檢測(cè)報(bào)告圖片
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檢測(cè)項(xiàng)目及執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn)一覽表
序號(hào) | 檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn) | 檢測(cè)對(duì)象 | 檢測(cè)項(xiàng)目 |
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1 | 器件級(jí)靜電放電靈敏度測(cè)試-人體模式 ANSI/ESDA/JEDEC JS-001-2017 | 功率金屬氧化物場(chǎng)效應(yīng)管 | 人體靜電放電模式 |
2 | 半導(dǎo)體測(cè)試方法測(cè)試標(biāo)準(zhǔn) MIL-STD-750F:2012 4011.4 | 功率金屬氧化物場(chǎng)效應(yīng)管 | 體二*管壓降 |
3 | 半導(dǎo)體測(cè)試方法測(cè)試標(biāo)準(zhǔn) MIL-STD-750F:2012 3473.1 | 功率金屬氧化物場(chǎng)效應(yīng)管 | 體二*管反向恢復(fù)時(shí)間 |
4 | 半導(dǎo)體測(cè)試方法測(cè)試標(biāo)準(zhǔn) MIL-STD-750F:2012 3473.1 | 功率金屬氧化物場(chǎng)效應(yīng)管 | 體二*管反向恢復(fù)電荷 |
5 | 半導(dǎo)體測(cè)試方法測(cè)試標(biāo)準(zhǔn) MIL-STD-750F:2012 3470.2 | 功率金屬氧化物場(chǎng)效應(yīng)管 | 單脈沖雪崩能量 |
6 | 半導(dǎo)體器件 分立器件 第8部分:場(chǎng)效應(yīng)晶體管 IEC 60747-8:2010 6.3.12 | 功率金屬氧化物場(chǎng)效應(yīng)管 | 反向傳輸電容 |
7 | 半導(dǎo)體分立器件試驗(yàn)方法 GJB 128A-1997 3472 | 功率金屬氧化物場(chǎng)效應(yīng)管 | 開關(guān)時(shí)間 |
8 | 半導(dǎo)體測(cè)試方法測(cè)試標(biāo)準(zhǔn) MIL-STD-750F:2012 3472.2 | 功率金屬氧化物場(chǎng)效應(yīng)管 | 開關(guān)時(shí)間 |
9 | 器件級(jí)靜電放電靈敏度測(cè)試-機(jī)械模式 ANSI/ESD STM5.2-2012 | 功率金屬氧化物場(chǎng)效應(yīng)管 | 機(jī)械靜電放電模式 |
10 | 功率MOSFET柵*串聯(lián)等效電阻測(cè)試方法 JESD24-11:1996(R2002) | 功率金屬氧化物場(chǎng)效應(yīng)管 | 柵*串聯(lián)等效電阻 |
檢測(cè)時(shí)間周期
一般3-10天出報(bào)告,有的項(xiàng)目1天出報(bào)告,具體根據(jù)功率金屬氧化物場(chǎng)效應(yīng)管檢測(cè)項(xiàng)目而定。
檢測(cè)報(bào)告有效期
一般功率金屬氧化物場(chǎng)效應(yīng)管檢測(cè)報(bào)告上會(huì)標(biāo)注實(shí)驗(yàn)室收到樣品的時(shí)間、出具報(bào)告的時(shí)間。檢測(cè)報(bào)告上不會(huì)標(biāo)注有效期。
檢測(cè)流程步驟
1、電話溝通、確認(rèn)需求;
2、推薦方案、確認(rèn)報(bào)價(jià);
3、郵寄樣品、安排檢測(cè);
4、進(jìn)度跟蹤、結(jié)果反饋;
5、出具報(bào)告、售后服務(wù);
6、如需加急、優(yōu)先處理;
溫馨提示:以上關(guān)于《功率金屬氧化物場(chǎng)效應(yīng)管檢測(cè)》內(nèi)容僅為部分列舉供參考使用,百檢網(wǎng)匯集眾多CNAS、CMA、CAL等資質(zhì)的檢測(cè)機(jī)構(gòu)遍布全國(guó),更多檢測(cè)需求請(qǐng)咨詢客服。