檢測報告圖片

第三方檢測報告有效期

一般檢測報告上會標注實驗室收到樣品的時間、出具報告的時間。檢測報告上不會標注有效期。

標準分類中，新型探針涉及到長度和角度測量、分析化學、金屬材料試驗、生物學、植物學、動物學、光學和光學測量、農(nóng)業(yè)和林業(yè)、半導體材料、光學設備、電子設備用機械構(gòu)件、絕緣流體、教育、牙科、醫(yī)學科學和保健裝置綜合、詞匯、土方工程、挖掘、地基構(gòu)造、地下工程、機器、裝置、設備的特性和設計、機床裝置、陶瓷、建筑物結(jié)構(gòu)、電學、磁學、電和磁的測量、電工和電子試驗、機床、醫(yī)療設備、無損檢測、電子電信設備用機電元件、水質(zhì)、水利建筑、土質(zhì)、土壤學、消防、管道部件和管道、有色金屬產(chǎn)品、電工器件、電擊防護、電氣工程綜合、電信設備用部件和附件、輻射測量、建筑材料、檢查、維修和試驗設備、航空航天用電氣設備和系統(tǒng)、航空航天用流體系統(tǒng)和零部件、機上設備和儀器、微生物學、電氣設備元件、燃燒器、鍋爐、半導體分立器件、導體材料、塑料、電子元器件綜合、航空航天制造用材料、水果、蔬菜及其制品、計量學和測量綜合、體積、質(zhì)量、密度和粘度的測量、力、重力和壓力的測量。

在中國標準分類中，新型探針涉及到基礎標準與通用方法、電子光學與其他物理光學儀器、基礎標準與通用方法、生化試劑、臨床分析試劑、光學計量、電化學、熱化學、光學式分析儀器、動物檢疫、獸醫(yī)與疫病防治、半金屬及半導體材料分析方法、半金屬與半導體材料綜合、貴金屬及其合金分析方法、工藝美術(shù)品、金屬理化性能試驗方法綜合、基礎標準與通用方法、加工專用設備、綜合技術(shù)、金屬物理性能試驗方法、口腔科器械、設備與材料、、、教學專用儀器、、、衛(wèi)生檢疫、化學、特種陶瓷、電工儀器、儀表綜合、醫(yī)療器械綜合、機床綜合、其他?？破餍怠⒃囼灆C與無損探傷儀器綜合、連接器、數(shù)學、超聲波與聲放射探傷儀器、建筑工程施工機械、水文地質(zhì)勘察、金屬無損檢驗方法、植物檢疫、病蟲害防治、、質(zhì)譜儀、液譜儀、能譜儀及其聯(lián)用裝置、石油地質(zhì)勘探、放大鏡與顯微鏡、家用清潔、整容器具、金屬化學性能試驗方法、機械量儀表、自動秤重裝置與其他檢測儀表、眼科與耳鼻咽喉科手術(shù)器械、一般與顯微外科器械、物理學與力學、醫(yī)療設備通用要求、電纜及其附件、鋼鐵與鐵合金分析方法、混凝土、集料、灰漿、砂漿、交直流電工儀器記錄儀器、醫(yī)用衛(wèi)生用品、稀有金屬及其合金分析方法、加工工藝綜合、敏感元器件及傳感器、醫(yī)用超聲、激光、高頻儀器設備、建筑構(gòu)造與裝飾工程、電磁計量、公共醫(yī)療設備、電子元器件、基礎標準與通用方法、管件、卡箍、密封件、基礎學科綜合、顏料、醫(yī)用射線設備、元素半導體材料、基礎標準和通用方法、基礎標準與通用方法、程序語言、防護設備的安全要求、基礎標準與通用方法、鍋爐及其輔助設備、通用電子測量儀器設備及系統(tǒng)、電氣設備與器具綜合、化學計量、合成樹脂、塑料基礎標準與通用方法、電子元件綜合、模具、檢驗專用設備、電氣系統(tǒng)與設備、工程技術(shù)特性標準物質(zhì)、、包裝材料與容器、計量綜合、無線電計量、供氣器材設備。

市場監(jiān)督管理總局、中國標準化管理委員會，關(guān)于新型探針的標準

GB/T 39518-2020 產(chǎn)品幾何技術(shù)規(guī)范(GPS) 使用單探針和多探針接觸式探測系統(tǒng)坐標測量機的檢測不確定度評估指南

GB/T 17360-2020 微束分析 鋼中低含量硅、錳的電子探針定量分析方法

中華人民共和國質(zhì)量監(jiān)督檢驗檢疫總局、中國標準化管理委員會，關(guān)于新型探針的標準

GB/T 36052-2018 表面化學分析 掃描探針顯微鏡數(shù)據(jù)傳送格式

GB/T 36052-2018 表面化學分析 掃描探針顯微鏡數(shù)據(jù)傳送格式

GB/T 34797-2017 核酸引物探針質(zhì)量技術(shù)要求

GB/T 16857.5-2017 產(chǎn)品幾何技術(shù)規(guī)范(GPS) 坐標測量機的驗收檢測和復檢檢測 第5部分：使用單探針或多探針接觸式探測系統(tǒng)的坐標測量機

質(zhì)檢總局，關(guān)于新型探針的標準

GB/T 36052-2018 表面化學分析 掃描探針顯微鏡數(shù)據(jù)傳輸格式

GB/T 20726-2015 微束分析 電子探針顯微分析X射線能譜儀主要性能參數(shù)及核查方法

GB/T 32055-2015 微束分析 電子探針顯微分析 波譜法元素面分析

GB/T 30705-2014 微束分析 電子探針顯微分析 波譜法實驗參數(shù)測定導則

GB/T 29190-2012 掃描探針顯微鏡漂移速率測量方法

GB/T 28634-2012 微束分析.電子探針顯微分析.塊狀試樣波譜法定量點分析

GB/T 28630.1-2012 白斑綜合征(WSD)診斷規(guī)程.第1部分：核酸探針斑點雜交檢測法

GB/T 26074-2010 鍺單晶電阻率直流四探針測量方法

GB/T 14146-2009 硅外延層載流子濃度測定.汞探針電容-電壓法

GB/T 17363.1-2009 黃金制品金含量無損測定方法.第1部分:電子探針微分析法

GB/T 15247-2008 微束分析.電子探針顯微分析.測定鋼中碳含量的校正曲線法

GB/T 15616-2008 金屬及合金的電子探針定量分析方法

GB/T 17360-2008 鋼中低含量Si、Mn的電子探針定量分析方法

GB/T 17506-2008 船舶黑色金屬腐蝕層的電子探針分析方法

GB/T 15074-2008 電子探針定量分析方法通則

GB/T 4930-2008 微束分析.電子探針分析.標準樣品技術(shù)條件導則

GB/T 21636-2008 微束分析.電子探針顯微分析(EPMA)術(shù)語

GB/T 20725-2006 波譜法定性點分析電子探針顯微分析導則

GB/T 16857.5-2004 產(chǎn)品幾何量技術(shù)規(guī)范(GPS) 坐標測量機的驗收檢測和復檢檢測 第5部分;使用多探針探測系統(tǒng)的坐標測量機

GB/T 15246-2002 硫化物礦物的電子探針定量分析方法

GB/T 15245-2002 稀土氧化物的電子探針定量分析方法

GB/T 15244-2002 玻璃的電子探針定量分析方法

GB/T 15617-2002 硅酸鹽礦物的電子探針定量分析方法

GB/T 17506-1998 船舶黑色金屬腐蝕層的電子探針分析方法

GB/T 17363-1998 黃金制品的電子探針定量測定方法

GB/T 17359-1998 電子探針和掃描電鏡X射線能譜定量分析通則

GB/T 17360-1998 鋼中低含量Si、Mn的電子探針定量分析方法

GB/T 17366-1998 礦物巖石的電子探針分析試樣的制備方法

GB/T 17365-1998 金屬與合金電子探針定量分析樣品的制備方法

GB/T 15616-1995 金屬及合金的電子探針定量分析方法

GB/T 15394-1994 多探針檢測臺通用技術(shù)條件

GB/T 15247-1994 碳鋼和低合金鋼中碳的電子探針的定量分析方法 靈敏度曲線法(檢量線法)

GB/T 15074-1994 電子探針定量分析方法通則

GB/T 15075-1994 電子探針分析儀的檢測方法

GB/T 4930-1993 電子探針分析標準樣品通用技術(shù)條件

GB/T 14146-1993 硅外延層載流子濃度測定和探針電容--電壓法

GB 5666-1985 牙探針

教育部，關(guān)于新型探針的標準

JY/T 0582-2020 掃描探針顯微鏡分析方法通則

能源局，關(guān)于新型探針的標準

SY/T 6027-2019 巖石礦物電子探針定量分析方法

標準化組織，關(guān)于新型探針的標準

ISO 19463-2018 微光束分析.電子探針顯微分析儀(EPMA).執(zhí)行質(zhì)量保證程序的指南

ISO 22489-2016 微光束分析.電子探針微量分析.運用波長色散X射線光譜測量法定量分析塊狀樣品

ISO 11775-2015 表面化學分析. 掃描探針顯微鏡. 普通懸臂彈簧常數(shù)的測定

ISO 13083-2015 表面化學分析. 掃描式探針顯微術(shù). 電子掃描式探針顯微術(shù) (ESPM), 例如用于二維摻雜成像等用途的SSRM和SCM, 中空間分辨率的定義和校準標準

ISO 230-10 AMD 1-2014 機床試驗規(guī)程.第10部分:數(shù)控機床探測系統(tǒng)測量性能的測定.修改件1:配掃描探針的探測系統(tǒng)的測量性能

ISO 13095-2014 表面化學分析. 原子力顯微鏡學. 納米結(jié)構(gòu)測量用AFM探針柄輪廓的現(xiàn)場鑒定程序

ISO 11952-2014 表面化學分析. 掃描探針顯微鏡. 使用SPM測定幾何量:測量系統(tǒng)校準

ISO 25178-605-2014 幾何產(chǎn)品規(guī)范(GPS). 表面紋理: 面. 第605部分: 非接觸式(點自動對焦探針)儀器的標稱特性

ISO 17470-2014 微束分析. 電子探針微量分析. 用波長色散X射線光譜測定法定性點分析指南

ISO 18115-2-2013 表面化學分析.詞匯表.第2部分:掃描-探針顯微鏡檢查中應用的術(shù)語

ISO 23833-2013 微光束分析.電子探針微量分析(EPMA).詞匯

ISO 16592-2012 微光束分析.電子探針顯微分析.用校準曲線法測定鋼的碳含量的指南

ISO 11938-2012 微束分析. 電子探針微量分析. 使用波長色散光譜對元素映射的分析方法

ISO 11039-2012 表面化學分析.掃描探針顯微鏡.漂移率的測定標準

ISO 27911-2011 表面化學分析.掃描探針顯微鏡.近場光學顯微鏡橫向分辨率的定義與校準

ISO 28600-2011 表面化學分析.掃描探針顯微鏡檢查用數(shù)據(jù)傳送格式

ISO 25178-602-2010 產(chǎn)品的幾何技術(shù)規(guī)范(GPS).表面紋理:平面.第602部分:非觸點(共焦易染色探針)儀器的標稱屬性

ISO 18115-2-2010 表面化學分析.詞匯.第2部分:掃描探針顯微鏡檢查中使用的術(shù)語

ISO 14594 CORR 1-2009 微光束分析.電子探針微分析.波長色散光譜法測定實驗參數(shù)用指南.技術(shù)勘誤1

ISO 15548-2-2008 無損檢測.渦流檢驗設備.第2部分:探針特性和驗證

ISO 23833-2006 微光束分析.電子探針微量分析(EPMA).詞匯

ISO 22489-2006 微光束分析.電子探針微量分析.運用波長色散X射線光譜測量法定量分析塊狀樣品

ISO 16592-2006 微光束分析.電子探針顯微分析.用校準曲線法測定鋼的碳含量的指南

ISO 18452-2005 精密陶瓷(高級陶瓷、高級工業(yè)陶瓷).用接觸式探針輪廓測定儀測定陶瓷覆層厚度

ISO 17470-2004 微光束分析.電子探針顯微分析.波長分散X射線光譜法分析質(zhì)量點的指南

ISO/TR 10305-2-2003 道路車輛.電磁場強度測量設備的校正.第2部分:9kHz-40GHz的電磁場傳感器和探針(不包括天線)的校正用IEEE標準

檢測流程步驟

溫馨提示：以上關(guān)于《電子探針顯微分析項目及標準方法大全》內(nèi)容僅供參考使用，更多檢測需求請咨詢客服。