檢測(cè)報(bào)告圖片

第三方檢測(cè)報(bào)告有效期

一般檢測(cè)報(bào)告上會(huì)標(biāo)注實(shí)驗(yàn)室收到樣品的時(shí)間、出具報(bào)告的時(shí)間。檢測(cè)報(bào)告上不會(huì)標(biāo)注有效期。

EBSD測(cè)試第三方檢驗(yàn)機(jī)構(gòu)檢測(cè)中心可以為您提供材料成分分析、指標(biāo)檢測(cè)、性能測(cè)試等服務(wù)。檢測(cè)報(bào)告可以提高消費(fèi)者對(duì)您產(chǎn)品的信賴。

檢測(cè)項(xiàng)目

EBSD分析、EBSD極圖、晶粒尺寸、晶粒形狀、晶粒取向、晶界錯(cuò)誤取??向、相的空間分布、局部變形和織構(gòu)等。

檢測(cè)范圍

陶瓷、鋅層、鋰、金屬、銅、粉末、鈮、噴金、合金、晶粒、單晶硅等。

檢測(cè)優(yōu)勢(shì)

1、科學(xué)技術(shù)研究所主要以檢驗(yàn)、檢測(cè)、試驗(yàn)、分析、測(cè)試為主，經(jīng)驗(yàn)豐富，服務(wù)范圍廣；2、本所擁有多家試驗(yàn)室分支，能夠在各地快速回應(yīng)客戶需求；3、檢測(cè)團(tuán)隊(duì)有齊全的檢測(cè)儀器，可以針對(duì)樣品進(jìn)行多方位的檢測(cè)；4、所有試驗(yàn)都重視保護(hù)客戶的隱私，簽定檢測(cè)數(shù)據(jù)保密協(xié)議；5、檢測(cè)時(shí)間短、費(fèi)用低、科學(xué)可靠、數(shù)據(jù)準(zhǔn)確；6、支持客戶寄樣檢測(cè)，也支持工程師上門采樣或者取樣。

檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)

ASTME2627-2013用電子背散射衍射技術(shù)測(cè)定充分再結(jié)晶多晶材料平均粒度的規(guī)程

ASTME2627-2013R2019

BSDDCEN/TS15436-3-2009

BSEN15430-1-2007+A1-2008

BSEN15431-2008

BSEN15432-2008

DVGWG441-2014AbsperrarmaturenFuerMaximalZulaessigeBetriebsdrueckeBis100BarInTransport-,Verteilungs-UndAnschlussleitungenDerGasversorgung

DVGWG453-2014MassnahmenBeiUnvollstaendigerTechnischerAbnahmedokumentationVonGasleitungenAusStahlFuerEinenBetriebsdruckGroesser5Bar

DVGWG462-2012GasleitungenAusStahlrohrenBis16BarBetriebsdruck-Errichtung

DVGWG492-2004Gas-messanlagenFuerEinenBetriebsdruckBisEinschliesslich100Bar-Planung,Fertigung,Errichtung,Pruefung,Inbetriebnahme,BetriebUndInstandhaltung

GB/T30703-2014微束分析電子背散射衍射取向分析方法導(dǎo)則

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GB/T36165-2018金屬平均晶粒度的測(cè)定電子背散射衍射(EBSD)法

GB/T38532-2020微束分析電子背散射衍射平均晶粒尺寸的測(cè)定

ISO24173-2009微光束分析用電子背散射衍射進(jìn)行定向測(cè)量的指南

YB/T4677-2018鋼中織構(gòu)的測(cè)定電子背散射衍射(EBSD)法

檢測(cè)流程步驟

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