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石英晶體元件(0901)檢測檢驗(yàn)測試標(biāo)準(zhǔn)依據(jù)

檢測報(bào)告圖片樣例

本文主要列舉了關(guān)于石英晶體元件(0901)的相關(guān)檢測標(biāo)準(zhǔn),檢測標(biāo)準(zhǔn)僅供參考,如果您想了解自己的樣品需要哪些檢測標(biāo)準(zhǔn),可以咨詢我們。

SN/T 0901-2015:進(jìn)出口合成纖維 網(wǎng)絡(luò)絲網(wǎng)絡(luò)度、網(wǎng)絡(luò)牢度測定方法

YY/T 0901-2013:紫外治療設(shè)備

GB/T 22319.9-2018:石英晶體元件參數(shù)的測量 第9部分:石英晶體元件寄生諧振的測量

GB/T 22319.7-2015:石英晶體元件參數(shù)的測量 第7部分:石英晶體元件活性跳變的測量

GB/T 22319.8-2008:石英晶體元件參數(shù)的測量 第8部分:表面貼裝石英晶體元件用測量夾具

SJ 52138/1-1995:JA 538型石英晶體元件詳細(xì)規(guī)范

NB/SH/T 0901-2015:礦物油玻璃化轉(zhuǎn)變溫度的測定 差示掃描量熱法

QJ 2979-1997:XJ33型石英晶體元件詳細(xì)規(guī)范

QJ 2980-1997:XJ36型石英晶體元件詳細(xì)規(guī)范

QJ 2978-1997:XJ17型石英晶體元件詳細(xì)規(guī)范

QJ 2981-1997:XJ39型石英晶體元件詳細(xì)規(guī)范

QJ 2929-1997:XJ42型石英晶體元件詳細(xì)規(guī)范

SJ/Z 9152.2-1987(2017):頻率控制和選擇用石英晶體元件 第二部分:頻率控制和選擇用石英晶體元件使用指南

SJ/Z 9152.2-1987(2009):頻率控制和選擇用石英晶體元件 第二部分:頻率控制和選擇用石英晶體元件使用指南

QJ 2930-1997:XB87型高精密石英晶體元件詳細(xì)規(guī)范

SJ/Z 9154.2-1987(2009):用π型網(wǎng)絡(luò)零相位法測量石英晶體元件參數(shù) 第二部分 測量石英晶體元件動(dòng)態(tài)電容的相位偏置法

GB/T 7895-2008:人造光學(xué)石英晶體

GB/T 12273.1-2017:有質(zhì)量評(píng)定的石英晶體元件 第1部分:總規(guī)范

SJ/T 11199-2016(2017):壓電石英晶體片

SJ/T 11199-2016:壓電石英晶體片

SJ/T 10015-2013:10kHz~200kHz音叉石英晶體元件的測試方法和標(biāo)準(zhǔn)值

SJ/T 10015-2013(2017):10kHz~200kHz音叉石英晶體元件的測試方法和標(biāo)準(zhǔn)值

JJF 2090-2023:石英晶體頻率標(biāo)準(zhǔn)校準(zhǔn)規(guī)范

SJ/T 11210-1999:石英晶體元件參數(shù)的測量 第4部分:頻率達(dá)30MHz石英晶體元件負(fù)載諧振頻率fL和負(fù)載諧振電阻RL的測量方法及其他導(dǎo)出參數(shù)的計(jì)算

SJ/T 11210-1999(2010):石英晶體元件參數(shù)的測量 第4部分:頻率達(dá)30MHz石英晶體元件負(fù)載諧振頻率fL和負(fù)載諧振電阻RL的測量方法及其他導(dǎo)出參數(shù)的計(jì)算

GB/T 3351-1982:人造石英晶體的型號(hào)命名

GB/T 7896-2008:人造光學(xué)石英晶體試驗(yàn)方法

CNS 12256-1988:石英振蕩晶體用恒溫箱

JJG 181-2005:石英晶體頻率標(biāo)準(zhǔn)檢定規(guī)程

SJ/Z 9154.1-1987(2009):用π型網(wǎng)絡(luò)零相位法測量石英晶體元件參數(shù) 第一部分:用π型網(wǎng)絡(luò)零相位法測量石英晶體元件諧振頻率和諧振電阻的基本方法

檢測流程步驟

檢測流程步驟

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