質(zhì)譜離子簇檢測報告如何辦理？檢測項目及標準有哪些？百檢第三方檢測機構，嚴格按照質(zhì)譜離子簇檢測相關標準進行測試和評估。做檢測，找百檢。我們只做真實檢測。

涉及質(zhì)譜 離子簇的標準有111條。

國際標準分類中，質(zhì)譜 離子簇涉及到金屬材料試驗、分析化學、半導體材料、土質(zhì)、土壤學、食品試驗和分析的一般方法、半導體分立器件、犯罪行為防范、橡膠和塑料制品、微生物學、光學和光學測量。

在中國標準分類中，質(zhì)譜 離子簇涉及到半金屬及半導體材料分析方法、基礎標準與通用方法、元素半導體材料、半金屬與半導體材料綜合、電子光學與其他物理光學儀器、犯罪鑒定技術、、、塑料型材、化學助劑基礎標準與通用方法、食品衛(wèi)生、衛(wèi)生綜合、土壤環(huán)境質(zhì)量分析方法、化學、基礎標準與通用方法、保健食品、基礎標準與通用方法、基礎學科綜合、表面活性劑、輕金屬及其合金分析方法、光學計量儀器。

國家質(zhì)檢總局，關于質(zhì)譜 離子簇的標準

GB/T 42274-2022氮化鋁材料中痕量元素（鎂、鎵）含量及分布的測定 二次離子質(zhì)譜法

GB/T 42263-2022硅單晶中氮含量的測定 二次離子質(zhì)譜法

GB/T 32495-2016表面化學分析二次離子質(zhì)譜硅中砷的深度剖析方法

GB/T 32281-2015太陽能級硅片和硅料中氧、碳、硼和磷量的測定二次離子質(zhì)譜法

GB/T 29851-2013光伏電池用硅材料中B、Al受主雜質(zhì)含量的二次離子質(zhì)譜測量方法

GB/T 29852-2013光伏電池用硅材料中P、As、Sb施主雜質(zhì)含量的二次離子質(zhì)譜測量方法

GB/T 25186-2010表面化學分析.二次離子質(zhì)譜.由離子注入?yún)⒖嘉镔|(zhì)確定相對靈敏度因子

GB/T 24575-2009硅和外延片表面Na、Al、K和Fe的二次離子質(zhì)譜檢測方法

GB/T 24580-2009重摻n型硅襯底中硼沾污的二次離子質(zhì)譜檢測方法

GB/T 22572-2008表面化學分析 二次離子質(zhì)譜 用多δ層參考物質(zhì)評估深度分辨參數(shù)的方法

GB/T 20176-2006表面化學分析.二次離子質(zhì)譜.用均勻摻雜物質(zhì)測定硅中硼的原子濃度

國家市場監(jiān)督管理總局、中國國家標準化管理委員會，關于質(zhì)譜 離子簇的標準

GB/T 41064-2021表面化學分析 深度剖析 用單層和多層薄膜測定X射線光電子能譜、俄歇電子能譜和二次離子質(zhì)譜中深度剖析濺射速率的方法

GB/T 41153-2021碳化硅單晶中硼、鋁、氮雜質(zhì)含量的測定二次離子質(zhì)譜法

GB/T 40109-2021表面化學分析 二次離子質(zhì)譜 硅中硼深度剖析方法

GB/T 40129-2021表面化學分析二次離子質(zhì)譜飛行時間二次離子質(zhì)譜儀質(zhì)量標校準

GB/T 39144-2020氮化鎵材料中鎂含量的測定 二次離子質(zhì)譜法

國際標準化組織，關于質(zhì)譜 離子簇的標準

ISO 17862:2022表面化學分析.二次離子質(zhì)譜法.單離子計數(shù)飛行時間質(zhì)量分析儀中強度標度的線性

ISO/TS 22933:2022表面化學分析.二次離子質(zhì)譜法.模擬離子質(zhì)譜中質(zhì)量分辨率的測量方法

ISO 17109:2022表面化學分析.深度剖面.用單層和多層薄膜在X射線光電子能譜、俄歇電子能譜和二次離子質(zhì)譜中測定濺射速率的方法

ISO 18114:2021表面化學分析. 次級離子質(zhì)譜法. 測定離子注入標樣中的相對靈敏度系數(shù)

ISO 22415:2019表面化學分析.二次離子質(zhì)譜法.有機材料氬團簇濺射深度剖面測定屈服體積的方法

ISO 178:2019表面化學分析.二次離子質(zhì)譜法.單離子計數(shù)飛行時間質(zhì)量分析儀中強度標度的線性

ISO 13084:2018表面化學分析 - 二次離子質(zhì)譜法 - 用于飛行時間二次離子質(zhì)譜儀的質(zhì)譜的校準

ISO 17109:2015表面化學分析. 深度剖析. 使用單層和多層薄膜測定X射線光電子能譜, 俄歇電子能譜以及二次離子質(zhì)譜法濺射深度剖析中濺射率的方法

ISO 17560:2014表面化學分析 - 二次離子質(zhì)譜法 - 硅在硅中深度分析的方法

ISO 17862:2013表面化學分析——二次離子質(zhì)譜法——單離子計數(shù)飛行時間質(zhì)量分析儀中強度標度的線性

ISO 13084:2011表面化學分析.二次離子質(zhì)譜分析法.飛行時間二次離子質(zhì)譜儀用質(zhì)量標度的校準

ISO 12406:2010表面化學分析.二次離子質(zhì)譜分析法.硅中砷的深度剖析法

ISO 14237:2010表面化學分析.二次離子質(zhì)譜.用均勻摻雜物質(zhì)測定硅中硼的原子濃度

ISO 23812:2009表面化學分析.次級離子質(zhì)譜測定法.使用多δ層參考材料的硅深度校準方法

ISO 23830:2008表面化學分析.次級離子質(zhì)譜測定法.靜態(tài)次級離子質(zhì)譜測定法中相對強度數(shù)值范圍的重復性和穩(wěn)定性

ISO 22048:2004表面化學分析——靜態(tài)二次離子質(zhì)譜信息格式

ISO 20341:2003表面化學分析.次級離子質(zhì)譜法.多δ層標準材料深度溶解參數(shù)的估算方法

ISO 18114:2003表面化學分析.次級離子質(zhì)譜法.測定離子注入標樣中的相對靈敏度系數(shù)

ISO 14237:2000表面化學分析 二次離子質(zhì)譜 用均勻摻雜物質(zhì)測定硅中硼的原子濃度

ISO 178:1975表面化學分析.二次離子質(zhì)譜法.單離子計數(shù)飛行時間質(zhì)量分析儀中強度標度的線性

美國材料與試驗協(xié)會，關于質(zhì)譜 離子簇的標準

ASTM D7363-13A(2021)e1在選定離子監(jiān)測模式下用固相微萃取和氣相色譜/質(zhì)譜法測定沉積物孔隙水中母體和烷基多環(huán)芳烴的標準試驗方法

ASTM E1635-06(2019)二次離子質(zhì)譜（SIMS）中成像數(shù)據(jù)報告的標準實施規(guī)程

ASTM E1504-11(2019)二次離子質(zhì)譜法（SIMS）中質(zhì)譜數(shù)據(jù)報告的標準實施規(guī)程

ASTM E1162-11(2019)二次離子質(zhì)譜法（SIMS）中濺射深度剖面數(shù)據(jù)報告的標準實施規(guī)程

ASTM C1845-16在以電感耦合等離子體質(zhì)譜法 (ICP-MS)進行的同位素分析中使用高壓離子色譜法 (HPIC) 從鈾矩陣中分離鑭系元素的標準實施規(guī)程

ASTM D7363-13在選定的離子監(jiān)控模式下用固相微萃取法和氣相色譜/質(zhì)譜法測定沉積物孔隙水中母體芳烴和烷基多環(huán)芳烴的標準試驗方法

ASTM D7363-13a在選定的離子監(jiān)控模式下用固相微萃取法和氣相色譜/質(zhì)譜法測定沉積物孔隙水中母體芳烴和烷基多環(huán)芳烴的標準試驗方法

ASTM E1881-12用次級離子質(zhì)譜法 (SIMS) 對細胞培養(yǎng)分析的標準指南

ASTM E1880-12用次級離子質(zhì)譜法 (SIMS) 進行組織低溫截面分析的標準實施規(guī)程

ASTM D7363-11采用固相微萃取和氣相色譜/質(zhì)譜.選擇離子檢測模式測定沉淀物間隙水中前體及烷基多環(huán)芳香烴的標準試驗方法

ASTM E1162-11報告次級離子質(zhì)譜分析法(SIMS)中濺深深度文件數(shù)據(jù)的標準操作規(guī)程

ASTM E1504-11次級離子質(zhì)譜分析法中報告質(zhì)譜數(shù)據(jù)的標準操作規(guī)程

ASTM E2426-10通過用次級離子質(zhì)譜法測量同位素比率對脈沖計算系統(tǒng)死時間測定的標準實施規(guī)程

ASTM E2695-09用飛行時間二次離子質(zhì)譜法說明質(zhì)譜數(shù)據(jù)獲取的標準指南

ASTM D7363-07使用固相微萃取和氣相色譜/質(zhì)譜法在選定的離子監(jiān)測模式下測定沉積物孔隙中的親本和烷基多環(huán)芳烴的標準測試方法

ASTM E1881-06用次級離子質(zhì)譜法(SIMS)進行細胞培養(yǎng)分析的標準指南

ASTM E1635-06(2011)次級離子質(zhì)譜法(SIMS)成像數(shù)據(jù)報告標準規(guī)程

ASTM E1504-06次級離子質(zhì)譜法(SIMS)中質(zhì)譜數(shù)據(jù)報告的標準實施規(guī)程

ASTM E1162-06報告次級離子質(zhì)譜法(SIMS)中濺射深度截面數(shù)據(jù)的標準實施規(guī)程

ASTM E1635-06報告次級離子質(zhì)譜法(SIMS)成像數(shù)據(jù)用標準實施規(guī)程

ASTM E1438-06用次級離子質(zhì)譜法(SIMS)測量深度摻雜分布界面寬度標準指南

ASTM E1880-06用次級離子質(zhì)譜法(SIMS)進行組織低溫截面分析的標準實施規(guī)程

ASTM F1617-98用次級離子質(zhì)譜測定法(SIMS)測定表面鈉,鋁,鉀-硅和EPI襯底的標準試驗方法

ASTM E1504-92(2001)次級離子質(zhì)譜(SIMS)測定中質(zhì)譜數(shù)據(jù)報告的標準規(guī)范

ASTM E1504-92(1996)次級離子質(zhì)譜(SIMS)測定中質(zhì)譜數(shù)據(jù)報告的標準規(guī)范

ASTM E1438-91(2001)用次級離子質(zhì)譜法(SIMS)測量濺射深度成形界面的寬度

ASTM E1438-91(1996)用次級離子質(zhì)譜法(SIMS)測量濺射深度成形界面的寬度

ASTM E1162-87(1996)二次離子質(zhì)譜法(SIMS)中報告濺射深度截面數(shù)據(jù)

ASTM E1162-87(2001)二次離子質(zhì)譜法(SIMS)中報告濺射深度截面數(shù)據(jù)

行業(yè)標準-公共安全標準，關于質(zhì)譜 離子簇的標準

GA/T 1916-2021法庭科學 生物檢材中氟乙酸根離子檢驗 液相色譜-質(zhì)譜法

GA/T 1628-2019法庭科學 生物檢材中草甘膦檢驗 離子色譜-質(zhì)譜法

GA/T 1320-2016法庭科學血液、尿液中氟離子氣相色譜-質(zhì)譜檢驗方法

GA/T 933-2011生物樣品中氟乙酸根離子的氣相色譜和氣相色譜-質(zhì)譜聯(lián)用檢驗方法

日本工業(yè)標準調(diào)查會，關于質(zhì)譜 離子簇的標準

JIS K0158-2021表面化學分析. 二次離子質(zhì)譜法. 單離子計數(shù)動態(tài)二次離子質(zhì)譜法中飽和強度的校正方法

JIS K0157-2021表面化學分析. 二次離子質(zhì)譜法. 渡越時間二次離子質(zhì)譜儀的質(zhì)量標度的校準

JIS K7129-6-2016塑料. 薄膜和薄板材. 水蒸汽傳遞率的測定. 第6部分: 大氣壓力離子質(zhì)譜法

JIS K0153-2015表面化學分析. 二次離子質(zhì)譜法. 靜態(tài)二次離子質(zhì)譜法中相對強度范圍的重復性和穩(wěn)定性

JIS K0169-2012表面化學分析.二次離子質(zhì)譜(SIMS).帶多重亞鉛層對照物的深度分辨率參數(shù)估算方法

JIS K0168-2011表面化學分析.靜態(tài)二次離子質(zhì)譜法用信息格式

JIS K0163-2010表面化學分析.次級離子質(zhì)譜法.離子注入標樣中相對靈敏度系數(shù)的測定

JIS K0143-2000表面化學分析.次級離子質(zhì)譜法.利用均勻摻雜材料測定硅中硼原子濃度

中國團體標準，關于質(zhì)譜 離子簇的標準

T/DLAS 004-2021富硒農(nóng)產(chǎn)品中5種硒的測定 離子色譜-電感耦合等離子體質(zhì)譜法

T/CASAS 009-2019半絕緣碳化硅材料中痕量雜質(zhì)濃度及分布的二次離子質(zhì)譜檢測方法

T/CASAS 010-2019氮化鎵材料中痕量雜質(zhì)濃度及分布的二次離子質(zhì)譜檢測方法

英國標準學會，關于質(zhì)譜 離子簇的標準

BS ISO 17109:2015表面化學分析. 深度剖析. 使用單層和多層薄膜測定X射線光電子能譜, 俄歇電子能譜以及二次離子質(zhì)譜法濺射深度剖析中濺射率的方法

BS ISO 15106-6:2015塑料. 薄膜和薄板. 水蒸汽傳遞率的測定. 大氣壓力離子質(zhì)譜法

BS ISO 17862:2013表面化學分析.次級離子質(zhì)譜法.單離子計數(shù)飛行時間質(zhì)量分析器強度標的線性

BS ISO 13084:2011表面化學分析.二次離子質(zhì)譜.飛行時間二次離子質(zhì)譜用質(zhì)量標度的校準

BS ISO 12406:2010表面化學分析.二次離子質(zhì)譜分析法.硅中砷的深度剖析法

BS ISO 14237:2010表面化學分析.二次離子質(zhì)譜.用均勻摻雜物質(zhì)測定硅中硼的原子濃度

BS ISO 23812:2009表面化學分析.次級離子質(zhì)譜分析法.用多δ層基準物質(zhì)對硅進行深度校準的方法

BS ISO 23830:2008表面化學分析.次級離子質(zhì)譜法.靜態(tài)次級離子質(zhì)譜法中相對強度數(shù)值范圍的重復性和穩(wěn)定性

BS ISO 22048:2005表面化學分析.靜態(tài)次生離子質(zhì)譜法的信息格式

BS ISO 20341:2003表面化學分析.次級離子質(zhì)譜法.多δ層標準材料深度溶解參數(shù)的估算方法

BS ISO 18114:2003表面化學分析.次級離子質(zhì)譜法.測定離子注入標樣的相對靈敏系數(shù)

行業(yè)標準-電子，關于質(zhì)譜 離子簇的標準

SJ/T 11498-2015重摻硅襯底中氧濃度的二次離子質(zhì)譜測量方法

SJ/T 11493-2015硅襯底中氮濃度的二次離子質(zhì)譜測量方法

國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗檢疫總局，關于質(zhì)譜 離子簇的標準

SN/T 3850.1-2014出口食品中多種糖醇類甜味劑的測定 第1部分：液相色譜串聯(lián)質(zhì)譜法和離子色譜法

行業(yè)標準-商品檢驗，關于質(zhì)譜 離子簇的標準

SN/T 3541-2013出口食品中多種醚類除草劑殘留量檢測方法 氣相色譜 -負化學離子源-質(zhì)譜法

SN/T 2210-2008保健食品中六價鉻的測定.離子色譜-電感耦合等離子體質(zhì)譜法

法國標準化協(xié)會，關于質(zhì)譜 離子簇的標準

NF X21-070-2010表面化學分析.二次離子質(zhì)譜.用均勻摻雜物質(zhì)測定硅中硼的原子濃度.

NF X21-066-2009表面化學分析.次級離子質(zhì)譜分析法.用多δ層參考物質(zhì)對硅進行深度校準的方法

NF X21-064-2009表面化學分析.次級離子質(zhì)譜測定法.靜態(tài)次級離子質(zhì)譜測定法中相對強度數(shù)值范圍的重復性和穩(wěn)定性

韓國科技標準局，關于質(zhì)譜 離子簇的標準

KS D ISO 20341:2005表面化學分析.次級離子質(zhì)譜法.多δ層標準材料深度溶解參數(shù)的估算方法

KS D ISO 22048:2005表面化學分析.靜態(tài)次生離子質(zhì)譜法的信息格式

KS D ISO 18114:2005表面化學分析.次級離子質(zhì)譜法.測定離子注入標樣中的相對靈敏度系數(shù)

KS D ISO 14237:2003表面化學分析.次級離子質(zhì)譜法.使用非均一摻雜材料的硅中硼原子的濃度測定

，關于質(zhì)譜 離子簇的標準

KS D ISO 18114-2005(2020)表面化學分析二次離子質(zhì)譜法離子注入標準物質(zhì)相對靈敏度因子的測定

KS D ISO 20341-2005(2020)表面化學分析二次離子質(zhì)譜法用多δ層標準物質(zhì)估算深度分辨參數(shù)的方法

KS D ISO 22048-2005(2020)表面化學分析 - 靜態(tài)二次離子質(zhì)譜的信息格式

浙江省標準，關于質(zhì)譜 離子簇的標準

DB33/T 543-2005水果、蔬菜中農(nóng)藥多殘留測定方法氣相色譜離子阱質(zhì)譜聯(lián)用法

澳大利亞標準協(xié)會，關于質(zhì)譜 離子簇的標準

AS ISO 17560:2006表面化學分析．次級離子質(zhì)譜測量法．硅中注入硼的深度分布分析法

AS ISO 14237:2006表面化學分析．次級離子質(zhì)譜測量法．使用均一的絕緣材料測定硅中的硼原子濃度

AS ISO 22048:2006表面化學分析．靜止次級離子質(zhì)譜測量法用信息格式

AS ISO 18114:2006表面化學分析．次級離子質(zhì)譜法．植入離子的參考材料的相對靈敏系數(shù)的測定

檢測流程步驟

溫馨提示：以上內(nèi)容僅供參考使用，更多檢測需求請咨詢客服。