GB/T 17574.11-2006《半導體器件 集成電路 第2-11部分：數(shù)字集成電路 單電源集成電路電可擦可編程只讀存儲器 空白詳細規(guī)范》基本信息

標準號：

GB/T 17574.11-2006

中文名稱：

《半導體器件 集成電路 第2-11部分：數(shù)字集成電路 單電源集成電路電可擦可編程只讀存儲器 空白詳細規(guī)范》

發(fā)布日期：

2006-12-05

實施日期：

2007-05-01

發(fā)布部門：

國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗檢疫總局 中國國家標準化管理委員會

提出單位：

信息產(chǎn)業(yè)部

歸口單位：

全國半導體器件標準化技術(shù)委員會

起草單位：

中國電子科技集團公司第四十七研究所

起草人：

施華莎

中國標準分類號：

L56半導體集成電路

國際標準分類號：

31.200集成電路、微電子學

GB/T 17574.11-2006《半導體器件 集成電路 第2-11部分：數(shù)字集成電路 單電源集成電路電可擦可編程只讀存儲器 空白詳細規(guī)范》介紹

GB/T 17574.11-2006是由國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗檢疫總局和中國國家標準化管理委員會共同發(fā)布的國家標準。標準于2006年12月5日發(fā)布，并于2007年5月1日正式實施。

一、標準適用范圍

GB/T 17574.11-2006標準適用于單電源集成電路電可擦可編程只讀存儲器（EEPROM）的設(shè)計、生產(chǎn)、檢測和應(yīng)用。該標準涵蓋了EEPROM的基本性能要求、測試方法、質(zhì)量保證等方面的內(nèi)容，為EEPROM的生產(chǎn)和應(yīng)用提供了技術(shù)依據(jù)。

二、標準主要內(nèi)容

1、術(shù)語和定義：標準*先對EEPROM相關(guān)的術(shù)語和定義進行了明確，如存儲單元、編程、擦除等，為后續(xù)的技術(shù)要求和測試方法奠定基礎(chǔ)。

2、產(chǎn)品特性：標準規(guī)定了EEPROM的基本特性，包括存儲容量、工作電壓、工作溫度范圍等，以滿足不同應(yīng)用場景的需求。

3、性能要求：標準詳細列出了EEPROM的性能要求，如數(shù)據(jù)保持能力、編程時間、擦除時間、讀寫周期等，確保產(chǎn)品能夠滿足設(shè)計要求。

4、測試方法：標準提供了EEPROM性能測試的具體方法，包括測試條件、測試設(shè)備、測試步驟等，以保證測試結(jié)果的準確性和可重復(fù)性。

5、質(zhì)量保證：標準對EEPROM的生產(chǎn)過程、質(zhì)量控制、檢驗規(guī)則等提出了要求，以確保產(chǎn)品的質(zhì)量和可靠性。

6、標志、包裝、運輸和儲存：標準對EEPROM的標志、包裝、運輸和儲存等環(huán)節(jié)進行了規(guī)定，以保證產(chǎn)品在流通過程中的安全和完整。

三、標準的意義

GB/T 17574.11-2006標準的發(fā)布和實施，對于促進我國集成電路產(chǎn)業(yè)的技術(shù)進步和產(chǎn)品質(zhì)量提升具有重要作用。通過規(guī)范EEPROM的生產(chǎn)和應(yīng)用，可以提高產(chǎn)品的可靠性和穩(wěn)定性，滿足電子設(shè)備對高性能存儲器的需求，推動集成電路產(chǎn)業(yè)的健康發(fā)展。

檢測流程步驟

溫馨提示：以上內(nèi)容僅供參考使用，更多檢測需求請咨詢客服。