GB 5931-1986 輕工產(chǎn)品金屬鍍層和化學(xué)處理層的厚度測試方法β射線反向散射法標(biāo)準(zhǔn)內(nèi)容是什么？檢測報(bào)告如何辦理呢？百檢為您提供一站式的檢測服務(wù)。
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GB 5931-1986.Thickness testing method of the metal deposits and conversion coatings for the light indus trial products β Ray . backscattering.
GB 5931詳細(xì)說明應(yīng)用β射線反向散射儀器無損測量覆蓋層厚度的方法。
GB 5931等同采用國際標(biāo)準(zhǔn)ISO 3543- 1981《金屬和非金屬保護(hù)層一厚度的測定一 -β 反向散射法》。
1應(yīng)用范圍
本方法適用于測量金屬或非金屬基體上的金屬和非金屬覆蓋層的厚度。使用本方法，對覆蓋層和基體的原子:品或等值原子量應(yīng)該相差-一個(gè)適當(dāng)?shù)臄?shù)值。
2本標(biāo)準(zhǔn)中采用的有關(guān)名詞定義
2.1放射性衰減: - -種自然的核蛻變。蛻變中放射粒子或Y射線,或隨著軌道電子捕獲而發(fā)射x射線，或原子核發(fā)生自然的裂變。
2.2 β粒子; β粒子是帶正或帶負(fù)電荷的電子，它是在核蛻變過程中由原子核或中子發(fā)射的。
2.3 發(fā)射β的同位素、β發(fā)射源、β發(fā)射體:一種其核發(fā)射β粒子的物質(zhì)。
β發(fā)射體可以按其蛻變時(shí)釋放出來的粒子較大能級(jí)分類。
2.4電子伏特:是 一個(gè)能量單位,等于-一個(gè)電子通過電位差為1伏的能量變化(1電子伏特= 1.602x10- 19焦耳)。因?yàn)檫@個(gè)單位對所遇到的β粒子來說太小，所以通常用百萬電子伏特(MeV)表示。
2.5放射性強(qiáng)度: 在一個(gè)適當(dāng)小的時(shí)間間隔內(nèi),一-定數(shù) 量物質(zhì)發(fā)生的自然蛻變數(shù)除以該時(shí)間間隔。所以在β反向散射測量中，放射性強(qiáng)度越高，相應(yīng)的β粒子發(fā)射就越多。放射性強(qiáng)度的國際單位是貝克勒爾(Bq),用在β反向散射儀器的放射元索的放射性強(qiáng)度通常以微居里(μCi)表示，1微居里( 1μCi=3.7 x104Bq)表示每秒鐘有3.7 x 104個(gè)蛻變。
2.6半衰期， 對一個(gè)放射衰減過程，它的放射性強(qiáng)度減少到它原來數(shù)值一半 所需的時(shí)間。
2.7散射:人射的粒子或射線與粒了或許多粒子碰撞而使其方向或能量發(fā)生變化的過程。
2.8反向散射: 粒子從它進(jìn)人物體的同一表面離開該物體的散射。
2.9物體的反向散射 系數(shù)R:物體反向散射的粒子數(shù)與人射粒子數(shù)之比。
R與同位素的放射性強(qiáng)度和測:量時(shí)間無關(guān)。
2.10反向散射計(jì)數(shù)
2.10.1* 反向散射計(jì)數(shù)x:在-個(gè)規(guī)定的時(shí)間間隔內(nèi)，檢測器接收到的反射粒子數(shù)。x與同位素的放射性強(qiáng)度、測量時(shí)間、測量系統(tǒng)的幾何形狀、檢測器的性能等有關(guān)。通常，設(shè)未覆蓋基體得到的計(jì)數(shù)為xo，由覆蓋層材料得到的計(jì)數(shù)為x,為了得到這些數(shù)值,基體和覆蓋層的厚度都應(yīng)超過其飽和厚度。
《GB 5931-1986 輕工產(chǎn)品金屬鍍層和化學(xué)處理層的厚度測試方法β射線反向散射法》標(biāo)準(zhǔn)內(nèi)容僅部分展示，如果您有相關(guān)需求請致電百檢網(wǎng)咨詢。
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