- N +

背散射衍射檢測(cè)

檢測(cè)報(bào)告圖片

檢測(cè)報(bào)告圖片

背散射衍射檢測(cè)報(bào)告如何辦理?檢測(cè)項(xiàng)目及標(biāo)準(zhǔn)有哪些?百檢第三方檢測(cè)機(jī)構(gòu),嚴(yán)格按照背散射衍射檢測(cè)相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行測(cè)試和評(píng)估。做檢測(cè),找百檢。我們只做真實(shí)檢測(cè)。

涉及背 散射 衍射的標(biāo)準(zhǔn)有19條。

國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)分類(lèi)中,背 散射 衍射涉及到分析化學(xué)、金屬材料試驗(yàn)、消防。

在中國(guó)標(biāo)準(zhǔn)分類(lèi)中,背 散射 衍射涉及到基礎(chǔ)標(biāo)準(zhǔn)與通用方法、金相檢驗(yàn)方法、消防綜合、電化學(xué)、熱化學(xué)、光學(xué)式分析儀器、電子光學(xué)與其他物理光學(xué)儀器。

國(guó)家市場(chǎng)監(jiān)督管理總局、中國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會(huì),關(guān)于背 散射 衍射的標(biāo)準(zhǔn)

GB/T 41076-2021微束分析 電子背散射衍射 鋼中奧氏體的定量分析

未注明發(fā)布機(jī)構(gòu),關(guān)于背 散射 衍射的標(biāo)準(zhǔn)

GB/T 38532-2020微束分析 電子背散射衍射 平均晶粒尺寸的測(cè)定

國(guó)家質(zhì)檢總局,關(guān)于背 散射 衍射的標(biāo)準(zhǔn)

GB/T 36165-2018金屬平均晶粒度的測(cè)定電子背散射衍射(EBSD)法

GB/T 30703-2014微束分析 電子背散射衍射取向分析方法導(dǎo)則

GB/T 19501-2013微束分析 電子背散射衍射分析方法通則

GB/T 19501-2004電子背散射衍射分析方法通則

中華人民共和國(guó)國(guó)家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫總局、中國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會(huì),關(guān)于背 散射 衍射的標(biāo)準(zhǔn)

GB/T 34172-2017微束分析 電子背散射衍射 金屬及合金的相分析方法

國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)化組織,關(guān)于背 散射 衍射的標(biāo)準(zhǔn)

ISO 23749:2022微束分析.電子背散射衍射.鋼中奧氏體的定量測(cè)定

ISO 23703:2022微束分析.用電子背散射衍射(EBSD)評(píng)估奧氏體不銹鋼機(jī)械損傷的取向分析指南

ISO 24173:2009微光束分析.用電子背散射衍射進(jìn)行定向測(cè)量的指南

美國(guó)材料與試驗(yàn)協(xié)會(huì),關(guān)于背 散射 衍射的標(biāo)準(zhǔn)

ASTM E2627-13(2019)用電子背散射衍射(EBSD)測(cè)定完全再結(jié)晶多晶材料中平均晶粒尺寸的標(biāo)準(zhǔn)實(shí)施規(guī)程

ASTM E2627-13使用完全再結(jié)晶多晶材料中的電子背散射衍射 (EBSD) 測(cè)定平均粒徑的標(biāo)準(zhǔn)實(shí)施規(guī)程

上海市標(biāo)準(zhǔn),關(guān)于背 散射 衍射的標(biāo)準(zhǔn)

DB31/T 1156-2019電氣火災(zāi)熔痕技術(shù)鑒定 電子背散射衍射法

工業(yè)和信息化部,關(guān)于背 散射 衍射的標(biāo)準(zhǔn)

YB/T 4677-2018鋼中織構(gòu)的測(cè)定電子背散射衍射(EBSD)法

,關(guān)于背 散射 衍射的標(biāo)準(zhǔn)

GOST R ISO 13067:2016確保測(cè)量一致性的國(guó)家系統(tǒng). 微束分析. 電子背散射衍射. 平均粒度的測(cè)量

德國(guó)標(biāo)準(zhǔn)化學(xué)會(huì),關(guān)于背 散射 衍射的標(biāo)準(zhǔn)

DIN ISO 24173:2013微光束分析.使用電子背散射衍射進(jìn)行定向測(cè)量的指南(ISO 24713-2009)

法國(guó)標(biāo)準(zhǔn)化協(xié)會(huì),關(guān)于背 散射 衍射的標(biāo)準(zhǔn)

NF X21-014-2012微束分析.電子背散射衍射.平均粒度的測(cè)量

NF X21-011-2009微光束分析.應(yīng)用電子背散射衍射定向測(cè)量的指南

英國(guó)標(biāo)準(zhǔn)學(xué)會(huì),關(guān)于背 散射 衍射的標(biāo)準(zhǔn)

BS ISO 13067:2011微光束分析.背散射電子衍射.平均顆粒粒度測(cè)量

檢測(cè)報(bào)告有效期

一般背散射衍射檢測(cè)報(bào)告上會(huì)標(biāo)注實(shí)驗(yàn)室收到樣品的時(shí)間、出具報(bào)告的時(shí)間,不會(huì)標(biāo)注有效期。

檢測(cè)費(fèi)用價(jià)格

需要根據(jù)檢測(cè)項(xiàng)目、樣品數(shù)量及檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)而定,請(qǐng)聯(lián)系我們確定后報(bào)價(jià)。

檢測(cè)流程步驟

檢測(cè)流程步驟

溫馨提示:以上內(nèi)容為部分列舉,僅供參考使用。更多檢測(cè)問(wèn)題請(qǐng)咨詢(xún)客服。

返回列表
上一篇:半自動(dòng)切換裝置檢測(cè)
下一篇:保護(hù)野生動(dòng)植物檢測(cè)