標(biāo)準(zhǔn)簡介：本部分規(guī)定了彈跳或恒加速度與高溫或低溫綜合試驗(yàn)的試驗(yàn)條件、條件試驗(yàn)、試驗(yàn)程序及環(huán)境試驗(yàn)標(biāo)記。本部分適用于光學(xué)儀器、裝有光學(xué)零部件的儀器和光學(xué)零部件。本試驗(yàn)?zāi)康氖茄芯吭嚇拥墓鈱W(xué)、熱學(xué)、化學(xué)和電氣等性能受到彈跳或恒加速度與高溫、低溫影響時(shí)的變化程度。

標(biāo)準(zhǔn)號：GB/T 12085.16-2010

標(biāo)準(zhǔn)名稱：光學(xué)和光學(xué)儀器　環(huán)境試驗(yàn)方法　第16部分：彈跳或恒加速度與高溫、低溫綜合試驗(yàn)

英文名稱：Optics and optical instruments—Environmental test methods—Part 16:Combined bounce or steady-state acceleration and dry heat or cold

標(biāo)準(zhǔn)類型：國家標(biāo)準(zhǔn)

標(biāo)準(zhǔn)性質(zhì)：推薦性

標(biāo)準(zhǔn)狀態(tài)：現(xiàn)行

發(fā)布日期：2011-01-14

實(shí)施日期：2011-05-01

中國標(biāo)準(zhǔn)分類號（CCS）：儀器、儀表>>光學(xué)儀器>>N30光學(xué)儀器綜合

國際標(biāo)準(zhǔn)分類號（ICS）：成像技術(shù)>>37.020光學(xué)設(shè)備

替代以下標(biāo)準(zhǔn)：替代GB/T 12085.16-1995

起草單位：上海理工大學(xué)、寧波永新光學(xué)股份有限公司

歸口單位：全國光學(xué)和光子學(xué)標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(SAC/TC 103)

發(fā)布單位：國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫.

檢測流程步驟

溫馨提示：以上內(nèi)容僅供參考使用，更多檢測需求請咨詢客服。