標(biāo)準(zhǔn)簡(jiǎn)介：本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了綜合沖擊、碰撞或自由跌落與高溫或低溫試驗(yàn)的試驗(yàn)條件、條件試驗(yàn)、試驗(yàn)程序及環(huán)境試驗(yàn)標(biāo)記。本標(biāo)準(zhǔn)適用于光學(xué)儀器、裝有光學(xué)零部件的儀器和光學(xué)零部件。

標(biāo)準(zhǔn)號(hào)：GB 12085.13-1989

標(biāo)準(zhǔn)名稱：光學(xué)和光學(xué)儀器環(huán)境試驗(yàn)方法 綜合沖擊、碰撞或自由跌落與高溫或低溫

英文名稱：Optics and optical instruments-Environmental test methods-Combined shock,bump or freefall,dry heat or cold

標(biāo)準(zhǔn)類型：國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)

標(biāo)準(zhǔn)性質(zhì)：強(qiáng)制性

標(biāo)準(zhǔn)狀態(tài)：作廢

發(fā)布日期：1989-01-02

實(shí)施日期：1990-08-01

中國(guó)標(biāo)準(zhǔn)分類號(hào)（CCS）：儀器、儀表>>光學(xué)儀器>>N30光學(xué)儀器綜合

國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)分類號(hào)（ICS）：計(jì)量學(xué)和測(cè)量、物理現(xiàn)象>>17.180光學(xué)和光學(xué)測(cè)量

替代以下標(biāo)準(zhǔn)：被GB/T 12085.13-2010代替

起草單位：上海光學(xué)儀器所和貴陽(yáng)光電技術(shù)研究所

歸口單位：全國(guó)光學(xué)和光子學(xué)標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)

發(fā)布單位：國(guó)家技術(shù)監(jiān)督局

檢測(cè)流程步驟

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