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電子及電氣元件環(huán)境試驗(yàn)檢測(cè)報(bào)告

檢測(cè)報(bào)告圖片

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第三方檢測(cè)報(bào)告有效期

一般檢測(cè)報(bào)告上會(huì)標(biāo)注實(shí)驗(yàn)室收到樣品的時(shí)間、出具報(bào)告的時(shí)間。檢測(cè)報(bào)告上不會(huì)標(biāo)注有效期。

本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了電子及電氣元件的基本環(huán)境,物理性能和基本電性能等方面的通用試驗(yàn)方法。


本標(biāo)準(zhǔn)適用于電阻器,電容器,電感器,連接器,開(kāi)關(guān),繼電器和變壓器等電子及電氣元件。


本標(biāo)準(zhǔn)為元件提供統(tǒng)一的可再現(xiàn)的試驗(yàn)方法,以確定元件對(duì)自然的及與*事作戰(zhàn)有關(guān)的惡劣環(huán)境的適應(yīng)性能力。但不能認(rèn)為本標(biāo)準(zhǔn)中的試驗(yàn)方法是準(zhǔn)確的全面地代表了某一地理位置的實(shí)際使用情況。


本標(biāo)準(zhǔn)是制定*用元件總規(guī)范或產(chǎn)品規(guī)范等技術(shù)文件相應(yīng)部分的基礎(chǔ)和選用依據(jù)。


本標(biāo)準(zhǔn)的試驗(yàn)內(nèi)容主要包括:環(huán)境試驗(yàn),物理性能試驗(yàn),基本電性能試驗(yàn)。


環(huán)境適應(yīng)性試驗(yàn)主要包括:鹽霧腐蝕試驗(yàn),濕熱試驗(yàn),浸漬試驗(yàn),低氣壓試驗(yàn),溫度沖擊試驗(yàn),高溫壽命試驗(yàn),砂塵試驗(yàn),有焰燃燒試驗(yàn),振動(dòng)試驗(yàn),隨機(jī)跌落試驗(yàn),強(qiáng)碰撞沖擊試驗(yàn),機(jī)械沖擊試驗(yàn)等。

檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)

序號(hào) 檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn) 檢測(cè)對(duì)象 檢測(cè)項(xiàng)目
1 電子及電子元件試驗(yàn)方法 GJB 360B-2009(方法101) 電子及電氣元件環(huán)境試驗(yàn) 鹽霧試驗(yàn)
2 射頻電纜組件通用規(guī)范GJB 1215A-2005(4.5.5) 電子及電氣元件環(huán)境試驗(yàn) 溫度沖擊
3 *用裝備環(huán)境試驗(yàn)方法 第11部分:鹽霧試驗(yàn)GJB 150.11A-2009 電子及電氣元件環(huán)境試驗(yàn) 鹽霧試驗(yàn)
4 電連接器試驗(yàn)方法GJB 1217A-2009(方法1001) 電子及電氣元件環(huán)境試驗(yàn) 鹽霧試驗(yàn)
5 射頻同軸連接器通用規(guī)范GJB 681A-2002(4.5.19) 電子及電氣元件環(huán)境試驗(yàn) 耐濕
6 環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)Kb:鹽霧,交變(氯化鈉溶液)GB/T 2423.18-2012 電子及電氣元件環(huán)境試驗(yàn) 鹽霧試驗(yàn)
7 電連接器試驗(yàn)方法GJB 1217A-2009(方法1002) 電子及電氣元件環(huán)境試驗(yàn) 潮濕
8 同軸、帶狀線或微帶傳輸線用射頻同軸連接器通用規(guī)范GJB 976A-2009(4.5.18) 電子及電氣元件環(huán)境試驗(yàn) 溫度沖擊
9 環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)N:溫度變化GB/T 2423.22-2012(7、8) 電子及電氣元件環(huán)境試驗(yàn) 溫度變化
10 運(yùn)載器、上面級(jí)和航天器試驗(yàn)要求GJB 1027A-2005(6.4.3) 電子及電氣元件環(huán)境試驗(yàn) 熱循環(huán)試驗(yàn)

檢測(cè)流程步驟

檢測(cè)流程步驟

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