檢測項(xiàng)目：晶向檢測
晶向檢測范圍
藍(lán)寶石晶體，單晶硅，硅棒，鋯石，金剛石，砷化鎵，管材，半導(dǎo)體，硅片，晶體，氧化鋁，碳化硅，銅合金，陶瓷等。
晶向檢測標(biāo)準(zhǔn)
GB/T 1555-2009半導(dǎo)體單晶晶向測定方法
GB/T 34210-2017藍(lán)寶石單晶晶向測定方法
GB/T 39137-2020難熔金屬單晶晶向測定方法
SJ/T 11500-2015碳化硅單晶晶向的檢測方法
YS/T 23-2016硅外延層厚度測定 堆垛層錯(cuò)尺寸法
檢測流程步驟
溫馨提示：以上內(nèi)容僅供參考使用，更多檢測需求請咨詢客服。
