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金屬及非金屬材料檢測(cè)項(xiàng)目標(biāo)準(zhǔn)匯總

檢測(cè)報(bào)告圖片樣例

金屬及非金屬材料檢測(cè)報(bào)告如何辦理?測(cè)試哪些項(xiàng)目?測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)有哪些?百檢也可依據(jù)相應(yīng)檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)或者根據(jù)您的需求設(shè)計(jì)檢測(cè)方案。我們只做真實(shí)檢測(cè)。

檢測(cè)項(xiàng)目:

金屬斷口微觀形貌、顆粒粒徑、形貌測(cè)定、微米級(jí)長(zhǎng)度、無(wú)機(jī)化工產(chǎn)品晶型結(jié)構(gòu)、化合物及貴金屬納米定性分析、物相組成定性分析、形貌分析、工業(yè)射線層析成象(CT)

檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn):

1、JY/T0581-2020 透射電子顯微鏡方法通則

2、JY/T 011-1996 透射電子顯微鏡方法通則

3、JY/T0584-2020 掃描電子顯微鏡分析方法通則

4、GB/T19500-2004 X射線光電子能譜分析方法通則

5、JY/T 010-1996 分析型掃描電子顯微鏡方法通則

6、GB/T16594-2008 微米級(jí)長(zhǎng)度的掃描電鏡測(cè)量方法

7、GB/T 30904-2014 無(wú)機(jī)化工產(chǎn)品 晶型結(jié)構(gòu)分析 X射線衍射法

8、JY/T010-1996 分析型掃描電子顯微鏡方法通則

9、GB/T30904-2014 無(wú)機(jī)化工產(chǎn)品晶型結(jié)構(gòu)分析X射線衍射法

10、JY/T0570-2020 紫外和可見吸收光譜方法通則

11、GB/T 16594-2008 微米級(jí)長(zhǎng)度的掃描電鏡測(cè)量方法

12、GJB 5312-2004 工業(yè)射線層析成象(CT)檢測(cè)

檢測(cè)報(bào)告用途

商超入駐、電商上架、內(nèi)部品控、招投標(biāo)、高??蒲械?。

檢測(cè)報(bào)告有效期

一般檢測(cè)報(bào)告上會(huì)標(biāo)注實(shí)驗(yàn)室收到樣品的時(shí)間、出具報(bào)告的時(shí)間。檢測(cè)報(bào)告上不會(huì)標(biāo)注有效期。常規(guī)來(lái)說(shuō)只要測(cè)試沒(méi)更新,測(cè)試不變檢測(cè)報(bào)告一直有效。如果是用于過(guò)電商平臺(tái),一般他們只認(rèn)可一年內(nèi)的。所以還要看平臺(tái)或買家的要求。

檢測(cè)費(fèi)用價(jià)格

因測(cè)試項(xiàng)目及實(shí)驗(yàn)復(fù)雜程度不同,具體請(qǐng)聯(lián)系客服確定后進(jìn)行報(bào)價(jià)。

檢測(cè)流程步驟

檢測(cè)流程步驟

溫馨提示:以上內(nèi)容僅供參考使用,更多檢測(cè)需求請(qǐng)咨詢客服。

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