檢測報告圖片

第三方檢測報告有效期

一般檢測報告上會標(biāo)注實驗室收到樣品的時間、出具報告的時間。檢測報告上不會標(biāo)注有效期。

集成電路IC（卡）讀寫機檢測報告如何辦理？測試哪些項目？測試標(biāo)準(zhǔn)有哪些？百檢也可依據(jù)相應(yīng)檢測標(biāo)準(zhǔn)或者根據(jù)您的需求設(shè)計檢測方案。我們只做真實檢測。

檢測項目：

部分參數(shù)、低溫試驗、包裝跌落、恒定濕熱、電源適應(yīng)能力、電磁兼容、碰撞、部分項目、高溫試驗、沖擊試驗、工作條件恒定濕熱試驗、工作溫度上限試驗、工作溫度下限試驗、振動試驗、貯存條件恒定濕熱試驗、貯存溫度上限試驗、貯存溫度下限試驗、運輸包裝件跌落試驗、全部參數(shù)、電磁兼容性(EMI)、電磁兼容性(EMS)、功能、可靠性及壽命、外觀與結(jié)構(gòu)要求、環(huán)境要求、電磁兼容性、外觀和結(jié)構(gòu)、數(shù)據(jù)安全、安全、環(huán)境適應(yīng)性、無線電騷擾、抗擾度、可靠性、卡座、字符及輸出、存儲器、機械環(huán)境適應(yīng)性（振動、沖擊、碰撞、跌落）、氣候環(huán)境適應(yīng)性、電源、相互確認(rèn)時間、脫機工作能力、通信、鍵盤、外觀結(jié)構(gòu)要求、外觀也結(jié)構(gòu)要求、互相確認(rèn)時間、外觀、字符及其輸出、脫機工作功能、通信功能、在線IC卡終端設(shè)備、環(huán)境試驗、離線IC卡終端設(shè)備、機械環(huán)境條件、氣候環(huán)境條件、電磁兼容要求、碰撞試驗、環(huán)境、外觀與結(jié)構(gòu)、功能試驗、外觀檢查、安全檢查

檢測標(biāo)準(zhǔn)：

1、GB 4943.1-2011 《信息技術(shù)設(shè)備 安全 第1部分：通用要求》

2、CJ/T166-2014 建設(shè)事業(yè)集成電路（IC）卡應(yīng)用技術(shù)條件 6.2.1.2

3、GB/T 18239-2000 集成電路（IC卡）讀寫機通用規(guī)范 GB/T 18239-2000

4、GB4943.1-2011 信息技術(shù)設(shè)備 安全 第1部分：通用要求

5、GB/T18239-20004.6.1、5.6.1 集成電路（IC）卡讀寫機通用規(guī)范

6、GB 4943.1-2011 《信息技術(shù)設(shè)備 安全 第1部分：通用要求》 GB 4943.1-2011

7、GB/T18239-20004.6.2、5.6.2 集成電路（IC）卡讀寫機通用規(guī)范

8、GB/T 18239-2000 集成電路(IC)卡讀寫機通用規(guī)范

9、CJ/T 166-2014 建設(shè)事業(yè)集成電路（IC）卡應(yīng)用技術(shù) CJ/T 166-2014

10、CJ/T166-20146.2.1.2 建設(shè)事業(yè)集成電路（IC）卡應(yīng)用技術(shù)條件

11、CJ/T 166-2014 建設(shè)事業(yè)集成電路（IC）卡應(yīng)用技術(shù)條件 7

12、GB/T 18239 2000 集成電路(IC)卡讀寫機通用規(guī)范 4.1

13、GB/T18239-20004.3、5.7 集成電路（IC）卡讀寫機通用規(guī)范

14、GB/T18239-2000 集成電路（IC）卡讀寫機通用規(guī)范 4.2、5.2

檢測報告用途

商超入駐、電商上架、內(nèi)部品控、招投標(biāo)、高?？蒲械?。

檢測費用價格

因測試項目及實驗復(fù)雜程度不同，具體請聯(lián)系客服確定后進行報價。

檢測流程步驟

溫馨提示：以上關(guān)于《集成電路IC（卡）讀寫機檢測檢驗認(rèn)證測試報告》內(nèi)容僅供參考使用，更多檢測需求請咨詢客服。