本文主要列舉了關(guān)于北斗基帶芯片的相關(guān)檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)，檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)僅供參考，如果您想了解自己的樣品需要哪些檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)，可以咨詢我們。

GB/T 37943-2019：北斗衛(wèi)星授時(shí)終端測(cè)試方法

GB/T 39467-2020：北斗精密服務(wù)產(chǎn)品規(guī)范

GB/T 39267-2020：北斗衛(wèi)星導(dǎo)航術(shù)語(yǔ)

GB/T 42578-2023：北斗剖分時(shí)間碼

GB/T 42579-2023：北斗衛(wèi)星導(dǎo)航系統(tǒng)時(shí)間

GB/T 39409-2020：北斗網(wǎng)格位置碼

JJF 1532-2015：基帶衰落模擬器校準(zhǔn)規(guī)范

FZ/T 43050-2018：針式打印機(jī)用打印基帶

GB/T 37937-2019：北斗衛(wèi)星授時(shí)終端技術(shù)要求

GB/T 39411-2020：北斗衛(wèi)星共視時(shí)間傳遞技術(shù)要求

DG/T 157-2023：農(nóng)業(yè)機(jī)械北斗導(dǎo)航輔助駕駛系統(tǒng)

GB/T 39787-2021：北斗衛(wèi)星導(dǎo)航系統(tǒng)坐標(biāo)系

CH/T 2019-2023：北斗導(dǎo)航基礎(chǔ)數(shù)據(jù)中心維護(hù)與管理規(guī)范

YD/T 3636-2020：基帶饋入數(shù)字分布系統(tǒng)設(shè)備測(cè)試方法

GB/T 27990-2011：生物芯片基本術(shù)語(yǔ)

SJ 21623-2021：芯片拼接設(shè)備通用規(guī)范

YD/T 3635-2020：基帶饋入數(shù)字分布系統(tǒng)設(shè)備技術(shù)要求

SY/T 7670-2022：油氣行業(yè)北斗應(yīng)用技術(shù)規(guī)范

GB/T 39783-2021：北斗地基增強(qiáng)系統(tǒng)數(shù)據(jù)處理中心技術(shù)要求

GM/T 0008-2012：安全芯片密碼檢測(cè)準(zhǔn)則

GB/T 39473-2020：北斗衛(wèi)星導(dǎo)航系統(tǒng)公開(kāi)服務(wù)性能規(guī)范

GB/T 39721-2021：北斗地基增強(qiáng)系統(tǒng)基準(zhǔn)站入網(wǎng)技術(shù)要求

JT/T 1473-2023：基于北斗通信的海上安全信息播發(fā)要求

GB/T 42575-2023：北斗雙模型OEM板性能要求及測(cè)試方法

YD/T 3330-2018：支持通信應(yīng)用的北斗授時(shí)設(shè)備測(cè)試方法

QX/T 417-2018：北斗衛(wèi)星導(dǎo)航系統(tǒng)氣象信息傳輸規(guī)范

YD/T 3199-2016：支持通信應(yīng)用的北斗授時(shí)設(shè)備技術(shù)要求

YY/T 0692-2008：生物芯片基本術(shù)語(yǔ)

GB/T 35010.4-2018：半導(dǎo)體芯片產(chǎn)品 第4部分:芯片使用者和供應(yīng)商要求

GB/T 28639-2012：DNA微陣列芯片通用技術(shù)條件

檢測(cè)流程步驟

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