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檢測項目及執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn)一覽表
| 序號 | 檢測標(biāo)準(zhǔn) | 檢測對象 | 檢測項目 |
|---|---|---|---|
| 1 | 半導(dǎo)體分立器件試驗方法 GJB128A-1997 方法2071 | 半導(dǎo)體分立器件篩選 | 外觀及機械檢驗 |
| 2 | 半導(dǎo)體分立器件試驗方法 GJB128A-1997 方法1051 | 半導(dǎo)體分立器件篩選 | 溫度循環(huán) |
| 3 | 半導(dǎo)體分立器件試驗方法 GJB128A-1997 方法1026、1027 | 半導(dǎo)體分立器件篩選 | 穩(wěn)態(tài)工作壽命 |
| 4 | 半導(dǎo)體分立器件試驗方法 GJB128A-1997 方法1042 | 半導(dǎo)體分立器件篩選 | 老煉和壽命試驗（IGBT) |
| 5 | 半導(dǎo)體分立器件試驗方法 GJB128A-1997 方法1038 | 半導(dǎo)體分立器件篩選 | 老煉（二*管、整流管、穩(wěn)壓管） |
| 6 | 半導(dǎo)體分立器件試驗方法 GJB128A-1997 方法1039 | 半導(dǎo)體分立器件篩選 | 老煉（晶體管） |
| 7 | 半導(dǎo)體分立器件試驗方法 GJB128A-1997 方法1040 | 半導(dǎo)體分立器件篩選 | 老煉（閘流晶體管） |
| 8 | 半導(dǎo)體分立器件試驗方法 GJB128A-1997 方法2073 | 半導(dǎo)體分立器件篩選 | 芯片目檢（半導(dǎo)體二*管） |
| 9 | 半導(dǎo)體分立器件試驗方法 GJB128A-1997 方法1031、1032 | 半導(dǎo)體分立器件篩選 | 高溫壽命 |
| 10 | 半導(dǎo)體分立器件試驗方法 GJB128A-1997 方法1071 | 半導(dǎo)體分立器件篩選 | 密封性檢測 |
檢測時間周期
一般3-10天出報告，有的項目1天出報告，具體根據(jù)半導(dǎo)體分立器件篩選檢測項目而定。
檢測報告有效期
一般半導(dǎo)體分立器件篩選檢測報告上會標(biāo)注實驗室收到樣品的時間、出具報告的時間。檢測報告上不會標(biāo)注有效期。
檢測流程步驟
1、電話溝通、確認(rèn)需求；
2、推薦方案、確認(rèn)報價；
3、郵寄樣品、安排檢測；
4、進(jìn)度跟蹤、結(jié)果反饋；
5、出具報告、售后服務(wù)；
6、如需加急、優(yōu)先處理；
溫馨提示：以上關(guān)于《半導(dǎo)體分立器件篩選檢測》內(nèi)容僅為部分列舉供參考使用，百檢網(wǎng)匯集眾多CNAS、CMA、CAL等資質(zhì)的檢測機構(gòu)遍布全國，更多檢測需求請咨詢客服。
