GB/T 29190-2012《掃描探針顯微鏡漂移速率測量方法》基本信息

標準號：

GB/T 29190-2012

中文名稱：

《掃描探針顯微鏡漂移速率測量方法》

發(fā)布日期：

2012-12-31

實施日期：

2013-06-01

發(fā)布部門：

國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗檢疫總局 中國國家標準化管理委員會

提出單位：

中國科學院

歸口單位：

全國納米技術(shù)標準化技術(shù)委員會(SAC/TC279)歸口。

起草單位：

中國科學技術(shù)大學、上海市計量測試技術(shù)研究院

起草人：

黃文浩、陳宇航、李源、傅云霞、褚家如、李家文、牛頓、朱五林、劉一

中國標準分類號：

A60光學計量

國際標準分類號：

17.180.99有關(guān)光學和光學測量的其他標準

GB/T 29190-2012《掃描探針顯微鏡漂移速率測量方法》介紹

GB/T 29190-2012《掃描探針顯微鏡漂移速率測量方法》是國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗檢疫總局和中國國家標準化管理委員會于2012年12月31日發(fā)布，2013年6月1日實施的一項國家標準。

一、標準適用范圍

GB/T 29190-2012適用于掃描探針顯微鏡（SPM）的漂移速率測量，包括原子力顯微鏡（AFM）、掃描隧道顯微鏡（STM）等類型的掃描探針顯微鏡。該標準適用于科研、工業(yè)生產(chǎn)等領(lǐng)域的掃描探針顯微鏡的漂移速率測量。

二、測量原理

掃描探針顯微鏡的漂移速率是指在掃描過程中，由于各種因素（如溫度、濕度、機械振動等）引起的圖像位置的相對變化。該標準規(guī)定了基于時間序列分析的漂移速率測量方法，通過測量掃描探針顯微鏡在一定時間內(nèi)的圖像位置變化，計算出漂移速率。

三、測量步驟

1、準備工作：確保掃描探針顯微鏡處于穩(wěn)定狀態(tài)，環(huán)境條件（如溫度、濕度）滿足測量要求。

2、進行掃描：在規(guī)定的時間間隔內(nèi)，對同一區(qū)域進行多次掃描，獲得時間序列的掃描圖像。

3、圖像處理：對掃描圖像進行預(yù)處理，如去噪、校正等，以提高測量精度。

4、計算漂移速率：根據(jù)時間序列的掃描圖像，采用數(shù)學方法計算出漂移速率。

四、測量結(jié)果的表示和分析

GB/T 29190-2012要求測量結(jié)果應(yīng)以漂移速率的數(shù)值表示，單位為納米/秒（nm/s）。同時，應(yīng)分析漂移速率與環(huán)境條件、儀器參數(shù)等因素的影響，以指導實際應(yīng)用中的漂移補償和測量精度的提高。

五、標準的意義

GB/T 29190-2012的發(fā)布和實施，對于提高我國掃描探針顯微鏡的測量精度和穩(wěn)定性具有重要意義。該標準為掃描探針顯微鏡的漂移速率測量提供了統(tǒng)一的方法和規(guī)范，有助于推動掃描探針顯微鏡技術(shù)的發(fā)展和應(yīng)用。

六、標準的應(yīng)用前景

隨著科學技術(shù)的不斷發(fā)展，掃描探針顯微鏡在納米科學、材料科學、生物醫(yī)學等領(lǐng)域的應(yīng)用越來越廣泛。GB/T 29190-2012的實施將有助于提高掃描探針顯微鏡的測量精度，為相關(guān)領(lǐng)域的研究和產(chǎn)業(yè)發(fā)展提供有力的技術(shù)支撐。

檢測流程步驟

溫馨提示：以上內(nèi)容僅供參考使用，更多檢測需求請咨詢客服。