檢測(cè)報(bào)告圖片模板

氮化鎵檢測(cè)CMA報(bào)告成分分析檢測(cè)中心可以為您提供材料成分分析、指標(biāo)檢測(cè)、性能測(cè)試等服務(wù)。檢測(cè)報(bào)告可以提高消費(fèi)者對(duì)您產(chǎn)品的信賴。

檢測(cè)項(xiàng)目

物理性質(zhì)、化學(xué)性質(zhì)、穩(wěn)定性、耐高溫性、防水性、防潮性、溶解度、電離度、硬度、電學(xué)特性、光學(xué)特性等。

檢測(cè)范圍

氮化鎵充電器、硅基氮化鎵、氮化鎵襯底、半極性氮化鎵、氮化鎵半導(dǎo)體、氮化鎵晶體管、氮化鎵功放管等。

檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)

DB35/T1509-2015發(fā)光二極管氮化鎵倒裝芯片技術(shù)規(guī)范

GB/T30854-2014LED發(fā)光用氮化鎵基外延片

GB/T31092-2014藍(lán)寶石單晶晶錠

GB/T32188-2015氮化鎵單晶襯底片X射線雙晶搖擺曲線半高寬測(cè)試方法

GB/T32189-2015氮化鎵單晶襯底表面粗糙度的原子力顯微鏡檢驗(yàn)法

GB/T32282-2015氮化鎵單晶位錯(cuò)密度的測(cè)量陰極熒光顯微鏡法

GB/T36705-2018氮化鎵襯底片載流子濃度的測(cè)試?yán)庾V法

GB/T37053-2018氮化鎵外延片及襯底片通用規(guī)范

GB/T37466-2019氮化鎵激光剝離設(shè)備

GB/T39144-2020氮化鎵材料中鎂含量的測(cè)定二次離子質(zhì)譜法

SJ21442-2018GaN-SI型半絕緣氮化鎵單晶片規(guī)范

SJ21443-2018GaN-N型低阻氮化鎵單晶片規(guī)范

SJ21534-2018微波功率器件用氮化鎵外延片規(guī)范

T/CASAS010-2019氮化鎵材料中痕量雜質(zhì)濃度及分布的二次離子質(zhì)譜檢測(cè)方法

T/GDC69-2020氮化鎵充電器

檢測(cè)流程步驟

第三方檢測(cè)機(jī)構(gòu)平臺(tái)

百檢網(wǎng)匯集眾多CNAS、CMA、CAL等資質(zhì)的檢測(cè)機(jī)構(gòu)遍布全國(guó)，檢測(cè)領(lǐng)域包括食品、環(huán)境、建材、電子、化工、汽車、家居、紡織品、農(nóng)產(chǎn)品等，具體請(qǐng)咨詢?cè)诰€客服。

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