檢測(cè)報(bào)告圖片

第三方檢測(cè)報(bào)告有效期

一般檢測(cè)報(bào)告上會(huì)標(biāo)注實(shí)驗(yàn)室收到樣品的時(shí)間、出具報(bào)告的時(shí)間。檢測(cè)報(bào)告上不會(huì)標(biāo)注有效期。

外延片檢測(cè)報(bào)告第三方檢測(cè)公司檢測(cè)中心可以為您提供材料成分分析、指標(biāo)檢測(cè)、性能測(cè)試等服務(wù)。檢測(cè)報(bào)告可以提高消費(fèi)者對(duì)您產(chǎn)品的信賴。

檢測(cè)項(xiàng)目

熱學(xué)性能檢測(cè)、電氣性能檢測(cè)、力學(xué)性能檢測(cè)、機(jī)械性能檢測(cè)等。

檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)

GB/T1550-2018非本征半導(dǎo)體材料導(dǎo)電類(lèi)型測(cè)試方法

GB/T8758-2006砷化鎵外延層厚度紅外干涉測(cè)量方法

GB/T12964-2018硅單晶拋光片

GB/T14015-1992硅-蘭寶石外延片

GB/T14139-2019硅外延片

GB/T14844-2018半導(dǎo)體材料牌號(hào)表示方法

GB/T19921-2018硅拋光片表面顆粒測(cè)試方法

GB/T24575-2009硅和外延片表面Na、Al、K和Fe的二次離子質(zhì)譜檢測(cè)方法

GB/T24578-2015硅片表面金屬沾污的全反射X光熒光光譜測(cè)試方法

GB/T26066-2010硅晶片上淺腐蝕坑檢測(cè)的測(cè)試方法

GB/T30653-2014Ⅲ族氮化物外延片結(jié)晶質(zhì)量測(cè)試方法

GB/T30654-2014Ⅲ族氮化物外延片晶格常數(shù)測(cè)試方法

GB/T30655-2014氮化物L(fēng)ED外延片內(nèi)量子效率測(cè)試方法

GB/T30854-2014LED發(fā)光用氮化鎵基外延片

檢測(cè)流程步驟

溫馨提示：以上關(guān)于《外延片檢測(cè)檢驗(yàn)認(rèn)證測(cè)試報(bào)告》內(nèi)容僅供參考使用，更多檢測(cè)需求請(qǐng)咨詢客服。