汽車電子元器件正弦掃頻振動試驗是模擬車輛在嚴(yán)酷環(huán)境下的可靠性測試，也是AEC-Q認(rèn)證腔封裝完整性測試中的一項重要測試。
汽車電子元器件正弦掃頻振動試驗
測試設(shè)備
正弦掃頻振動試驗儀
測試標(biāo)準(zhǔn)
JEDEC JESD22-B103 振動，變頻標(biāo)準(zhǔn)
測試要求
1、產(chǎn)品應(yīng)能經(jīng)受X、Y、Z三個方向的掃頻振動試驗。根據(jù)產(chǎn)品的安裝部位，其掃頻振動試驗的嚴(yán)酷度等級應(yīng)符合標(biāo)準(zhǔn)的規(guī)定。
2、產(chǎn)品通常在不工作及正常安裝狀態(tài)下經(jīng)受試驗，當(dāng)需要在工作狀態(tài)下試驗時，應(yīng)在產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn)中做出規(guī)定。產(chǎn)品經(jīng)振動試驗后，零部件應(yīng)無損壞，緊固件應(yīng)無松脫現(xiàn)象，性能應(yīng)符合標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定。
3、振動試驗的檢測點(diǎn)一般定為試驗夾具與試驗臺的結(jié)合處，當(dāng)檢測點(diǎn)有特別要求時應(yīng)在產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn)中規(guī)定。
4、試驗只接受0失效
AEC Q100
測試對象
集成電路
測試數(shù)量
15pcs
測試程序
1、20Hz——2000Hz——20Hz（對數(shù)掃頻）＞4min，
2、每軸向4次，峰值加速度50g。
3、測試前后的性能檢查在常溫下測試8h。
AEC Q101
測試對象
離散半導(dǎo)體
測試數(shù)量
15pcs
測試程序
1、試樣為密封件。
2、20Hz——100Hz 峰峰值位移：0.06inch;。
3、100Hz——2000Hz,加速度50g。
4、測試前后的性能檢查在常溫下測試8h。
AEC Q102
測試對象
離散光電半導(dǎo)體器件
測試數(shù)量
10PCS
測試程序
1、20Hz——100Hz 峰峰值位移：0.06inch，
2、100Hz——2000Hz,加速度20g，
測試前后的性能檢查在常溫下測試8h。
AEC Q103-002
測試對象
微機(jī)電系統(tǒng)(MEMS)壓力傳感器器件
測試數(shù)量
39pcs
測試程序
1、M1等級：20Hz——2000Hz——20Hz（對數(shù)掃頻）＞4min，每軸向4次；峰值加速度50g
2、M2等級：10Hz——2000Hz——10Hz（對數(shù)掃頻）＞4min，每軸向4次；峰值加速度50g
3、測試前后的性能檢查在常溫下測試8h。
4、備選方案：由任務(wù)文件制定。
AEC Q103-003
測試對象
微機(jī)電系統(tǒng)(MEMS)麥克風(fēng)器件
測試數(shù)量
12pcs
測試程序
1、20Hz——2000Hz——20Hz（對數(shù)掃頻）＜12min，
2、每軸向4次，峰值加速度20g，
3、測試前后的性能檢查在常溫下測試8h。
AEC Q104
測試對象
多芯片模塊(MCM)
測試數(shù)量
15pcs
測試程序
1、20Hz——2000Hz——20Hz（對數(shù)掃頻）＞4min。
2、每軸向4次，峰值加速度50g，
3、測試前后的性能檢查在常溫下測試8h。
試驗測試周期
在實驗室排期能滿足的情況下，一般2-3個月。
試驗測試費(fèi)用
根據(jù)客戶提供的詳細(xì)規(guī)格書，依據(jù)AEC-Q標(biāo)準(zhǔn)，進(jìn)行標(biāo)準(zhǔn)解讀，有些項目不需要進(jìn)行，也就是說做車規(guī)AEC-Q認(rèn)證，并非AEC-Q認(rèn)證里面列明的所有試驗項目都需要執(zhí)行，根據(jù)試驗項目決定測試費(fèi)用。
檢測流程步驟
溫馨提示：以上內(nèi)容僅供參考使用，更多檢測需求請咨詢客服。
