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GB/T15651.3-2003半導(dǎo)體分立器件和集成電路第5-3部分:光電子器件測試方法

檢測報告圖片樣例

標(biāo)準(zhǔn)簡介:本部分適用于光電子器件的測試方法,用于光纖系統(tǒng)或子系統(tǒng)的除外。

標(biāo)準(zhǔn)號:GB/T 15651.3-2003

標(biāo)準(zhǔn)名稱:半導(dǎo)體分立器件和集成電路 第5-3部分:光電子器件 測試方法

英文名稱:Discrete semiconductor devices and integrated circuits—Part 5-3:Optoelectronic devices—Measuring methods

標(biāo)準(zhǔn)類型:國家標(biāo)準(zhǔn)

標(biāo)準(zhǔn)性質(zhì):推薦性

標(biāo)準(zhǔn)狀態(tài):現(xiàn)行

發(fā)布日期:2003-01-01

實施日期:2004-08-01

中國標(biāo)準(zhǔn)分類號(CCS):電子元器件與信息技術(shù)>>光電子器件>>L50光電子器件組合

國際標(biāo)準(zhǔn)分類號(ICS):電子學(xué)>>31.260光電子學(xué)、激光設(shè)備

起草單位:華禹光谷股份有限公司半導(dǎo)體廠

歸口單位:全國半導(dǎo)體器件標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會

發(fā)布單位:國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗檢疫.

檢測流程步驟

檢測流程步驟

溫馨提示:以上內(nèi)容僅供參考使用,更多檢測需求請咨詢客服。

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