測試項(xiàng)目：金屬平均晶粒度測試
測試目的：測量金屬平均晶粒度級(jí)別，適用于平面晶粒度的測量且只測量晶粒度單峰分布試樣的平均晶粒度
項(xiàng)目介紹：晶粒度是晶粒大小的量度，金屬晶粒的大小對材料的機(jī)械性能、耐腐蝕性能等，均存在不同程度的影響。晶粒的大小通?？梢允褂瞄L度、面積、體積或晶粒度級(jí)別數(shù)表示，使用晶粒度級(jí)別數(shù)表示的晶粒度級(jí)別數(shù)與測量方法和使用單位無關(guān)。金屬材料平均晶粒度的測定常用比較法，也可采用截點(diǎn)法和面積法，有爭議時(shí)采用截點(diǎn)法。通常情況下不同種類的材料有不同的晶粒度形成和顯示的方法，常用的晶粒度形成及顯示方法包括：滲碳法、鐵素體網(wǎng)法、氧化法、直接淬硬法、滲碳體網(wǎng)法和細(xì)珠光體網(wǎng)法。評定平均晶粒度的試樣的截取需遵循一定的原則，對于有加工變形晶粒的試樣其檢驗(yàn)面一般平行于加工方向，必要時(shí)可以垂直于加工方向，等軸晶晶粒的試樣可隨機(jī)選取檢驗(yàn)面。
測試要求：
測試標(biāo)準(zhǔn) | 標(biāo)準(zhǔn)名稱 | 樣品要求 | 測試內(nèi)容 | 適用范圍 |
GB/T 6394-2017 | 金屬平均晶粒度測定方法 | 鋼件半徑或邊長1/2處截取，推薦試樣尺寸10mm*10mm（避開有剪切、加熱影響的區(qū)域） | 晶粒度級(jí)別數(shù) （特殊要求可加出，晶粒平均截距,單位面積內(nèi)晶粒數(shù)） | 適用于鐵素體鋼，奧氏體鋼及銅，鋁，鎂，鋅和鎳等金屬材料及制品 |
ASTM E112-2013 | 平均晶粒度測定的試驗(yàn)方法標(biāo)準(zhǔn) | 五個(gè)測試區(qū)域，小的拋光面積達(dá)到160mm2 | ||
YS/T 347-2004 | 銅及銅合金 平均晶粒度測定方法 | 板帶材：取15mm*15mm正方形樣 管棒材：沿軸向取10mm到15mm長圓環(huán)樣或圓片樣 | 適用于銅及銅合金材料及制品 |
檢測流程步驟
溫馨提示：以上內(nèi)容僅供參考使用，更多檢測需求請咨詢客服。
