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檢測項目及執(zhí)行標準一覽表
序號 | 檢測標準 | 檢測對象 | 檢測項目 |
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1 | 集成電路A/D和D/A轉(zhuǎn)換器測試方法的基本原理 SJ20961-2006 | 集成電路數(shù)字/模擬轉(zhuǎn)換器 | 分辨力 |
2 | 集成電路A/D和D/A轉(zhuǎn)換器測試方法的基本原理 SJ20961-2006 5.2.9 | 集成電路數(shù)字/模擬轉(zhuǎn)換器 | 功耗P<Sub>W |
3 | 集成電路A/D和D/A轉(zhuǎn)換器測試方法的基本原理 SJ20961-2006 5.1.3 | 集成電路數(shù)字/模擬轉(zhuǎn)換器 | 增益誤差E<Sub>G |
4 | 集成電路A/D和D/A轉(zhuǎn)換器測試方法的基本原理 SJ20961-2006 5.1.7 | 集成電路數(shù)字/模擬轉(zhuǎn)換器 | 微分線性誤差E<Sub>DL |
5 | 集成電路A/D和D/A轉(zhuǎn)換器測試方法的基本原理 SJ20961-2006 5.1.15 | 集成電路數(shù)字/模擬轉(zhuǎn)換器 | 數(shù)字端輸入漏電流I<Sub>I |
6 | 集成電路A/D和D/A轉(zhuǎn)換器測試方法的基本原理 SJ20961-2006 5.2.14 | 集成電路數(shù)字/模擬轉(zhuǎn)換器 | 數(shù)字輸入低電平電壓V<Sub>IL |
7 | 集成電路A/D和D/A轉(zhuǎn)換器測試方法的基本原理 SJ20961-2006 5.2.14 | 集成電路數(shù)字/模擬轉(zhuǎn)換器 | 數(shù)字輸入低電平電流I<Sub>IL |
8 | 集成電路A/D和D/A轉(zhuǎn)換器測試方法的基本原理 SJ20961-2006 5.1.15 | 集成電路數(shù)字/模擬轉(zhuǎn)換器 | 數(shù)字輸入高電平電壓V<Sub>IH |
9 | 集成電路A/D和D/A轉(zhuǎn)換器測試方法的基本原理 SJ20961-2006 5.2.14 | 集成電路數(shù)字/模擬轉(zhuǎn)換器 | 數(shù)字輸入高電平電流I<Sub>IH |
10 | 集成電路A/D和D/A轉(zhuǎn)換器測試方法的基本原理 SJ20961-2006 5.1.9 | 集成電路數(shù)字/模擬轉(zhuǎn)換器 | 電源電流I<Sub>CC(或I<Sub>EE) |
檢測時間周期
一般3-10天出報告,有的項目1天出報告,具體根據(jù)集成電路數(shù)字/模擬轉(zhuǎn)換器檢測項目而定。
檢測報告有效期
一般集成電路數(shù)字/模擬轉(zhuǎn)換器檢測報告上會標注實驗室收到樣品的時間、出具報告的時間。檢測報告上不會標注有效期。
檢測流程步驟
1、電話溝通、確認需求;
2、推薦方案、確認報價;
3、郵寄樣品、安排檢測;
4、進度跟蹤、結(jié)果反饋;
5、出具報告、售后服務(wù);
6、如需加急、優(yōu)先處理;
溫馨提示:以上關(guān)于《集成電路數(shù)字/模擬轉(zhuǎn)換器檢測》內(nèi)容僅為部分列舉供參考使用,百檢網(wǎng)匯集眾多CNAS、CMA、CAL等資質(zhì)的檢測機構(gòu)遍布全國,更多檢測需求請咨詢客服。