檢測報(bào)告圖片

第三方檢測報(bào)告有效期

一般檢測報(bào)告上會(huì)標(biāo)注實(shí)驗(yàn)室收到樣品的時(shí)間、出具報(bào)告的時(shí)間。檢測報(bào)告上不會(huì)標(biāo)注有效期。

共振疲勞試驗(yàn)檢測項(xiàng)目及標(biāo)準(zhǔn)有哪些?檢測實(shí)驗(yàn)室可根據(jù)GB/T 38447-2020 微機(jī)電系統(tǒng)技術(shù) MEMS結(jié)構(gòu)共振疲勞試驗(yàn)方法等相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)制定試驗(yàn)方案。對樣品測試的共振疲勞試驗(yàn)等項(xiàng)目進(jìn)行檢測分析。并出具嚴(yán)謹(jǐn)公正的共振疲勞試驗(yàn)報(bào)告。

檢測項(xiàng)目

共振疲勞試驗(yàn)、多軸隨機(jī)振動(dòng)疲勞試驗(yàn)等。

適用范圍

金屬零部件、機(jī)械構(gòu)件、螺旋槳葉片、半導(dǎo)體器件、微電機(jī)器件等。

相關(guān)檢測標(biāo)準(zhǔn)

GB/T 38447-2020 微機(jī)電系統(tǒng)技術(shù) MEMS結(jié)構(gòu)共振疲勞試驗(yàn)方法

JIS C5630-12-2014 半導(dǎo)體器件.微電機(jī)器件.第12部分:使用MEMS結(jié)構(gòu)共振的薄膜材料的彎曲疲勞測試方法

NF C96-050-12-2012 半導(dǎo)體器件 - 微型機(jī)電裝置 - 第12部分: 使用MEMS結(jié)構(gòu)共振的薄膜材料的彎曲疲勞測試方法.

DIN EN 62047-12-2012 半導(dǎo)體器件.微電機(jī)器件.第12部分:使用MEMS結(jié)構(gòu)共振的薄膜材料的彎曲疲勞測試方法

IEC 62047-12-2011 半導(dǎo)體器件.微電機(jī)器件.第12部分:使用MEMS結(jié)構(gòu)共振的薄膜材料的彎曲疲勞測試方法

檢測流程步驟

溫馨提示：以上關(guān)于《共振疲勞試驗(yàn)測試報(bào)告》內(nèi)容僅供參考使用，更多檢測需求請咨詢客服。