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集成電路數(shù)字/模擬轉(zhuǎn)換器檢測

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集成電路數(shù)字/模擬轉(zhuǎn)換器檢測

檢測項目及執(zhí)行標準一覽表

序號 檢測標準 檢測對象 檢測項目
1 集成電路A/D和D/A轉(zhuǎn)換器測試方法的基本原理 SJ20961-2006 集成電路數(shù)字/模擬轉(zhuǎn)換器 分辨力
2 集成電路A/D和D/A轉(zhuǎn)換器測試方法的基本原理 SJ20961-2006 5.2.9 集成電路數(shù)字/模擬轉(zhuǎn)換器 功耗P<Sub>W
3 集成電路A/D和D/A轉(zhuǎn)換器測試方法的基本原理 SJ20961-2006 5.1.3 集成電路數(shù)字/模擬轉(zhuǎn)換器 增益誤差E<Sub>G
4 集成電路A/D和D/A轉(zhuǎn)換器測試方法的基本原理 SJ20961-2006 5.1.7 集成電路數(shù)字/模擬轉(zhuǎn)換器 微分線性誤差E<Sub>DL
5 集成電路A/D和D/A轉(zhuǎn)換器測試方法的基本原理 SJ20961-2006 5.1.15 集成電路數(shù)字/模擬轉(zhuǎn)換器 數(shù)字端輸入漏電流I<Sub>I
6 集成電路A/D和D/A轉(zhuǎn)換器測試方法的基本原理 SJ20961-2006 5.2.14 集成電路數(shù)字/模擬轉(zhuǎn)換器 數(shù)字輸入低電平電壓V<Sub>IL
7 集成電路A/D和D/A轉(zhuǎn)換器測試方法的基本原理 SJ20961-2006 5.2.14 集成電路數(shù)字/模擬轉(zhuǎn)換器 數(shù)字輸入低電平電流I<Sub>IL
8 集成電路A/D和D/A轉(zhuǎn)換器測試方法的基本原理 SJ20961-2006 5.1.15 集成電路數(shù)字/模擬轉(zhuǎn)換器 數(shù)字輸入高電平電壓V<Sub>IH
9 集成電路A/D和D/A轉(zhuǎn)換器測試方法的基本原理 SJ20961-2006 5.2.14 集成電路數(shù)字/模擬轉(zhuǎn)換器 數(shù)字輸入高電平電流I<Sub>IH
10 集成電路A/D和D/A轉(zhuǎn)換器測試方法的基本原理 SJ20961-2006 5.1.9 集成電路數(shù)字/模擬轉(zhuǎn)換器 電源電流I<Sub>CC(或I<Sub>EE)

檢測時間周期

一般3-10天出報告,有的項目1天出報告,具體根據(jù)集成電路數(shù)字/模擬轉(zhuǎn)換器檢測項目而定。

檢測報告有效期

一般集成電路數(shù)字/模擬轉(zhuǎn)換器檢測報告上會標注實驗室收到樣品的時間、出具報告的時間。檢測報告上不會標注有效期。

檢測流程步驟

1、電話溝通、確認需求;

2、推薦方案、確認報價;

3、郵寄樣品、安排檢測;

4、進度跟蹤、結(jié)果反饋;

5、出具報告、售后服務(wù);

6、如需加急、優(yōu)先處理;

檢測流程步驟

溫馨提示:以上關(guān)于《集成電路數(shù)字/模擬轉(zhuǎn)換器檢測》內(nèi)容僅為部分列舉供參考使用,百檢網(wǎng)匯集眾多CNAS、CMA、CAL等資質(zhì)的檢測機構(gòu)遍布全國,更多檢測需求請咨詢客服。

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