標(biāo)準(zhǔn)簡介：本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了電子背散射衍射分析方法。本標(biāo)準(zhǔn)適用于安裝了電子背散射衍射附件的掃描電鏡和電子探針進(jìn)行物相識別、晶體取向、顯微織構(gòu)以及晶界特性等方面的分析。

標(biāo)準(zhǔn)號：GB/T 19501-2013

標(biāo)準(zhǔn)名稱：微束分析 電子背散射衍射分析方法通則

英文名稱：Microbeam analysis—General guide for electron backscatter diffraction analysis

標(biāo)準(zhǔn)類型：國家標(biāo)準(zhǔn)

標(biāo)準(zhǔn)性質(zhì)：推薦性

標(biāo)準(zhǔn)狀態(tài)：現(xiàn)行

發(fā)布日期：2013-07-19

實施日期：2014-03-01

中國標(biāo)準(zhǔn)分類號（CCS）：化工>>化工綜合>>G04基礎(chǔ)標(biāo)準(zhǔn)與通用方法

國際標(biāo)準(zhǔn)分類號（ICS）：化工技術(shù)>>分析化學(xué)>>71.040.50物理化學(xué)分析方

替代以下標(biāo)準(zhǔn)：替代GB/T 19501-2004

起草單位：寶鋼集團(tuán)中央研究院

歸口單位：全國微束分析標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會( SAC/TC 38)

發(fā)布單位：國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗檢疫.

檢測流程步驟

溫馨提示：以上內(nèi)容僅供參考使用，更多檢測需求請咨詢客服。