檢測報告圖片
第三方檢測報告有效期
一般檢測報告上會標(biāo)注實驗室收到樣品的時間、出具報告的時間。檢測報告上不會標(biāo)注有效期。
質(zhì)譜濃度比檢測報告如何辦理？檢測項目及標(biāo)準(zhǔn)有哪些？百檢第三方檢測機構(gòu)，嚴(yán)格按照質(zhì)譜濃度比檢測相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)進行測試和評估。做檢測，找百檢。我們只做真實檢測。
涉及質(zhì)譜濃度比的標(biāo)準(zhǔn)有25條。
國際標(biāo)準(zhǔn)分類中，質(zhì)譜濃度比涉及到分析化學(xué)、核能工程、半導(dǎo)體分立器件、空氣質(zhì)量、半導(dǎo)體材料。
在中國標(biāo)準(zhǔn)分類中，質(zhì)譜濃度比涉及到電子光學(xué)與其他物理光學(xué)儀器、核材料、核燃料及其分析試驗方法、、核材料、核燃料綜合、元素半導(dǎo)體材料、基礎(chǔ)標(biāo)準(zhǔn)與通用方法、同位素與放射源綜合。
國家質(zhì)檢總局，關(guān)于質(zhì)譜濃度比的標(biāo)準(zhǔn)
GB/T 20176-2006表面化學(xué)分析.二次離子質(zhì)譜.用均勻摻雜物質(zhì)測定硅中硼的原子濃度
德國標(biāo)準(zhǔn)化學(xué)會，關(guān)于質(zhì)譜濃度比的標(biāo)準(zhǔn)
DIN EN ISO 8299:2021核燃料技術(shù). 用熱電離質(zhì)譜法測定硝酸溶液中核材料的同位素, 元素鈾和钚的濃度(ISO 8299-2019); 英文版本EN ISO 8299-2021
美國材料與試驗協(xié)會，關(guān)于質(zhì)譜濃度比的標(biāo)準(zhǔn)
ASTM E2330-19使用電感耦合等離子體質(zhì)譜法（ICP-MS）進行法醫(yī)比較的玻璃樣品中元素濃度測定的標(biāo)準(zhǔn)測試方法
ASTM C1625-19通過熱離子化質(zhì)譜法測定鈾和钚濃度和同位素豐度的標(biāo)準(zhǔn)測試方法
ASTM C1672-17用熱電離質(zhì)譜分光計通過總數(shù)蒸發(fā)法測定鈾或钚同位素組成或濃度的標(biāo)準(zhǔn)試驗方法
ASTM C1625-12用熱電離質(zhì)譜法測定鈾和钚濃度和其同位素豐度的標(biāo)準(zhǔn)試驗方法
ASTM C1672-07(2014)用熱電離質(zhì)譜分光計通過總數(shù)蒸發(fā)法測定鈾或钚同位素組成或濃度的標(biāo)準(zhǔn)試驗方法
ASTM C1672-07用熱電離質(zhì)譜分光計通過總數(shù)蒸發(fā)法測定鈾或钚同位素組成或濃度的標(biāo)準(zhǔn)試驗方法
ASTM C1625-05用熱電離質(zhì)譜法進行鈾和钚濃度和同位素豐度的標(biāo)準(zhǔn)試驗方法
中國團體標(biāo)準(zhǔn)，關(guān)于質(zhì)譜濃度比的標(biāo)準(zhǔn)
T/CASAS 009-2019半絕緣碳化硅材料中痕量雜質(zhì)濃度及分布的二次離子質(zhì)譜檢測方法
T/CASAS 010-2019氮化鎵材料中痕量雜質(zhì)濃度及分布的二次離子質(zhì)譜檢測方法
國際標(biāo)準(zhǔn)化組織，關(guān)于質(zhì)譜濃度比的標(biāo)準(zhǔn)
ISO 8299:2019核燃料技術(shù) - 通過熱電離質(zhì)譜法測定硝酸溶液中核材料的同位素和元素鈾濃度和钚濃度
ISO/TS 20593:2017環(huán)境空氣. 輪胎和路面磨損顆粒(TRWP)質(zhì)量濃度的測定. 熱裂解-氣相色譜-質(zhì)譜法
ISO/TS 19590:2017納米技術(shù) 通過單粒子電感耦合等離子體質(zhì)譜法測定水介質(zhì)中無機納米顆粒的尺寸分布和濃度
ISO 14237:2010表面化學(xué)分析.二次離子質(zhì)譜.用均勻摻雜物質(zhì)測定硅中硼的原子濃度
ISO 8299:2005核燃料技術(shù).熱電離質(zhì)譜法測定硝酸溶液中核物質(zhì)的同位素和元素鈾和钚的濃度
ISO 14237:2000表面化學(xué)分析 二次離子質(zhì)譜 用均勻摻雜物質(zhì)測定硅中硼的原子濃度
ISO 8299:1993硝酸溶液中鈾钚同位素含量和濃度的測定質(zhì)譜法
行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)-電子，關(guān)于質(zhì)譜濃度比的標(biāo)準(zhǔn)
SJ/T 11498-2015重摻硅襯底中氧濃度的二次離子質(zhì)譜測量方法
SJ/T 11493-2015硅襯底中氮濃度的二次離子質(zhì)譜測量方法
法國標(biāo)準(zhǔn)化協(xié)會，關(guān)于質(zhì)譜濃度比的標(biāo)準(zhǔn)
NF X21-070-2010表面化學(xué)分析.二次離子質(zhì)譜.用均勻摻雜物質(zhì)測定硅中硼的原子濃度.
英國標(biāo)準(zhǔn)學(xué)會，關(guān)于質(zhì)譜濃度比的標(biāo)準(zhǔn)
BS ISO 14237:2010表面化學(xué)分析.二次離子質(zhì)譜.用均勻摻雜物質(zhì)測定硅中硼的原子濃度
韓國科技標(biāo)準(zhǔn)局，關(guān)于質(zhì)譜濃度比的標(biāo)準(zhǔn)
KS D ISO 14237:2003表面化學(xué)分析.次級離子質(zhì)譜法.使用非均一摻雜材料的硅中硼原子的濃度測定
日本工業(yè)標(biāo)準(zhǔn)調(diào)查會，關(guān)于質(zhì)譜濃度比的標(biāo)準(zhǔn)
JIS K0143-2000表面化學(xué)分析.次級離子質(zhì)譜法.利用均勻摻雜材料測定硅中硼原子濃度
澳大利亞標(biāo)準(zhǔn)協(xié)會，關(guān)于質(zhì)譜濃度比的標(biāo)準(zhǔn)
AS ISO 14237:2006表面化學(xué)分析．次級離子質(zhì)譜測量法．使用均一的絕緣材料測定硅中的硼原子濃度
檢測流程步驟
溫馨提示：以上關(guān)于《質(zhì)譜濃度比檢測檢驗報告》內(nèi)容僅供參考使用，更多檢測需求請咨詢客服。
