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納米壓痕測(cè)試報(bào)告

檢測(cè)報(bào)告圖片

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第三方檢測(cè)報(bào)告有效期

一般檢測(cè)報(bào)告上會(huì)標(biāo)注實(shí)驗(yàn)室收到樣品的時(shí)間、出具報(bào)告的時(shí)間。檢測(cè)報(bào)告上不會(huì)標(biāo)注有效期。

納米壓痕測(cè)試報(bào)告如何辦理?檢測(cè)項(xiàng)目及標(biāo)準(zhǔn)有哪些?檢測(cè)報(bào)告辦理是一家集檢測(cè)、檢驗(yàn)、測(cè)試及技術(shù)服務(wù)為一體的科學(xué)、嚴(yán)謹(jǐn)、公正的綜合性百檢網(wǎng)第三方檢測(cè),擁有國(guó)內(nèi)外一線(xiàn)的檢測(cè)儀器設(shè)備,致力于為客戶(hù)的生產(chǎn)加工、內(nèi)銷(xiāo)、外貿(mào)進(jìn)出口提供一站式檢驗(yàn)測(cè)試方案。

檢測(cè)項(xiàng)目:

接觸剛度、蠕變、彈性功、塑性功、斷裂韌性、應(yīng)力-應(yīng)變曲線(xiàn)、疲勞、存儲(chǔ)模量、損耗模量等。

適用范圍

PVD、CVD、PECVD薄膜,金屬、合金、感光薄膜、玻璃、礦物、彩繪釉漆、光學(xué)薄膜、微電子鍍膜、保護(hù)性薄膜、裝飾性薄膜、半導(dǎo)體、有機(jī)材料等。

相關(guān)檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)

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GB/T 31228-2014儀器化納米壓入試驗(yàn) 術(shù)語(yǔ)

其他相關(guān)

納米壓痕技術(shù)也稱(chēng)深度敏感壓痕技術(shù),它通過(guò)計(jì)算機(jī)程序控制載荷發(fā)生連續(xù)變化,實(shí)時(shí)測(cè)量壓痕深度,由于施加的是超低載荷,監(jiān)測(cè)傳感器具有優(yōu)于1nm的位移分辨率,適用于測(cè)量薄膜、涂層等超薄層材料力學(xué)性能,可以在納米尺度上測(cè)量材料的力學(xué)性質(zhì)。

檢測(cè)流程步驟

檢測(cè)流程步驟

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