系.分規(guī)范:混合集成電路和薄膜集成電路(性能檢驗)(CECC63200)

DIN 45910-111-1985電子元件質量評估協(xié)調體系.空白詳細規(guī)范.第111部分:固定式金屬化聚乙烯對苯二酸鹽薄膜介質直流電容器

檢測報告有效期

一般薄膜質量檢測報告上會標注實驗室收到樣品的時間、出具報告的時間，不會標注有效期。

檢測費用價格

需要根據檢測項目、樣品數量及檢測標準而定，請聯系我們確定后報價。

檢測流程步驟

溫馨提示：以上內容為部分列舉，僅供參考使用。更多檢測問題請咨詢客服。