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二次離子質(zhì)譜儀檢測(cè)報(bào)告

檢測(cè)報(bào)告圖片

檢測(cè)報(bào)告圖片

第三方檢測(cè)報(bào)告有效期

一般檢測(cè)報(bào)告上會(huì)標(biāo)注實(shí)驗(yàn)室收到樣品的時(shí)間、出具報(bào)告的時(shí)間。檢測(cè)報(bào)告上不會(huì)標(biāo)注有效期。

二次離子質(zhì)譜儀檢測(cè)報(bào)告如何辦理?測(cè)試哪些項(xiàng)目呢?檢測(cè)費(fèi)用價(jià)格是多少呢?下面小編為您解答。百檢也可依據(jù)相應(yīng)二次離子質(zhì)譜儀檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)或者根據(jù)您的需求設(shè)計(jì)檢測(cè)方案?!驹斍樽稍?xún):132-6275-2056】。做檢測(cè),上百檢!我們只做真實(shí)檢測(cè)。

檢測(cè)周期

一般3-15個(gè)工作日,可加急。

檢測(cè)方式

可寄樣檢測(cè)、目測(cè)檢測(cè)、見(jiàn)證試驗(yàn)、現(xiàn)場(chǎng)檢測(cè)等。

檢測(cè)費(fèi)用

具體根據(jù)二次離子質(zhì)譜儀檢測(cè)檢測(cè)數(shù)量和項(xiàng)目而定。詳情請(qǐng)咨詢(xún)?cè)诰€(xiàn)客服。

檢測(cè)產(chǎn)品

0二次離子質(zhì)譜儀簡(jiǎn)介

這是用來(lái)檢測(cè)材料的一種儀器,即是利用離子束把待分析的材料從表面濺射出來(lái),然后再檢測(cè)出離子組分并進(jìn)行質(zhì)量分析。 它是對(duì)微粒進(jìn)行同位素分析的有力工具,但它不能直接分辨同量異位數(shù)和確認(rèn)元素,也難以高效率地在環(huán)境樣品中尋找特定成分的微粒。

1二次離子質(zhì)譜儀二次離子質(zhì)譜:二次離子質(zhì)譜儀

Secondary-ion-mass spectroscope ( SIMS),是利用質(zhì)譜法分析初級(jí)離子入射靶面后,濺射產(chǎn)生的二次離子而獲取材料表面信息的一種方法。二次離子質(zhì)譜可以分析包括氫在內(nèi)的全部元素,并能給出同位素的信息、分析化合物組分和分子結(jié)構(gòu)。二次離子質(zhì)譜具有很高的靈敏度,可達(dá)到ppm甚至ppb的量級(jí),還可以進(jìn)行微區(qū)成分成像和深度剖面分析。

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檢測(cè)流程步驟

檢測(cè)流程步驟

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