檢測(cè)報(bào)告圖片

第三方檢測(cè)報(bào)告有效期

一般檢測(cè)報(bào)告上會(huì)標(biāo)注實(shí)驗(yàn)室收到樣品的時(shí)間、出具報(bào)告的時(shí)間。檢測(cè)報(bào)告上不會(huì)標(biāo)注有效期。

標(biāo)準(zhǔn)分類(lèi)中，電子衍射涉及到分析化學(xué)、金屬材料試驗(yàn)、光學(xué)設(shè)備、光學(xué)和光學(xué)測(cè)量、消防、長(zhǎng)度和角度測(cè)量。

在中國(guó)標(biāo)準(zhǔn)分類(lèi)中，電子衍射涉及到基礎(chǔ)標(biāo)準(zhǔn)與通用方法、金相檢驗(yàn)方法、放大鏡與顯微鏡、電化學(xué)、熱化學(xué)、光學(xué)式分析儀器、電子光學(xué)與其他物理光學(xué)儀器、消防綜合、物理學(xué)與力學(xué)。

未注明發(fā)布機(jī)構(gòu)，關(guān)于電子衍射的標(biāo)準(zhǔn)

GB/T 38532-2020 微束分析 電子背散射衍射 平均晶粒尺寸的測(cè)定

市場(chǎng)監(jiān)督管理總局、中國(guó)標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會(huì)，關(guān)于電子衍射的標(biāo)準(zhǔn)

GB/T 36165-2018 金屬平均晶粒度的測(cè)定 電子背散射衍射(EBSD)法

質(zhì)檢總局，關(guān)于電子衍射的標(biāo)準(zhǔn)

GB/T 36165-2018 金屬平均晶粒度的測(cè)定 電子背散射衍射(EBSD)法

GB/T 30703-2014 微束分析 電子背散射衍射取向分析方法導(dǎo)則

GB/T 18907-2013 微束分析 分析電子顯微術(shù) 透射電鏡選區(qū)電子衍射分析方法

GB/T 19501-2013 微束分析 電子背散射衍射分析方法通則

GB/T 20724-2006 薄晶體厚度的會(huì)聚束電子衍射測(cè)定方法

GB/T 19501-2004 電子背散射衍射分析方法通則

GB/T 18907-2002 透射電子顯微鏡選區(qū)電子衍射分析方法

中華人民共和國(guó)質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫總局、中國(guó)標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會(huì)，關(guān)于電子衍射的標(biāo)準(zhǔn)

GB/T 34172-2017 微束分析 電子背散射衍射 金屬及合金的相分析方法

上海市市場(chǎng)監(jiān)督管理局，關(guān)于電子衍射的標(biāo)準(zhǔn)

DB31/T 1156—2019　 電氣火災(zāi)熔痕技術(shù)鑒定 電子背散射衍射法

工業(yè)和信息化部，關(guān)于電子衍射的標(biāo)準(zhǔn)

YB/T 4677-2018 鋼中織構(gòu)的測(cè)定 電子背散射衍射(EBSD)法

英國(guó)標(biāo)準(zhǔn)學(xué)會(huì)，關(guān)于電子衍射的標(biāo)準(zhǔn)

BS ISO 25498-2018 微光束分析.解析電子顯微測(cè)定法.透射式電子顯微鏡對(duì)選定區(qū)域進(jìn)行電子衍射分析

BS ISO 13067-2011 微光束分析.背散射電子衍射.平均顆粒粒度測(cè)量

BS ISO 13067-2011 微光束分析.背散射電子衍射.平均顆粒粒度測(cè)量

BS ISO 25498-2010 微光束分析.解析電子顯微測(cè)定法.透射式電子顯微鏡對(duì)選定區(qū)域進(jìn)行電子衍射分析

BS ISO 25498-2010 微光束分析.解析電子顯微測(cè)定法.透射式電子顯微鏡對(duì)選定區(qū)域進(jìn)行電子衍射分析

BS ISO 24173-2009 微束分析.使用電子反向散射體衍射的方位測(cè)量準(zhǔn)則

BS ISO 24173-2009 微束分析.使用電子反向散射體衍射的方位測(cè)量準(zhǔn)則

，關(guān)于電子衍射的標(biāo)準(zhǔn)

GOST R ISO 13067-2016 確保測(cè)量一致性的系統(tǒng). 微束分析. 電子背散射衍射. 平均粒度的測(cè)量

GOST R ISO 13067-2016 確保測(cè)量一致性的系統(tǒng). 微束分析. 電子背散射衍射. 平均粒度的測(cè)量

GOST R 8.696-2010 確保測(cè)量一致性的體系.晶體中的平面間距和衍射圖中的亮度分布.利用電子衍射計(jì)方法的測(cè)量

德國(guó)標(biāo)準(zhǔn)化學(xué)會(huì)，關(guān)于電子衍射的標(biāo)準(zhǔn)

DIN ISO 13067-2015 微光束分析.電子反向散射衍射.平均粒度測(cè)量(ISO 13067-2011)

DIN ISO 24173-2013 微光束分析.使用電子背散射衍射進(jìn)行定向測(cè)量的指南(ISO 24713-2009)

美國(guó)材料與試驗(yàn)協(xié)會(huì)，關(guān)于電子衍射的標(biāo)準(zhǔn)

ASTM E2627-2013 使用完全再結(jié)晶多晶材料中的電子背散射衍射 (EBSD) 測(cè)定平均粒徑的標(biāo)準(zhǔn)實(shí)施規(guī)程

ASTM E2627-2010 在完全再結(jié)晶的多晶體物質(zhì)中使用電子背向反射衍射(EBSD)測(cè)定平均粒度的標(biāo)準(zhǔn)實(shí)施規(guī)程

法國(guó)標(biāo)準(zhǔn)化協(xié)會(huì)，關(guān)于電子衍射的標(biāo)準(zhǔn)

NF X21-014-2012 微束分析.電子背散射衍射.平均粒度的測(cè)量

標(biāo)準(zhǔn)化組織，關(guān)于電子衍射的標(biāo)準(zhǔn)

ISO 13067-2011 微光束分析.電子反向散射衍射.平均粒度測(cè)量

ISO 25498-2010 微光束分析.解析電子顯微測(cè)定法.透射式電子顯微鏡對(duì)選定區(qū)域進(jìn)行電子衍射分析

ISO 24173-2009 微光束分析.用電子背散射衍射進(jìn)行定向測(cè)量的指南

(美國(guó))海*，關(guān)于電子衍射的標(biāo)準(zhǔn)

NAVY UFGS-01 33 29-2010 低能電子衍射(TM)文件

檢測(cè)流程步驟

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