檢測報告圖片

第三方檢測報告有效期

一般檢測報告上會標注實驗室收到樣品的時間、出具報告的時間。檢測報告上不會標注有效期。

半導(dǎo)體單晶晶向測試找什么單位做?檢測項目及標準有哪些?

檢測項目：

單晶晶向測試等。

適用范圍

元素半導(dǎo)體、無機化合物半導(dǎo)體、有機化合物半導(dǎo)體、非晶態(tài)與液態(tài)半導(dǎo)體、寬帶隙半導(dǎo)體材料、低維半導(dǎo)體材料等。

相關(guān)檢測標準

GB/T 1555-2009 半導(dǎo)體單晶晶向測試方法

GB/T 39137-2020 難熔金屬單晶晶向測試方法

GB/T 34210-2017 藍寶石單晶晶向測試方法

SJ/T 11500-2015 碳化硅單晶晶向的測試方法

HB 7762-2005 航空發(fā)動機用定向凝固柱晶和單晶高溫合金錠規(guī)范

ANSI/ASTM D6058-2001 工作環(huán)境空氣中單晶陶瓷須晶濃度測試慣例

SJ 3244.3-1989 砷化鎵、磷化銦單晶晶向的測量方法

相關(guān)介紹

為了消除多晶材料中各小晶體之間的晶粒間界對半導(dǎo)體材料特性參量的巨大影響，半導(dǎo)體器件的基體材料一般采用單晶體。單晶制備一般可分大體積單晶制備和薄膜單晶的制備。體單晶的產(chǎn)量高，利用率高，比較經(jīng)濟。但很多的器件結(jié)構(gòu)要求厚度為微米量級的薄層單晶。由于制備薄層單晶所需的溫度較低，往往可以得到質(zhì)量較好的單晶。

檢測流程步驟

溫馨提示：以上關(guān)于《半導(dǎo)體單晶晶向測定檢測報告》內(nèi)容僅供參考使用，更多檢測需求請咨詢客服。