檢測報告圖片

第三方檢測報告有效期

一般檢測報告上會標(biāo)注實驗室收到樣品的時間、出具報告的時間。檢測報告上不會標(biāo)注有效期。

鍵合絲檢測哪里可以做?檢測項目有哪些?檢測報告辦理檢測中心擁有多年的鍵合絲檢測的技術(shù)經(jīng)驗，可根據(jù)客戶的檢測要求制定科學(xué)的測試方法，并提供嚴(yán)謹(jǐn)?shù)臏y試報告，幫助客戶了解產(chǎn)品的技術(shù)參數(shù)。

檢測項目：

表面質(zhì)量檢測、電導(dǎo)率檢測、公稱直徑檢測、抗拉強(qiáng)度檢測、放絲性能檢測、拉斷力檢測、伸長率檢測、主成分含量檢測、雜質(zhì)元素質(zhì)量分?jǐn)?shù)檢測、重量偏差檢測等。

適用范圍

鍵合銅絲、鍵合金絲、鍵合銀絲等。

相關(guān)檢測標(biāo)準(zhǔn)

SJ/T 10705-1996 半導(dǎo)體器件鍵合絲表面質(zhì)量檢驗方法

GB/T 4937.22-2018 半導(dǎo)體器件 機(jī)械和氣候試驗方法 第22部分：鍵合強(qiáng)度

GB/T 28277-2012 硅基MEMS制造技術(shù).微鍵合區(qū)剪切和拉壓強(qiáng)度檢測方法

GB/T 8646-1998 半導(dǎo)體鍵合鋁-1%硅細(xì)絲

DIN EN 62047-25-2017 半導(dǎo)體器件. 微型機(jī)電裝置. 第25部分: 硅基MEMS制造技術(shù). 微鍵合區(qū)拉壓和剪切強(qiáng)度的測量方法

YS/T 1105-2016 半導(dǎo)體封裝用鍵合銀絲

NF C96-050-9-2012 半導(dǎo)體器件 - 微型機(jī)電裝置 - 第9部分: 微機(jī)電系統(tǒng)硅片的硅片鍵合強(qiáng)度測試.

IEC 62047-9 CORR 1-2012 半導(dǎo)體器件.微型機(jī)電器件.第9部分:微機(jī)電系統(tǒng)硅片的硅片鍵合強(qiáng)度測試

相關(guān)介紹

鍵合絲是半導(dǎo)體器件和集成電路組裝時，為使芯片內(nèi)電路的輸入/輸出連接點與引線框架的內(nèi)接觸點之間實現(xiàn)電氣連接的內(nèi)引線。鍵合絲作為鍵合內(nèi)引線，應(yīng)具有電導(dǎo)率高，導(dǎo)電能力強(qiáng)，與導(dǎo)體材料的結(jié)合力強(qiáng)，化學(xué)性能穩(wěn)定等性能優(yōu)點。

檢測流程步驟

溫馨提示：以上關(guān)于《鍵合絲檢測報告測試項目》內(nèi)容僅供參考使用，更多檢測需求請咨詢客服。