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半峰寬頻率檢測(cè)

檢測(cè)報(bào)告圖片

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半峰寬頻率檢測(cè)報(bào)告如何辦理?檢測(cè)項(xiàng)目及標(biāo)準(zhǔn)有哪些?百檢第三方檢測(cè)機(jī)構(gòu),嚴(yán)格按照半峰寬頻率檢測(cè)相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行測(cè)試和評(píng)估。做檢測(cè),找百檢。我們只做真實(shí)檢測(cè)。

涉及半峰寬 頻率的標(biāo)準(zhǔn)有11條。

國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)分類中,半峰寬 頻率涉及到數(shù)據(jù)存儲(chǔ)設(shè)備、頻率控制和選擇用壓電器件與介質(zhì)器件。

在中國(guó)標(biāo)準(zhǔn)分類中,半峰寬 頻率涉及到磁記錄材料、標(biāo)號(hào)和文卷結(jié)構(gòu)、石英晶體、壓電元件。

韓國(guó)標(biāo)準(zhǔn),關(guān)于半峰寬 頻率的標(biāo)準(zhǔn)

KS X ISO 8063-2-2014信息處理.使用252次磁通變換/mm(6400次磁通變換/in)的強(qiáng)度調(diào)制和頻率調(diào)制(IMFM)錄制的寬6.3mm(0.25in)盒式磁帶的數(shù)據(jù)交換.第2部分:起始/終止?fàn)顟B(tài)數(shù)據(jù)交換的磁道排列格式和錄制方法

KS X ISO 8063-2-2014信息處理.使用252次磁通變換/mm(6400次磁通變換/in)的強(qiáng)度調(diào)制和頻率調(diào)制(IMFM)錄制的寬6.3mm(0.25in)盒式磁帶的數(shù)據(jù)交換.第2部分:起始/終止?fàn)顟B(tài)數(shù)據(jù)交換的磁道排列格式和錄制方法

KS X ISO 8063-2-2004信息處理.使用252次磁通變換/mm(6400次磁通變換/in)的強(qiáng)度調(diào)制和頻率調(diào)制(IMFM)錄制的寬6.3mm(0.25in)盒式磁帶的數(shù)據(jù)交換.第2部分:起始/終止?fàn)顟B(tài)數(shù)據(jù)交換的磁道排列格式和錄制方法

法國(guó)標(biāo)準(zhǔn)化協(xié)會(huì),關(guān)于半峰寬 頻率的標(biāo)準(zhǔn)

NF Z64-132-1992信息處理.使用126次頻率變換/mm下相位編碼的信息交換用9磁道、12.7mm寬磁帶.63 CPMM(1600 CPI)

英國(guó)標(biāo)準(zhǔn)學(xué)會(huì),關(guān)于半峰寬 頻率的標(biāo)準(zhǔn)

BS 9612 N010-1979振蕩器用冷焊密封石英晶體振子詳細(xì)規(guī)范.DP外殼、6.0至25MHz頻率范圍.寬溫范圍(非溫控)操作的基波厚度剪切模式、晶片AT切割.全面評(píng)定級(jí)

BS 9612 N016-1979振蕩器用電阻焊接密封石英晶體元件用詳細(xì)規(guī)范.DN、DZ、DQ和DP外殼、0.8~20 MHz和3.0~30 MHz頻率范圍.寬溫范圍(非溫控)操作的基波厚度剪切模式、晶片AT切割.全面評(píng)估等級(jí)

BS 9612 N020-1979振蕩器用冷焊密封石英晶體振子詳細(xì)規(guī)范.DN、D2、DQ和DP外殼、17至75MHz頻率范圍.寬溫范圍(非溫控)操作的第五諧波厚度剪切模式、晶片AT切割.全面評(píng)定級(jí)

BS 9612 N018-1979振蕩器用電阻焊密封石英晶體振子詳細(xì)規(guī)范.DN、D2、DQ和DP外殼、17至75MHz頻率范圍.寬溫范圍(非溫控)操作的第三諧波厚度剪切模式、晶片AT切割.全面評(píng)定級(jí)

BS 9612 N006-1977振蕩器用冷焊密封石英晶體振子詳細(xì)規(guī)范.DN、47U/2、DQ和DP外殼、17至75MHz頻率范圍.寬溫范圍(非溫控)操作的第三諧波厚度剪切模式、晶片AT切割.全面評(píng)定級(jí)

BS 9612 N004-1977振蕩器用冷焊密封石英晶體振子詳細(xì)規(guī)范.DN、47 U/2、DQ和DP外殼、0.8至20MHz和3.0到30MHz頻率范圍.寬溫范圍(非溫控)操作的基波厚度剪切模式、晶片AT切割.全面評(píng)定級(jí)

BS 9612 N008-1977振蕩器用冷焊密封石英晶體振子詳細(xì)規(guī)范.DN、DQ和DP外殼、50至125MHz頻率規(guī)范.寬溫范圍(非溫控)操作用第五諧波厚度剪切模式、晶片AT切割.全面評(píng)定級(jí)

檢測(cè)報(bào)告有效期

一般半峰寬頻率檢測(cè)報(bào)告上會(huì)標(biāo)注實(shí)驗(yàn)室收到樣品的時(shí)間、出具報(bào)告的時(shí)間,不會(huì)標(biāo)注有效期。

檢測(cè)費(fèi)用價(jià)格

需要根據(jù)檢測(cè)項(xiàng)目、樣品數(shù)量及檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)而定,請(qǐng)聯(lián)系我們確定后報(bào)價(jià)。

檢測(cè)流程步驟

檢測(cè)流程步驟

溫馨提示:以上內(nèi)容為部分列舉,僅供參考使用。更多檢測(cè)問(wèn)題請(qǐng)咨詢客服。

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