俄歇電子能譜表面檢測報告如何辦理？檢測項目及標準有哪些？百檢第三方檢測機構，嚴格按照俄歇電子能譜表面檢測相關標準進行測試和評估。做檢測，找百檢。我們只做真實檢測。

涉及俄歇電子能譜 表面的標準有117條。

國際標準分類中，俄歇電子能譜 表面涉及到分析化學、長度和角度測量、光學設備、光學和光學測量、金屬材料試驗、電子元器件綜合、無損檢測、電學、磁學、電和磁的測量。

在中國標準分類中，俄歇電子能譜 表面涉及到基礎標準與通用方法、質譜儀、液譜儀、能譜儀及其聯(lián)用裝置、電子光學與其他物理光學儀器、金屬化學分析方法綜合、化學、標準化、質量管理、光學測試儀器、綜合測試系統(tǒng)、化學助劑基礎標準與通用方法。

國家市場監(jiān)督管理總局、中國國家標準化管理委員會，關于俄歇電子能譜 表面的標準

GB/T 36504-2018印刷線路板表面污染物分析 俄歇電子能譜

GB/T 29732-2021表面化學分析 中等分辨俄歇電子能譜儀 元素分析用能量標校準

GB/T 36533-2018硅酸鹽中微顆粒鐵的化學態(tài)測定 俄歇電子能譜法

GB/T 41064-2021表面化學分析 深度剖析 用單層和多層薄膜測定X射線光電子能譜、俄歇電子能譜和二次離子質譜中深度剖析濺射速率的方法

GB/T 41072-2021表面化學分析 電子能譜 紫外光電子能譜分析指南

GB/T 41073-2021表面化學分析 電子能譜 X射線光電子能譜峰擬合報告的基本要求

國際標準化組織，關于俄歇電子能譜 表面的標準

ISO/TR 18394:2016表面化學分析. 俄歇電子能譜學. 提取化學信息

ISO 21270:2004表面化學分析X射線光電子能譜儀和俄歇電子能譜儀.強度標的線性

ISO 16242:2011表面化學分析.俄歇電子能譜術(AES)的記錄和報告數(shù)據

ISO 29081:2010表面化學分析.俄歇電子能譜法.電荷控制和電荷調整用報告法

ISO/DIS 17973:2023表面化學分析 中分辨率俄歇電子能譜儀 元素分析能級的校準

ISO/TR 18394:2006表面化學分析.俄歇電子光譜法.化學信息的推導

ISO 15471:2004表面化學分析.俄歇電子光譜法.選定的儀器性能參數(shù)的描述

ISO 15471:2016表面化學分析.俄歇電子光譜法.選定的儀器性能參數(shù)的描述

ISO/CD 17973表面化學分析 中分辨率俄歇電子能譜儀 元素分析能量標度的校準

ISO 18516:2006表面化學分析.俄歇電子光譜法和X射線光電子光譜法.橫向分辨率測定

ISO 17109:2022表面化學分析.深度剖面.用單層和多層薄膜在X射線光電子能譜、俄歇電子能譜和二次離子質譜中測定濺射速率的方法

ISO/TR 19319:2003表面化學分析.俄歇電子能譜和X射線光電子能譜.分析員對橫向分辨率、分析區(qū)域和樣品區(qū)域的目視檢測

ISO 20903:2019表面化學分析 - 俄歇電子光譜和X射線光電子能譜 - 用于確定峰值強度的方法和報告結果時所需的信息

ISO/DIS 18118:2023表面化學分析 俄歇電子能譜和 X 射線光電子能譜 使用實驗確定的相對靈敏度因子進行均質材料定量分析的指南

ISO/FDIS 18118:2023表面化學分析 - 俄歇電子能譜和 X 射線光電子能譜 - 使用實驗確定的相對靈敏度因子進行均質材料定量分析的指南

ISO 20903:2011表面化學分析.俄歇電子能普和X射線光電子光譜.通報結果所需峰值強度和信息的測定方法

ISO 17109:2015表面化學分析. 深度剖析. 使用單層和多層薄膜測定X射線光電子能譜, 俄歇電子能譜以及二次離子質譜法濺射深度剖析中濺射率的方法

ISO 18118:2004表面化學分析.俄歇電子光譜法和X射線光電子光譜法.同質材料定量分析用實驗室測定相對敏感性因子的使用指南

ISO 18118:2015表面化學分析.俄歇電子光譜法和X射線光電子光譜法.同質材料定量分析用實驗室測定相對敏感性因子的使用指南

ISO 19830:2015表面化學分析. 電子能譜. X射線光電子能譜峰擬合的*低報告要求

ISO 16129:2018表面化學分析 - X射線光電子能譜 - 評估X射線光電子能譜儀日常性能的方法

國家質檢總局，關于俄歇電子能譜 表面的標準

GB/Z 32494-2016表面化學分析 俄歇電子能譜 化學信息的解析

GB/T 25187-2010表面化學分析.俄歇電子能譜.選擇儀器性能參數(shù)的表述

GB/T 28632-2012表面化學分析.俄歇電子能譜和X射線光電子能譜.橫向分辨率測定

GB/T 21006-2007表面化學分析 X射線光電子能譜儀和俄歇電子能譜儀 強度標的線性

GB/T 26533-2011俄歇電子能譜分析方法通則

GB/T 29558-2013表面化學分析 俄歇電子能譜 強度標的重復性和一致性

GB/T 29732-2013表面化學分析 中等分辨率俄歇電子譜儀 元素分析用能量標校準

GB/T 29731-2013表面化學分析 高分辨俄歇電子能譜儀 元素和化學態(tài)分析用能量標校準

GB/T 29556-2013表面化學分析 俄歇電子能譜和X射線光電子能譜 橫向分辨率、分析面積和分析器所能檢測到的樣品面積的測定

GB/T 28893-2012表面化學分析.俄歇電子能譜和X射線光電子能譜.測定峰強度的方法和報告結果所需的信息

GB/T 30702-2014表面化學分析 俄歇電子能譜和X射線光電子能譜 實驗測定的相對靈敏度因子在均勻材料定量分析中的使用指南

GB/T 31470-2015俄歇電子能譜與X射線光電子能譜測試中確定檢測信號對應樣品區(qū)域的通則

英國標準學會，關于俄歇電子能譜 表面的標準

PD ISO/TR 18394:2016表面化學分析 俄歇電子能譜 化學信息的推導

BS ISO 16242:2011表面化學分析.俄歇電子能譜術的記錄和報告數(shù)據(AEC)

BS ISO 21270:2004表面化學分析 X 射線光電子能譜儀和俄歇電子能譜儀 強度尺度的線性

BS ISO 29081:2010表面化學分析.俄歇電子能譜法.電荷控制和電荷調整用報告法

BS PD ISO/TR 18394:2016表面化學分析.俄歇電子光譜法.化學信息的推導

BS ISO 15471:2005表面化學分析.俄歇電子光譜法.選定的儀器性能參數(shù)的描述

BS ISO 15471:2016跟蹤更改 表面化學分析 俄歇電子能譜 所選儀器性能參數(shù)的描述

BS ISO 18516:2006表面化學分析.俄歇電子光譜法和X射線光電子光譜法.橫向分辨率測定

BS ISO 21270:2005表面化學分析.X射線光電子和俄歇電子光譜儀.強度標的線性度

BS ISO 24236:2005表面化學分析.俄歇電子光譜法.強度標的可重復性和一致性

BS ISO 17973:2016跟蹤更改 表面化學分析 中分辨率俄歇電子能譜儀 元素分析能量標度的校準

BS ISO 20903:2011表面化學分析.俄歇電子能譜和X-射線光電光譜學.測定峰強度的方法和報告結果要求的信息

BS ISO 20903:2019跟蹤更改 表面化學分析 俄歇電子能譜和X射線光電子能譜 用于確定峰值強度的方法和報告結果時所需的信息

23/30461294 DCBS ISO 18118 表面化學分析 俄歇電子能譜和X射線光電子能譜 使用實驗確定的相對靈敏度因子進行均質材料定量分析的指南

BS ISO 18118:2015跟蹤更改 表面化學分析 俄歇電子能譜和X射線光電子能譜 使用實驗確定的相對靈敏度因子進行均質材料定量分析的指南

BS ISO 17109:2015表面化學分析. 深度剖析. 使用單層和多層薄膜測定X射線光電子能譜, 俄歇電子能譜以及二次離子質譜法濺射深度剖析中濺射率的方法

BS ISO 17109:2022表面化學分析 深度剖析 使用單層和多層薄膜的 X 射線光電子能譜、俄歇電子能譜和二次離子質譜濺射深度分析中濺射速率的測定方法...

21/30433862 DCBS ISO 17109 AMD1 表面化學分析 深度剖析 使用單一和……的 X 射線光電子能譜、俄歇電子能譜和二次離子質譜濺射深度分析中濺射速率測定方法

BS ISO 18118:2005表面化學分析.俄歇電子光譜法和X射線光電子光譜法.同質材料定量分析用實驗室測定相對敏感性系數(shù)的使用指南

BS ISO 19830:2015表面化學分析. 電子能譜. X射線光電子能譜峰擬合的*低報告要求

法國標準化協(xié)會，關于俄歇電子能譜 表面的標準

NF ISO 16242:2012表面化學分析 俄歇電子能譜(AES)數(shù)據記錄和報告

NF ISO 24236:2006表面化學分析 俄歇電子能譜 能級的重復性和恒定性

NF X21-072*NF ISO 16242:2012表面化學分析.俄歇電子能譜術(AES)的記錄和報告數(shù)據

NF ISO 17973:2006表面化學分析 中分辨率俄歇電子能譜儀 元素分析能量標度的校準

NF ISO 29081:2010表面化學分析 俄歇電子能譜 電荷控制和校正所采用的方法的指示

NF X21-068*NF ISO 29081:2010表面化學分析 俄歇電子光譜法 電荷控制和校正用方法的報告

NF X21-059*NF ISO 24236:2006表面化學分析.俄歇電子光譜法.強度等級的重復性和持久性

NF ISO 17974:2009表面化學分析 高分辨率俄歇電子能譜儀 用于元素和化學狀態(tài)分析的能量標度校準

NF X21-058:2006表面化學分析.俄歇電子能譜學和X射線光電子光譜法.測定峰強度使用的方法和報告結果時需要的信息

NF X21-067*NF ISO 17974:2009表面化學分析.高分辨率俄歇(Auger)電子分光計.元素及化學物質狀態(tài)分析用能量標度的校準

中華人民共和國國家質量監(jiān)督檢驗檢疫總局、中國國家標準化管理委員會，關于俄歇電子能譜 表面的標準

GB/T 35158-2017俄歇電子能譜儀檢定方法

GB/T 32565-2016表面化學分析俄歇電子能譜（AES）數(shù)據記錄與報告的規(guī)范要求

GB/T 32998-2016表面化學分析俄歇電子能譜荷電控制與校正方法報告的規(guī)范要求

韓國科技標準局，關于俄歇電子能譜 表面的標準

KS D ISO 21270:2005表面化學分析.X射線光電子能譜儀和俄歇電子能譜儀.強度標的線性

KS D ISO 21270-2005(2020)表面化學分析X射線光電子能譜儀和俄歇電子能譜儀強度標度的線性

KS D ISO 15471-2005(2020)表面化學分析－俄歇電子能譜學－選定儀器性能參數(shù)的描述

KS D ISO 15471:2005表面化學分析.俄歇電子光譜法.選定的儀器性能參數(shù)的描述

KS D ISO 17973-2011(2016)表面化學分析中分辨率俄歇電子能譜儀元素分析用能標的校準

KS D ISO 19319-2005(2020)表面化學分析－俄歇電子能譜和X射線光電子能譜－分析儀橫向分辨率、分析面積和樣品面積的測定

KS D ISO 17973-2011(2021)表面化學分析——中分辨率俄歇電子光譜儀——元素分析用能標的校準

KS D ISO 17974-2011(2016)表面化學分析高分辨率俄歇電子能譜儀元素和化學狀態(tài)分析用能標的校準

KS D ISO 17974-2011(2021)表面化學分析——高分辨率俄歇電子光譜儀——元素和化學狀態(tài)分析用能標的校準

KS D ISO 18118-2005(2020)表面化學分析俄歇電子能譜和X射線光電子能譜均勻材料定量分析用實驗測定的相對靈敏度因子的使用指南

KS D ISO 19319:2005表面化學分析.俄歇電子能譜和X射線光電子能譜.分析員對橫向分辨率、分析區(qū)域和樣品區(qū)域的目視檢測

KS D ISO 18118:2005表面化學分析.俄歇電子光譜法和X射線光電子光譜法.同質材料定量分析用實驗室測定相對敏感性因子的使用指南

未注明發(fā)布機構，關于俄歇電子能譜 表面的標準

BS ISO 18516:2006(2010)表面化學分析 俄歇電子能譜和X射線光電子能譜 橫向分辨率的測定

BS ISO 21270:2004(2010)表面化學分析 X射線光電子能譜儀和俄歇電子能譜儀 強度標度線性度

BS ISO 17974:2002(2010)表面化學分析 高分辨率俄歇電子能譜儀 元素和化學態(tài)分析能級的校準

德國標準化學會，關于俄歇電子能譜 表面的標準

DIN ISO 16242:2020-05表面化學分析 在俄歇電子能譜(AES)中記錄和報告數(shù)據

DIN ISO 16242:2020表面化學分析 俄歇電子能譜（AES）中的數(shù)據記錄和報告（ISO 16242:2011）；英文文本

DIN ISO 16129:2020-11表面化學分析 X射線光電子能譜 X射線光電子能譜儀日常性能評估程序

行業(yè)標準-機械，關于俄歇電子能譜 表面的標準

JB/T 6976-1993俄歇電子能譜術元素鑒定方法

日本工業(yè)標準調查會，關于俄歇電子能譜 表面的標準

JIS K 0161:2010表面化學分析.俄歇電子光譜法.選定的儀器性能參數(shù)的描述

JIS K 0167:2011表面化學分析.俄歇電子光譜和X射線光電子能譜學.勻質材料定量分析用實驗室測定相對敏感因子的使用指南

行業(yè)標準-電子，關于俄歇電子能譜 表面的標準

SJ/T 10457-1993俄歇電子能譜術深度剖析標準導則

SJ/T 10458-1993俄歇電子能譜術和X射線光電子能譜術的樣品處理標準導則

美國材料與試驗協(xié)會，關于俄歇電子能譜 表面的標準

ASTM E1127-91(1997)俄歇電子能譜學中的深度壓形的標準指南

ASTM E1127-08(2015)俄歇電子能譜學中的深度壓形的標準指南

ASTM E1127-08俄歇電子能譜學中的深度壓形的標準指南

ASTM E996-10(2018)俄歇電子能譜和X射線光電子能譜中數(shù)據報告的標準實施規(guī)程

ASTM E996-19俄歇電子能譜和X射線光電子能譜中數(shù)據報告的標準實施規(guī)程

ASTM E995-16俄歇電子光譜和X射線光電子能譜背景減法技術標準指南

ASTM E996-04俄歇電子光譜儀和X射線光電子能譜的報告數(shù)據的標準規(guī)程

ASTM E996-10俄歇電子光譜儀和X射線光電子能譜的報告數(shù)據的標準規(guī)程

ASTM E995-11在俄歇電子能譜和X射線光電子能譜中應用背景消除技術的標準指南

ASTM E996-94(1999)俄歇電子能譜分析和X射線光電子光譜分析數(shù)據報告的標準規(guī)程

ASTM E984-95(2001)識別俄歇電子能譜中化學效應和基質效應的標準指南

ASTM E984-95識別俄歇電子能譜中化學效應和基質效應的標準指南

ASTM E984-12(2020)識別俄歇電子能譜中化學效應和基質效應的標準指南

ASTM E984-06用俄歇電子能譜法鑒別化學效應和基體效應用標準指南

ASTM E984-12用俄歇電子能譜法鑒別化學效應和基體效應的標準指南

ASTM E1217-11用X射線光電子光譜儀和俄歇電子光譜儀測定影響檢測信號樣品面積的標準操作規(guī)程

ASTM E1217-11(2019)用于確定在俄歇電子能譜儀和一些X射線光電子能譜儀中檢測到的信號的樣品區(qū)域的標準實踐

ASTM E1217-00用X射線光電子光譜儀和俄歇電子光譜儀測定影響檢測信號的樣品面積的標準實施規(guī)范

ASTM E1217-05用X射線光電子光譜儀和俄歇電子光譜儀測定影響檢測信號的樣品面積的標準實施規(guī)范

RU-GOST R，關于俄歇電子能譜 表面的標準

GOST R ISO 16242-2016確保測量一致性的國家系統(tǒng). 表面化學分析. 俄歇電子能譜學 (AES) 的記錄和報告數(shù)據

澳大利亞標準協(xié)會，關于俄歇電子能譜 表面的標準

AS ISO 18118:2006表面化學分析．俄歇電子能譜法和X射線光電子光譜法．均質材料定量分析中實驗測定的相對靈敏系數(shù)使用指南

AS ISO 17974:2006表面化學分析．高分辨率俄歇電子分光計法．元素及化學物質狀態(tài)分析用能量標度校準

檢測流程步驟

溫馨提示：以上內容僅供參考使用，更多檢測需求請咨詢客服。