電阻片第三方檢測CMA/CNAS報(bào)告

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一般檢測報(bào)告上會標(biāo)注實(shí)驗(yàn)室收到樣品的時(shí)間、出具報(bào)告的時(shí)間。檢測報(bào)告上不會標(biāo)注有效期。

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外觀檢查和尺寸檢驗(yàn)、零功率電阻值、B值或電阻比、絕緣電阻、耐電壓測試、電阻/溫度特性測試、耗散系數(shù)檢測等。

電阻應(yīng)變片、應(yīng)變電阻片、氧化鋅電阻片、金屬電阻片、可調(diào)電阻片、保險(xiǎn)電阻片、壓敏電阻片、電阻片傳感器、厚膜傳感器等。

JJF1760-2019硅單晶電阻率標(biāo)準(zhǔn)樣片校準(zhǔn)規(guī)范

SJ/Z21584-2020片式膜固定電阻器統(tǒng)計(jì)過程控制技術(shù)實(shí)施指南

GB/T19289-2019電工鋼帶(片)的電阻率、密度和疊裝系數(shù)的測量方法

JB/T13778-2020壓縮機(jī)起動(dòng)器用正溫度系數(shù)熱敏電阻芯片

GB/T33970-2017電阻焊電極用Al2O3彌散強(qiáng)化銅片材

GB/T2522-2017電工鋼帶(片)涂層絕緣電阻和附著性測試方法

GB/T6145-2010錳銅、康銅精密電阻合金線、片及帶

GJB1432B-2009片式膜固定電阻器總規(guī)范

GB/T6617-2009硅片電阻率測定擴(kuò)展電阻探針法

GB/T6616-2009半導(dǎo)體硅片電阻率及硅薄膜薄層電阻測試方法非接觸渦流法

T/IAWBS013-2019半絕緣碳化硅單晶片電阻率非接觸測量方法

T/IAWBS011-2019導(dǎo)電碳化硅單晶片電阻率測量方法—非接觸渦流法

GB/T11073-2007硅片徑向電阻率變化的測量方法

GB/T19289-2003電工鋼片(帶)的密度、電阻率和疊裝系數(shù)的測量方法

T/CEC221-2019高梯度級低殘壓金屬氧化物電阻片通用技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)

DB13/T5026.3-2019石墨烯導(dǎo)電漿料物理性質(zhì)的測定方法第3部分：漿料極片電阻率的測定四探針法

JB/T2664.1-2010調(diào)壓器用炭電阻片柱第1部分：自動(dòng)電壓調(diào)整器用炭電阻片柱

JB/T9670-2014金屬氧化物避雷器電阻片用氧化鋅

SJ/T11482-2014電子設(shè)備用壓敏電阻器MYP型片式壓敏電阻器詳細(xì)規(guī)范評定水平E

SJ/T11278.4.2-2014電子設(shè)備用壓敏電阻器第4部分：分規(guī)范片式壓敏電阻器

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