測(cè)試項(xiàng)目：能譜分析。
測(cè)試目的：定性或定量的對(duì)試樣微區(qū)的元素含量和元素組成進(jìn)行分析。
項(xiàng)目介紹：當(dāng)一種高能量電子束作用到一個(gè)試樣上時(shí)會(huì)產(chǎn)生X射線，這種X射線隨著試樣中不同的化學(xué)組成（原子類(lèi)別）特征而具有不同的能量（波長(zhǎng)）。每種元素的X射線強(qiáng)度與該元素在試樣中的含量相關(guān)。本測(cè)試正是通過(guò)能譜法來(lái)檢測(cè)這些特征X射線的強(qiáng)度來(lái)得到元素的組成和含量。能譜分析的特點(diǎn)：無(wú)損傷分析，分析速度快。
測(cè)試要求：
測(cè)試標(biāo)準(zhǔn) | 標(biāo)準(zhǔn)名稱(chēng) | 樣品要求 | 測(cè)試內(nèi)容 | 適用范圍 |
GB/T 17359-2012 | 微束分析 能譜法定量分析 | 分析材料應(yīng)在變化壓力下和電子束轟擊下穩(wěn)定。樣品測(cè)試表面應(yīng)平整無(wú)污染。 | 測(cè)定元素含量 | 質(zhì)量分?jǐn)?shù)高于1%的元素；分析原子序數(shù)大于10的元素分析置信度更高 |
ASTM E1508-2012a(2019) | 能譜法定量分析指南 | 分析材料應(yīng)在變化壓力下和電子束轟擊下穩(wěn)定。樣品測(cè)試表面應(yīng)平整無(wú)污染。 | EDS測(cè)定單質(zhì)濃度 | 元素含量高于或等于0.1%時(shí)分析更快更準(zhǔn)確 |
檢測(cè)流程步驟
溫馨提示：以上內(nèi)容僅供參考使用，更多檢測(cè)需求請(qǐng)咨詢(xún)客服。
