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GB/T 2317.3-2008.

1范圍

GB/T 2317的本部分規(guī)定了電力金具的熱循環(huán)試驗方法。

GB/T 2317.3適用于電氣接續(xù)金具的電阻.溫升及熱循環(huán)電氣性能的試驗。2規(guī)范性引用文件

位測點可采用附錄B和附錄C的示意方式.

注:電位測試點不必焊接。附錄D中電位測點的實用操作方法可以得到滿意的性能。5.4 試驗回路的安裝

試驗回路的典型布墅見附錄B和附錄C.5.5 測量方法

5.5.1 電阻測量方法

各試驗電氣接續(xù)金具及參照導線,其電阻測量應在5.3規(guī)定的電位測點之間進行。

測量電阻時應讀出參照導線的溫度和試驗電氣接續(xù)金具的溫度,并按下式求出20 ℃時的電阻值。

7溫升試驗

7.1試驗程序

在試驗回路中通人試驗電流,按5.5.2規(guī)定的測量方法,在恒溫 30 min的后15 min 內,測試出參照導線與試件的溫度。應重復3次~5次溫升試驗,并計算其溫升值。取試驗結果的平均值作為測試結果。

7.2判定準則

如果試件的溫升不大于參照導線的溫升,則試驗通過。

8熱循環(huán)試驗

8.1 總則

熱循環(huán)試驗包括N次載流循環(huán),循環(huán)次數和溫升按表1執(zhí)行。

b)每0.1N次熱循環(huán)時,試件表面溫度不得超過參照導線的溫度;

c)在每0.1N次熱循環(huán)末,在環(huán)境溫度下測得的試件電阻不得超過參照導線等效長度電阻;在后0.5N次熱循環(huán)中,試件的平均電阻不得大于初始電阻值的1.5倍;

d)電阻與熱循環(huán)關系曲線應表明有一合理概率,即后0.5N次熱循環(huán)中電阻的增加不得超過

同期電阻平均值的15%。確定此概率的方法應符合附錄F的要求。

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檢測流程步驟

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